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公开(公告)号：CN105277577A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510796132.4
申请日：2015-11-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N30/7206 , G01B15/00 , G01N23/085 , G01N2030/8452
Abstract: 本发明提供一种暗室式安检设备和使用该安检设备进行检查的方法。暗室式安检设备包括构成密闭的暗室的壳体和壳体内部的部件，壳体内部的部件包括：采样系统，采样系统包括传送装置、检测被检物体的位置的X射线检测装置以及用于采集样品的样品采集装置，其中X射线检测装置用于确定被检物体在到达采样系统内的相应位置，以便与传送装置一起将被检物体传送至期望的位置；样品处理系统；其中，采样系统、样品处理系统以及样品检测系统通过连接件连通。本发明的安检设备能够方便、快速、有效地取样和检测，不拆包，不破坏待检物品，适合于机场、海关等对违禁物品的快速筛查检测。
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公开(公告)号：CN104865279A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201410065723.X
申请日：2014-02-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于海关监管物项的快速检查方法，包括步骤：将待检物品以通关包装形式通过辐射成像检查单元以进行检查，以将待检物品归类为合格货物和可疑货物，其中所述合格货物直接进入海关通关流程；将所述可疑货物通过拉曼光谱检测单元进行检查，以识别被检测物品的物质名称，并将待检物品经过所述拉曼光谱检测单元检测后被归类为海关监管物质和非海关监管物质，其中：所述海关监管物质直接进入海关通关流程；以及所述非海关监管物质不进入海关通关流程。本发明还提供一种用于海关监管物项的快速检查设备。
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公开(公告)号：CN104750697A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310734306.5
申请日：2013-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G06F17/3028 , G01V5/0058 , G06F17/30247 , G06F17/30274 , G06K9/4642 , G06K9/4671 , G06K9/4676 , G06K9/6263 , G06T7/001 , G06T7/0014 , G06T2207/10064 , G06T2207/30004 , G06T2207/30112
Abstract: 公开了一种基于透视图像内容的检索系统,包括：预分类模块,用于对透视图像进行预分类处理，将所述透视图像划分为纹理图像和非纹理图像两类；图像内容特征提取模块，用于对所述透视图像内容进行特征提取；图像表征模块，用于对所述透视图像内容的特征描述向量进行整合，构建图像表征向量；检索模块，用于基于检索模型从图像表征数据库中检索到与所检索的图像表征向量相似度较高的若干幅图像，从而构建初级候选结果；多样性过滤模块，用于对所述初级候选结果进行过滤，挑选出可以覆盖多个货物种类的图像子集，从而构成多样性的检索结果；相关度反馈调节模块，用于接受用户对检索结果的信息反馈，并进行检索模型的更新；以及交互模块，用于显示检索结果并采集用户对检索结果的满意程度的反馈。
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公开(公告)号：CN104749604A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310746145.1
申请日：2013-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T1/202
CPC classification number: G01T1/2002 , G01T1/2008
Abstract: 本发明公开了一种背散射闪烁探测器装置，包括：闪烁晶体探测器；设置在闪烁晶体探测器前端的X射线增感屏，来自被探测对象的背散射X射线与X射线增感屏作用之后，至少部分入射到闪烁晶体探测器上；以及设置在闪烁晶体探测器后端的光电倍增管，其用于收集来自闪烁晶体探测器的光信号，并将其转化成电信号。通过采用上述优选实施方式，其将X射线增感屏、闪烁晶体探测器、光导、移波等技术融合在一体组成新颖的闪烁探测器，使X射线背散射探测器等更加有效探测射线、使光信号更加有效传导和转换成电信号输出，从而简化了设备的结构和成本，同时极大提高了设备的探测效率和检测精度。
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公开(公告)号：CN102595754B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201210003988.8
申请日：2012-01-06
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明实施例公开了一种辐射器件安装箱、油冷循环系统以及X射线发生器，涉及X射线发生器技术领域。解决了现有技术所提供的X射线发生器存在密封性欠佳以及X射发生器箱体笨重或X射线泄露剂量大的技术问题。该辐射器件安装箱，包括箱体以及与箱体固定连接的准直器，准直器上开设有出束孔，箱体上开设有出束口，该辐射器件安装箱还包括设置于箱体内的防护装置；准直器与防护装置为一体式结构，或者，准直器与防护装置为固定连接在一起的两个单独部件；每一层防护装置均开设有射线出口，且射线出口、出束孔以及出束口三者同轴。该X射线发生器包括上述本发明提供的油冷循环系统。本发明用于提高辐射器件安装箱的密封性和防射线泄露性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104535022A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410778507.X
申请日：2014-12-15
Applicant: 清华大学
IPC: G01B15/06
CPC classification number: G01B15/06
Abstract: 本发明提出一种基于宇宙线的材料形变的检测方法，包括以下步骤：获取宇宙线穿过材料的偏转角度分布和入、出射位置以作为假设检验的数据来源；根据假设检验的数据来源设计零假设和备择假设，并通过假设检验的方法进行分析；根据分析结果判断偏转角度分布是否存在显著差异；如果偏转角度分布存在显著差异，则判定材料发生形变；若已判断材料发生了形变，则根据做出此判断所需的数据量，计算材料的形变量的大小。本发明的方法缩短了宇宙线判断材料形变所需时间，提高材料形变无损检测的效率。本发明还提供了一种基于宇宙线的材料形变的检测系统。
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公开(公告)号：CN102565110B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201010624252.3
申请日：2010-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/203
CPC classification number: G01N23/203 , G01N2223/3301 , G01V5/0025 , G21K1/043
Abstract: 本发明公开了一种背散射成像用射线束的扫描装置，包括：辐射源；固定屏蔽板和旋转屏蔽体，固定屏蔽板上设置有允许来自辐射源的射线束穿过固定屏蔽板的射线通过区域，旋转屏蔽体上分别设置有射线入射区域和射线出射区域，固定屏蔽板的射线通过区域为直线缝隙，旋转屏蔽体为圆柱体，射线入射区域和射线出射区域分别为沿螺旋线设置的一系列离散小孔，其中：旋转屏蔽体的旋转轴线位于辐射源和固定屏蔽板上的直线缝隙共同限定的平面上，其特征在于：通过控制旋转屏蔽体上的一系列离散小孔的不同位置的形状和大小，可以控制扫描准直孔在不同位置的形状和大小，以控制穿过扫描准直孔出现到被检测对象上的射线束的形状和大小。
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公开(公告)号：CN104360375A
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201410743721.1
申请日：2014-12-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明的便携式低温半导体探测器装置具备：探测器晶体；高气压晶体保护室，在内部充满高压超纯惰性气体并容纳有所述探测器晶体；真空室，内部为真空环境并容纳有所述高气压晶体保护室；制冷装置，包括制冷机和与所述制冷机相连的制冷机冷指，用于冷却所述探测器晶体。
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公开(公告)号：CN104257397A
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201410517688.0
申请日：2014-09-30
Applicant: 清华大学
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明提供一种X光机与探测器几何位置关系的标定方法，包括：在成像区域内放置至少两个小球，并记录两个小球之间的距离d及两个小球分别与探测器平面之间的距离；任意选择数字式X射线投影图中的一幅，记录两个小球A、B的位置信息所对应的投影位置C、D；估测X光机的初始X坐标Px以及Y坐标Py，根据几何成像关系计算得到X光机的Z坐标Pz；根据几何成像关系及X光机的Z坐标Pz，计算得到两个小球的X、Y坐标Ax、Ay及Bx、By；利用两个小球A、B的三维坐标及两个小球A、B的投影C、D，根据成像几何关系得到所有数字式X射线投影图中X光机的位置。
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公开(公告)号：CN103954986A
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201410154929.X
申请日：2014-04-17
Applicant: 清华大学
IPC: G01T1/00
Abstract: 本发明提出一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出方法，包括以下步骤：通过复用读出转接板对高位置分辨MRPC探测器的读出电极条进行双精细复用，并由复用读出转接板输出处理后的信号；使用模拟或数字方法得到读出转接板输出脉冲波形的幅度、时间以及电荷量；根据电荷量通过入射点位置重建算法重建高位置分辨MRPC探测器的入射点的位置。本发明实施例的方法能够在实现高位置分辨能力的同时，大幅简化读出电子学系统。本发明还提供了一种高位置分辨MRPC探测器的复用读出系统。
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