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公开(公告)号：CN112050765B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202010506921.0
申请日：2020-06-05
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种测定测头的不良状况判定单元及其不良状况判定方法。一种测定测头的不良状况判定单元，该测定测头具备：测针，其具有与被测定物接触的接触部；四个检测元件，其能够检测接触部的移动；以及信号处理部，其对从四个检测元件的输出获得的生成信号进行处理，来输出触碰信号，该测定测头的不良状况判定单元具备：不良状况判定部，其在被测定物不与接触部接触的状态下，将与生成信号对应的四个判定信号同规定的阈值进行比较，如果任一个判定信号大于规定的阈值，则判定为存在不良状况；以及判定结果输出部，其输出不良状况判定部的判定结果。由此，能够通过简单的结构来确保测定的可靠性。
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公开(公告)号：CN113008789B
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202011504114.1
申请日：2020-12-18
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： R.K.布莱尔
Abstract: 一种设有透明工件表面模式的计量系统，对于该计量系统，该系统被配置为在沿着Z高度方向靠近工件的多个位置上改变聚焦位置。获取图像堆栈，其中图像堆栈的每个图像包括透明或半透明的第一表面(例如工件的上表面)以及通过第一表面至少部分可观察的至少第二表面。基于图像堆栈确定多个聚焦曲线(例如，其中利用图案投影来提高对比度)，对于该多个聚焦曲线，可以确定每个聚焦曲线中分别对应于第一表面、第二表面等的第一局部聚焦峰、第二局部聚焦峰等。显示包括所选择表面的图像，并且对于该图像，可以测量所选择/所显示的表面的特征。
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公开(公告)号：CN114367973A
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202111196686.2
申请日：2021-10-14
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： M.那鸿
Abstract: 提供了一种用于机器人的补充计量位置确定系统。机器人包括活动臂结构和运动控制系统，运动控制系统被配置为以机器人精度(即，基于机器人中包括的传感器)控制端部工具位置。补充系统包括相机和2D标尺，它们中的每一个都附接到活动臂结构(例如，附接到臂部和/或旋转关节上)。相机可操作以采集用于确定标尺的相对位置的图像。标尺可以耦合到旋转关节(例如，可用于确定旋转运动以及横向于旋转轴线的任何运动)和/或耦合到臂部(例如，可用于确定臂部的任何弯曲或扭曲)。此类信息可用于实现更高的精度(例如，用于机器人的测量操作和/或控制等)。
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公开(公告)号：CN110220469B
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN201910154755.X
申请日：2019-03-01
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： H·海特杰马 , 亨德瑞克·凯特拉尔斯
IPC: G01B11/12
Abstract: 本发明提供用于透明管的内径测量的方法和设备。在用于测量透明管状物体的性质的方法和设备中，激光束扫描物体，并且在平行于激光束方向的第一检测方向上、或者在该第一检测方向上和与该第一检测方向成角度、特别是90°的第二检测方向上检测源自物体的激光光。可以根据折射率、扫描速度、在第一检测方向上和第二检测方向上检测到的外径、以及从物体的外表面反射的激光光与折射到物体中并在物体的内表面反射的激光光之间的时间差，来计算物体的内半径。如果在第一检测方向上检测折射到物体中并在该物体的内表面反射的激光光的时间是已知的，则不需要折射率。
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公开(公告)号：CN114114290A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202110895511.4
申请日：2021-08-05
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 氏原大希
Abstract: 一种数据校正装置400，包括：获取部件410，其从测量装置100获取测量数据，测量装置100能够在移动至少一个(i)待测对象10或(ii)测量装置100的至少一部分中的至少一个的同时周期性地测量距离，测量数据中，距离的第一测量结果以时间序列布置，并且在待测对象10和测量装置100处于静止状态时通过测量距离而获得的第二测量结果布置在第一测量结果的头部或尾部；以及校正部件430，其通过将测量数据应用于基于测量装置的测量结果的时间导数的递推公式来校正测量数据中包括的误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109959333B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN201811532330.X
申请日：2018-12-14
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该方法通过使用由激光干涉仪测量的可测量长度值和由定位机构测量的空间坐标的测量值来校正定位机构中的定位误差。该方法包括：测量步骤，其中将固定到移位器的后向反射器移动到多个测量点，并且获取各测量点处的测量长度值和测量值；以及参数计算步骤，其中基于测量值、测量长度值和追踪型激光干涉仪的转动中心的坐标来计算校正参数。针对各测量线向测量长度值应用第一校正常数，并且针对各测量线向干涉仪的转动中心的坐标应用与第一校正常数不同的第二校正常数。
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公开(公告)号：CN113869345A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202110734429.3
申请日：2021-06-30
Applicant: 株式会社三丰 , 三丰欧洲有限责任公司
Inventor： 蒂尔马丁·布鲁克多夫
IPC: G06K9/62
Abstract: 本发明涉及一种用于过滤测量数据集的方法和计算机程序产品，数据集能够用于指定和/或验证工件(100)的内部特征(10)，所述方法包括：提供包括所述内部特征(10)的多个测量点(P)的测量数据集；提供表示对所述工件(100)的内部特征(10)的理想估计的辅助特征(30)；关于所述辅助特征的边界元素对所述测量数据集的各测量点(P)进行镜像，由此生成包括多个第一修改测量点(P’)的第一修改数据集；确定第一修改测量点(P’)的凸包(H)，并将所述第一修改测量点(P’)投影到所确定的凸包(H)，由此生成包括多个第二修改测量点(P”)的第二修改数据集；以及关于辅助特征(30)的边界元素对各第二修改测量点(P”)进行镜像，由此生成包括多个过滤后的测量点(P”’)的过滤后的测量数据集。
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公开(公告)号：CN113866165A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202110646169.4
申请日：2021-06-10
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种工件检查和缺陷检测系统包括：光源；透镜，所述透镜输入由工件的表面引起的图像光；以及相机，所述相机接收沿着成像光路透射的成像光。所述系统利用用所述相机获取的工件的图像作为训练图像来训练缺陷检测部分以检测包括具有缺陷的工件的缺陷图像。基于所述训练图像的特征来确定异常检测器分类特性。用所述相机获取工件的运行模式图像，并且基于从所述图像中确定的特征，利用所述异常检测器分类特性来确定所述工件的图像是否被分类为异常的。另外，所述缺陷检测部分确定图像是否是包括具有缺陷的工件的缺陷图像，并且对其可执行附加操作(例如，用于测量所述缺陷的尺寸的量测操作等)。
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公开(公告)号：CN111380470B
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN201911256393.1
申请日：2019-12-10
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： J.D.托比亚森
IPC: G01B11/06
Abstract: 一种利用机器视觉检查系统来测量工件表面的Z高度值的方法，包括：利用结构化光照射工件表面，收集工件的图像的至少两个堆栈，每个堆栈包括在每个堆栈中对应的Z高度处的、结构化光和工件表面之间的不同X‑Y位置，以及基于与在X‑Y平面中的相同工件位置相对应且处于相同Z高度的像素的强度值的集合来确定Z值。在图像的每个堆栈中，以比Z高度慢的速率改变X‑Y位置，并且X‑Y位置或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间以比Z移位慢的速率连续改变，或者在至少两个堆栈中的每个堆栈期间固定为不同的值。
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