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公开(公告)号：CN106199371B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201610884239.9
申请日：2016-10-11
申请人： 厦门大学
摘要： 利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的方法及装置，涉及交流发光二极管热阻和结温测试。利用交流脉冲测量AC‑LED热阻和结温的装置设有信号发生器、电压/电流放大器、示波器、控温台、电流/电压探头、积分球、光谱仪；信号发生器的输出端接电压/电流放大器的输入端，电压/电流放大器的输出端接待测AC‑LED，待测AC‑LED固定在控温台上，电流/电压探头接控温台，电流/电压探头的信号输出端接示波器，积分球与待测AC‑LED连接，积分球的光功率输出端接光谱仪。利用正负窄脉冲对结温几乎不影响，对比相同幅值的方波信号，调整热沉温度使两者幅值相等，确定热沉与PN结温差及热阻。
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公开(公告)号：CN109186946A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811119101.5
申请日：2018-09-25
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01M11/00
摘要： 发光器件微区光度和色度学参数的测量方法及其测量装置，涉及发光器件光度和色度学参数测量领域。发光器件微区光度和色度学参数的测量装置包括辐亮度光源校准系统和显微高光谱成像测试系统，辐亮度光源校准系统包括光谱仪、光谱辐亮度探头、积分球和卤钨灯光源；所述显微高光谱成像测试系统包括高光谱成像仪、显微镜、控温电源和驱动电源；首先获取均匀发光平面的光谱辐亮度分布校准文件，然后校准显微高光谱成像测试系统，最后测试并计算待测样品的光度和色度参数；本发明可解决发光器件或微显示阵列的二维表面光度、色度学及均匀性测量分析问题，快速全面检测器件发光质量。
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公开(公告)号：CN106784258B
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201710154359.8
申请日：2017-03-15
申请人： 厦门大学
摘要： 晶圆级封装LED，涉及LED封装。设有LED芯片、透镜、透镜粘结层，LED芯片设衬底层、掺杂半导体层、半导体发光层、导电反光层、电极、绝缘层和包覆介质，半导体发光层设于第一和第二掺杂半导体层之间，导电反光层设于第二掺杂半导体层下方，第二电极通过导电反光层实现与第二掺杂半导体层之间的电导通，第一电极与第一掺杂半导体层直接连接，第一电极与半导体发光层、第二掺杂半导体层、导电反光层之间由绝缘层绝缘，包覆介质设于LED芯片侧壁的非衬底区域，衬底层内部设有过孔，过孔内壁设高反射率层，透镜包括平板部和光耦合部，平板部固定至衬底层上，光耦合部设于衬底层内的过孔内，且光耦合部的光接收面朝向第一掺杂半导体层。
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公开(公告)号：CN106770988A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710154357.9
申请日：2017-03-15
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01N33/00
CPC分类号： G01N33/00
摘要： 基于量子点的强极性溶剂快速检测装置，涉及传感器。设有量子点复合膜和承载板，量子点复合膜为包覆量子点的高分子聚合物薄膜，量子点具有钙钛矿结构，其化学式为ABX(m)Y(3‑m)(A＝CH3NH3+，HC(NH2)2+；B＝Pb2+，Sn2+；X，Y＝Br─，Cl─，I─，0≤m≤3)，量子点复合膜贴合于承载板的上表面，承载板包括金属反光层、壳体和控温模块，金属发光层设置于贴合量子点复合膜的壳体外表面，控温模块包括工作介质模块和控制模块，工作介质模块设置于壳体内部，控制模块设置于壳体外部，所述壳体具有良好的导热能力以便通过操作控温模块工作介质模块能够改变量子点复合膜的温度。
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公开(公告)号：CN118431380A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410583613.6
申请日：2024-05-11
申请人： 厦门大学
摘要： 本发明涉及半导体显示技术领域，具体公开了一种应用于Micro‑LED的量子点色转换层的制备方法，包括以下步骤：根据所需转光层的尺寸，制备相应通孔尺寸和相应间隔的通孔玻璃，在未通孔区域表面电镀或沉积一层金属层作为挡光层；将通孔玻璃下表面水平接触量子点溶液液面，量子点溶液进入通孔玻璃的通孔中，之后移开通孔玻璃,待量子点溶液挥发后，在通孔中沉积留下量子点，完成色转换阵列的制备；利用原子层沉积技术或旋涂薄膜中的至少一种对色转换阵列进行保护。本发明利用通孔玻璃通孔的毛细作用，将量子点溶液迅速吸附进通孔中，可以极大提高制备效率，显著降低技术加工成本。
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公开(公告)号：CN117766648A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410066909.0
申请日：2024-01-17
申请人： 厦门大学
摘要： 本发明公开了一种绿光mini‑LED及其制备方法，外延结构由下至上包括衬底、AlN缓冲层、无意掺杂u‑GaN层、n‑AlxGa1‑xN层、InGaN/GaN超晶格层、绿光多量子阱发光层和p型层；所述外延结构通过台面蚀刻至裸露n‑AlxGa1‑xN层，n电极和p电极分别设于n‑AlxGa1‑xN层和p型层上。本发明通过低电阻率n‑AlGaN层的设计，在不影响绿光多量子阱质量以及内量子效率(IQE)的前提下，由于串联电阻的减小以及更加均匀的电流分布，采用n‑AlGaN层的绿光微型led的正向电压降低，而LOP和WPE得到了显著提高。
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公开(公告)号：CN117210907A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311157655.5
申请日：2023-09-08
申请人： 厦门大学
摘要： 本发明公开了一种制备全彩化Micro‑LED显示器件的多色量子点电泳沉积系统，包括溶液池，量子点溶液存储单元、气压控制单元、干燥气体单元、废液收集单元、电压集成分配控制单元和清洗喷淋单元；量子点溶液存储单元包括多个量子点溶液存储装置，电压集成分配控制单元包括位于正负电极之间的若干控制开关，各控制开关分别连接不同的待沉积区域线路，并通过控制开关切换待沉积区域线路的正负电压连接关系实现不同待沉积区域的量子点沉积。本发明还公开了基于上述多色量子点电泳沉积系统的全彩化Micro‑LED显示器件制备方法，颜色转换效率高、制备速度快、可实现大面积的量子点的沉积同时节约了时间成本，适合于大规模工业化生产，加快全彩化显示的进程。
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公开(公告)号：CN113539153B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202110847893.3
申请日：2021-07-27
申请人： 厦门大学
摘要： 一种四原色显示屏坏点的修复方法，涉及显示屏坏点的修复。1)设计一种四原色像素排列方案，使每个子像素周围具有一个相同颜色的子像素，以确保子像素出现坏点时，能借用周围相同颜色的子像素完成显示；2)计算人眼在一定距离下对像素点的分辨极限；3)利用光学仿真软件搭建显示阵列以及探测平面，显示阵列模拟带有坏点子像素屏幕的显示效果，探测平面以坏点为中心，设置在显示阵列中坏点的近表面处，沿水平方向和竖直方向移动探测平面，记录覆盖区域内的光通量；4)拟合光学仿真软件中的数据，模拟没有坏点下探测平面移动中光通量的变化，改变坏点周围子像素的光通量权重，实现坏点修复。降低坏点带来的影响，修复方法更加快速便捷。
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公开(公告)号：CN114597303A
公开(公告)日：2022-06-07
申请号：CN202210184209.2
申请日：2022-02-23
申请人： 厦门大学
IPC分类号： H01L33/50 , H01L25/075 , G09F9/33
摘要： 本发明公开了一种可抑制咖啡环效应的颜色转换层，包括基板、封装盖板和量子点层；基板的上表面设有若干第一凹槽，量子点层包括一一形成于第一凹槽内的量子点单元；封装盖板键合于基板上，具有与第一凹槽配合的盖板单元，盖板单元分布有若干挥发孔，其中中心区域的挥发孔的分布密度大于边缘区域；基板的底部对应第一凹槽中心区域的热导率大于边缘区域。本发明还公开了其制作方法和应用。通过将设计有挥发通道的封装盖板与基板键合和对基板底部受热面的设计，实现了对溶剂挥发速率调控进而抑制咖啡环的目的，使量子点图案形貌更加规则、良好。
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公开(公告)号：CN114264452A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202111591246.7
申请日：2021-12-23
申请人： 厦门大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 一种微型发光器件阵列单像素的光色检测系统及检测方法，涉及微型发光器件阵列的光色检测。检测系统包括机械手臂、集光盖板、标准积分球光源、标准LED器件、显微高光谱成像光谱仪、电流源和计算机。使用二步式校准法进行检测系统相对和绝对响应曲线校准；测试微型发光器件阵列时，机械手臂控制集光盖板，使集光盖板上的通孔与微型发光器件阵列芯片一一对应，通过显微高光谱成像光谱仪测试并收集单颗芯片的图像和光谱信息，通过计算得微型发光器件阵列光度学和色度学参数。解决微型发光器件阵列单像素检测时光信号弱、像素间光串扰等问题，实现微型发光器件阵列单像素光通量、光功率绝对值批量快速检测，提升检测效率和准确性。
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