一种倒装深紫外发光二极管芯片
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115172565A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210814793.5

    申请日:2022-07-12

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: H01L33/48 H01L33/62 H01L33/14

    摘要: 本发明公开了一种倒装深紫外发光二极管芯片,包括区块式排列于一衬底上的若干发光二极管和覆盖所述若干发光二极管的绝缘层;各发光二级管分别包括半导体发光堆叠层、第一电极和第二电极,若干发光二极管通过电极连接形成串联的结构,并在电极连接处下方设有电子阻挡层;绝缘层对应串联的若干发光二极管两末端的电极设有开口,两末端的电极通过所述开口引出并与设于所述绝缘层上的第一焊盘和第二焊盘一一对应连接。这种结构增大了出光面积并改善了电流分布,提升了UVC‑LED的光效,提高了其杀菌消毒的能力。

    异质集成透明MicroLED显示装置及其制作方法

    公开(公告)号:CN113380777A

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202110534241.4

    申请日:2021-05-17

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: H01L25/16 H01L21/50

    摘要: 本发明公开了一种异质集成透明MicroLED显示装置及其制作方法,在异质集成透明MicroLED显示装置上设置有第一基板、第一晶体管、第二基板、栅/源极焊接模块,栅/源极焊接模块将第一基板、第二基板的对应电极焊接在一起,使得第一源极与第二接地焊盘电导通,第一栅极与第二源极电导通,能够有效增加装置的透光率。本发明提供的装置中第二基板与第一基板相对焊接,但第一绑定区和第二绑定区并不一一相对,能够有效的提高第一绑定区、第二绑定区与外接电路板焊接的成功率。

    一种四原色显示屏坏点的修复方法

    公开(公告)号:CN113539153A

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN202110847893.3

    申请日:2021-07-27

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: G09G3/00 G09F9/33

    摘要: 一种四原色显示屏坏点的修复方法,涉及显示屏坏点的修复。1)设计一种四原色像素排列方案,使每个子像素周围具有一个相同颜色的子像素,以确保子像素出现坏点时,能借用周围相同颜色的子像素完成显示;2)计算人眼在一定距离下对像素点的分辨极限;3)利用光学仿真软件搭建显示阵列以及探测平面,显示阵列模拟带有坏点子像素屏幕的显示效果,探测平面以坏点为中心,设置在显示阵列中坏点的近表面处,沿水平方向和竖直方向移动探测平面,记录覆盖区域内的光通量;4)拟合光学仿真软件中的数据,模拟没有坏点下探测平面移动中光通量的变化,改变坏点周围子像素的光通量权重,实现坏点修复。降低坏点带来的影响,修复方法更加快速便捷。

    异质集成透明MicroLED显示装置及其制作方法

    公开(公告)号:CN113380777B

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202110534241.4

    申请日:2021-05-17

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: H01L25/16 H01L21/50

    摘要: 本发明公开了一种异质集成透明MicroLED显示装置及其制作方法,在异质集成透明MicroLED显示装置上设置有第一基板、第一晶体管、第二基板、栅/源极焊接模块,栅/源极焊接模块将第一基板、第二基板的对应电极焊接在一起,使得第一源极与第二接地焊盘电导通,第一栅极与第二源极电导通,能够有效增加装置的透光率。本发明提供的装置中第二基板与第一基板相对焊接,但第一绑定区和第二绑定区并不一一相对,能够有效的提高第一绑定区、第二绑定区与外接电路板焊接的成功率。

    一种四原色显示屏坏点的修复方法

    公开(公告)号:CN113539153B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202110847893.3

    申请日:2021-07-27

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: G09G3/00 G09F9/33

    摘要: 一种四原色显示屏坏点的修复方法,涉及显示屏坏点的修复。1)设计一种四原色像素排列方案,使每个子像素周围具有一个相同颜色的子像素,以确保子像素出现坏点时,能借用周围相同颜色的子像素完成显示;2)计算人眼在一定距离下对像素点的分辨极限;3)利用光学仿真软件搭建显示阵列以及探测平面,显示阵列模拟带有坏点子像素屏幕的显示效果,探测平面以坏点为中心,设置在显示阵列中坏点的近表面处,沿水平方向和竖直方向移动探测平面,记录覆盖区域内的光通量;4)拟合光学仿真软件中的数据,模拟没有坏点下探测平面移动中光通量的变化,改变坏点周围子像素的光通量权重,实现坏点修复。降低坏点带来的影响,修复方法更加快速便捷。