一种功率芯片电气性能测试装置及批量测试装置

    公开(公告)号:CN116466216A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310333637.1

    申请日:2023-03-31

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明公开了一种功率芯片电气性能测试装置,包括:装置底座,包括底座壳体、集电极金属结构和集电极端子;压装电极,包括压装电极壳,压装电极壳上方设有发射极端子,压装电极壳底部设有发射极金属结构;压装电极壳的侧面设有栅极端子和栅极顶针;传动腔和按键,压装电极壳通过施压弹簧装配在传动腔内,传动腔内设有传动齿轮,传动齿轮的一侧与按键啮合,另一侧与压装电极壳啮合,传动腔底部通过旋转组件与装置底座连接,按压按键,压装电极抬升的同时传动腔下移,所述传动腔被旋转组件撑起,按压并平移按键将所述压装电极旋转至测试工位或等待工位。本发明能够保证对功率芯片电极的压接连接,保证连接界面压力一致性,提高测试效率。