一种授权认证方法及相关装置

    公开(公告)号:CN111740995B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202010572898.5

    申请日:2020-06-22

    Abstract: 本申请公开了一种授权认证方法及相关装置,方法包括:通过设备根据接收的加密数据包向服务器发送预置ID授权请求,促使服务器在验证预置ID授权请求通过后,向设备发送预置挑战随机数;通过设备根据预置挑战随机数生成当前响应值和助手数据,并通过预置ID、当前响应值、助手数据和预置挑战随机数计算得到认证哈希值;通过服务器根据预置挑战随机数对应的原始响应值和设备发送的助手数据得到验证响应值,若根据验证响应值、预置挑战随机数、助手数据以及设备发送的预置ID求得的验证哈希值与设备发送的认证哈希值一致,则认证成功。本申请解决了现有技术不仅占用较大的存储资源,还无法保证传输过程中的数据安全性的技术问题。

    一种拆回电能表外观质量检测装置、方法、设备和介质

    公开(公告)号:CN114202523A

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202111501743.3

    申请日:2021-12-09

    Abstract: 本申请公开了一种拆回电能表外观质量检测装置、方法、设备和介质,装置包括:图像采集箱和处理器;图像采集箱内设置有摄像头,摄像头,用于采集图像采集箱内的拆回电能表的电能表图像;处理器,包括:预处理单元,用于对电能表图像进行预处理;去噪单元,用于对预处理后的电能表图像进行图像膨胀处理,得到去噪电能表图像;比对单元,用于将去噪电能表图像与标准电能表图像进行比对,得到去噪电能表图像中与标准电能表图像不一致的像素点数量;检测单元,用于根据像素点数量确定拆回电能表的外观是否合格,输出拆回电能表的外观质量检测结果,改善了现有的拆回电能表外观质量检测依赖人工肉眼检测,存在检测效率低、准确率低的技术问题。

    密码芯片的激光注入测试方法、装置、设备和存储介质

    公开(公告)号:CN114185727A

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202111519548.3

    申请日:2021-12-13

    Abstract: 本申请公开了一种密码芯片的激光注入测试方法、装置、设备和存储介质,方法包括:采集被测密码芯片在对预置明文进行加密时的第一功耗数据;响应于激光注入指令,将预设激光信号注入至被测密码芯片;采集所述被测密码芯片注入激光信号后,对所述预置明文进行加密时的第二功耗数据;利用差分相关测试法,对所述第一功耗数据和所述第二功耗数据进行分析,得到所述被测密码芯片的激光注入结果;根据所述激光注入结果,得到所述被测密码芯片的激光注入测试结果。解决了现有技术中无密码芯片被激光注入时的有效测试方法的技术问题。

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