公开(公告)号：CN118779136A

公开(公告)日：2024-10-15

申请号：CN202310374334.4

申请日：2023-04-07

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 方泽龙 ,  林杰华 ,  吴兆鹏

IPC分类号： G06F11/07 ,  G06F11/14

摘要： 本申请公开了存储设备的数据处理方法、电子设备及存储介质，该数据处理方法包括：获取存储设备中的数据和逻辑映射表；其中，逻辑映射表中基于数据的写入逻辑生成；按照数据恢复指令对应的目标操作，重新调整逻辑映射表，并利用调整后的逻辑映射表重组数据；其中，目标操作包括回滚操作和/或删除操作。本申请的数据处理方法能够针对存储设备中的数据异常情况，提供一种可行的数据重组方式，提高了存储设备的数据稳定性。

公开(公告)号：CN118227398A

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN202211601060.X

申请日：2022-12-13

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 魏益新 ,  严冲喜 ,  纪凯鑫

IPC分类号： G06F11/26 ,  G06F11/28

摘要： 本申请提供一种存储设备的模拟方法及相关设备，所述方法包括：根据预设的映射规则，确定待处理数据对应的映射数据；若预设的读写命令模型输出的命令类型为写命令，将映射数据映射至第一闪存队列；和/或若读写命令模型输出的命令类型为读命令，确定存储在第一闪存队列中的映射数据的地址信息；根据地址信息，读取映射数据，触发所述主机端对所述映射数据与所述主机端的镜像数据进行比对，并接收所述主机端发送的比对结果。本申请能够提高模拟存储设备的模拟效率，进一步提高了开发该存储设备的效率。

公开(公告)号：CN117891648A

公开(公告)日：2024-04-16

申请号：CN202211223294.5

申请日：2022-10-08

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 魏益新

IPC分类号： G06F11/10 ,  G06F11/36

摘要： 本申请提供一种代码检测方法、存储设备及存储介质，所述方法包括：从存储设备的闪存中读取固件的代码，并将读取的代码和代码中每个编码单元的错误比特信息写入内存；在固件的所有代码写入内存后，运行固件，并从内存中获取读取代码过程中每个编码单元的错误比特信息；判断读取代码过程中每个编码单元的错误比特信息是否大于或等于错误检查和纠正阈值；及若读取代码过程中至少一个编码单元的错误比特信息大于或等于错误检查和纠正阈值，对至少一个编码单元对应的代码进行刷新。本申请可以保障固件正常运行，减少固件存在风险时的系统时延，提高固件的存储稳定性。

公开(公告)号：CN117476088A

公开(公告)日：2024-01-30

申请号：CN202210876147.1

申请日：2022-07-22

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 卞瑶 ,  刘星 ,  柳耿

IPC分类号： G11C29/56

摘要： 本发明公开了一种闪存的测试方法及测试设备，所述测试方法包括：通过所述控制系统与多个单片机通信，并将所述单片机模拟成一一对应的磁盘，获取每个所述单片机所连接的主控芯片的状态；通过所述控制系统将测试文件发送给指定的所述单片机；通过所述单片机发送所述测试文件至主控芯片；所述主控芯片解析所述测试文件，获取测试需求，进行测试，并反馈测试结果。通过硬件一拖多设备可以一次性测试多个闪存样品，通过软件一拖一可以单独进行测试和批量测试。

公开(公告)号：CN117409848A

公开(公告)日：2024-01-16

申请号：CN202210811907.0

申请日：2022-07-08

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 黄健华 ,  刘小龙

IPC分类号： G11C29/56 ,  G11C29/50 ,  G06F11/34 ,  G01K13/00

摘要： 本申请公开了存储装置的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。该方法包括：在当前环境温度到达预设温度时，向存储装置进行写操作，以写入第一目标数据；在第一目标数据写入完成后，向存储装置发送关闭刷新指令，以使存储装置关闭数据刷新功能；在到达预设时长后，读取第一目标数据，得到第二目标数据；基于第一目标数据和第二目标数据进行比较，得到比较结果；基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估，得到存储装置对应的评估结果。通过上述方式，实现对存储装置的数据保持能力评估，进而能够筛选出数据保持能力不合格的存储装置，提升存储装置的品质。

公开(公告)号：CN116932426A

公开(公告)日：2023-10-24

申请号：CN202210364105.X

申请日：2022-04-07

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 魏益新

IPC分类号： G06F12/1009 ,  G06F12/02

摘要： 本申请公开了一种存储数据的管理方法。其应用于存储装置。该方法包括：基于存储装置存储的数据，确定多个数据单元；确定每一数据单元对应的数据特征值，数据特征值用于标识数据内容的唯一性；将数据特征值相同的至少部分数据单元的逻辑地址重映射为指向同一物理地址，并释放至少部分数据单元对于其它物理地址的存储空间。本申请还公开了一种存储装置以及计算机可读存储装置。通过上述方式，本申请能够在擦写次数有限的情况下提高存储装置的使用寿命。

公开(公告)号：CN115985368A

公开(公告)日：2023-04-18

申请号：CN202111202190.1

申请日：2021-10-15

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 方轩 ,  谷朝

IPC分类号： G11C16/02 ,  G11C16/26

摘要： 本申请公开了一种电压控制方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。其中，该方法包括：在电压控制模式下，若接收到针对闪存的任一控制单元的读命令，则执行读命令；检测执行结果是否正确；若执行结果错误，则基于目标重读表更改控制单元的偏移电压，并发起重读操作得到新的执行结果，针对新的执行结果返回执行检测执行结果是否正确的步骤及后续步骤，其中，目标重读表为控制单元所对应的重读表，重读表存储有至少两个期望电压值；若执行结果正确，则保持控制单元当前的偏移电压，并根据控制单元当前的偏移电压更新重读表。通过本申请方案，可以一定程度降低重读操作的发起次数，减少出现闪存性能严重下降的情况。

公开(公告)号：CN115266762A

公开(公告)日：2022-11-01

申请号：CN202110481976.5

申请日：2021-04-30

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 张俊阳

IPC分类号： G01N21/954 ,  G01N21/01

摘要： 本申请涉及锡球检测技术领域，公开了锡球缺陷检测装置、方法、电子设备及存储介质。该锡球缺陷检测装置包括光源组件、图像采集组件和处理器，光源组件包括第一光源和第二光源，第一光源用于产生第一颜色光，第二光源用于产生第二颜色光，第一颜色光和第二颜色光的颜色不同，第一颜色光和第二颜色光用于照射待检测焊锡件；图像采集组件用于采集待检测焊锡件被第一颜色光和第二颜色光照射时的待检测图像；处理器与图像采集组件连接，用于接收待检测图像，并对待检测图像进行图像识别分析，以对待检测焊锡件进行缺陷检测。通过上述方式，能够提升对锡球缺陷检测的准确性以及检测效率。

公开(公告)号：CN113740699A

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：CN202010409440.8

申请日：2020-05-14

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 任楚建 ,  钟衍徽 ,  程振

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01K13/00

摘要： 本申请公开了一种测试座及其控制方法、测试装置及存储介质，该测试座包括底座、盖体和温控组件，其中，底座上设置有测试组件和弹针，盖体连接所述底座，且可相对于所述底座转动形成盖合状态或分离状态，所述盖体朝向所述底座的一侧设置有压块，用于在所述底座和所述盖体呈盖合状态时，对所述底座上放置的待测件进行按压，以使所述待测件与所述测试组件接触，温控组件设置于所述盖体和所述压块之间，用于通过所述压块进行热传导，对所述待测件进行温度检测和温度控制，并在所述底座和所述盖体呈盖合状态时，接触所述弹针以通过所述弹针连接外部电路板。通过上述方式，本申请能够在测试芯片时调节并采集芯片的温度，以准确管控芯片测试的温度条件。

公开(公告)号：CN109786265A

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201811572162.7

申请日：2018-12-21

申请人： 中山市江波龙电子有限公司

发明人： 钱芳斌 ,  付志平 ,  梁广庆 ,  邓恩华 ,  李志雄

IPC分类号： H01L21/50 ,  H01L21/56 ,  H01L21/66 ,  H01L23/31

摘要： 本申请公开了一种测量基板、封装器件、制备方法及信号测量的方法，所述测量基板包括：第一基层；测试电极，位于所述第一基层上，所述测试电极用于与封装基板或芯片上的待测信号焊盘电连接，以及与测试仪器的探针电连接。通过上述方式，本申请能够将测试电极预留在封装器件内部，降低待测信号焊盘与测试电极之间的距离。