一种金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统

    公开(公告)号:CN119780557A

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202411850992.7

    申请日:2024-12-16

    Abstract: 本发明属于电子设备故障处理技术领域,本发明公开了一种金属化薄膜电容器容量衰减处理方法及系统,包括:首先获取集成电路的历史数据,建立运行标准向量与元器件数据对应关系库;然后建立电路仿真模型,计算电容特征偏差向量;在检测到实时运行参数异常时,构建实时运行向量并从关系库中匹配相似历史状态,获取对应元器件数据;利用仿真模型得到仿真运行向量,并用电容特征偏差向量进行校正;通过分析校正运行向量与实时运行向量的相关性;若有相关性,则提取电容元器件数据并输出分析报告;若无相关性,则判定为非电容问题并生成相应报告。提高了故障诊断效率和准确性,实现了对故障电容器的快速定位和维修。

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