抖动发生电路
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101258677B

    公开(公告)日:2012-06-20

    申请号:CN200680019100.2

    申请日:2006-05-18

    IPC分类号: H03K5/156

    摘要: 本发明目的在于提供一种采用简单的结构就能够产生模式效果抖动的抖动发生电路。抖动发生电路(1)具有分析输入信号的信号模式内容的信号分析单元,即驱动器输入电路(20)、多个增益调整电路(30)、多个低通滤波器(40)、多个加法器(50)、加法器(52)、和根据信号分析结果输出如下信号的驱动器输出电路(60),该信号是当使输入信号通过了传送线路时在变化定时偏离的方向上调整了输入信号的相位的信号。通过调整输入信号的相位,从而对输入信号附加抖动。

    半导体试验装置的校准方法

    公开(公告)号:CN1251080C

    公开(公告)日:2006-04-12

    申请号:CN02802588.1

    申请日:2002-06-06

    发明人: 谢羽彻

    摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。

    用于球形网格矩阵插件的IC插座

    公开(公告)号:CN1185047A

    公开(公告)日:1998-06-17

    申请号:CN97114155.X

    申请日:1997-11-15

    发明人: 土田惠司

    IPC分类号: H01R13/629 H01R13/40

    CPC分类号: H05K7/1061

    摘要: 一组触针放入至少有两个相互平行表面的插座体,使得它与BGA插座的一组球形凸起的排列相对应。一组触针的端头从两个平行的表面的一面伸出。一组孔它们与一组球形凸起的排列和形状相对应,具有这组孔的平面导板弹性的支撑使得它相对于充满一组触针的表面呈浮动状态。并且平面导板在每一个孔容纳一个一组触针的一个端头。每一孔开口的边缘为锥形以便引导球形凸起的中心在由触针的端头外形限定的范围之内。

    插头、插头固定器和安装电子元件用的封装板

    公开(公告)号:CN1174425A

    公开(公告)日:1998-02-25

    申请号:CN97109505.1

    申请日:1997-03-01

    发明人: 松村茂

    IPC分类号: H01R13/40

    CPC分类号: H05K7/103 H01R12/523

    摘要: 插头,有从金属细长管套的侧壁的至少一部分向外弯的外接头,和从金属细管套侧壁的至少一部分向内弯的内接头。内外接头对金属细长管套的径向有弹性。电子元件封装板包括其中有与电子元件外引线对准的通孔的板,插头插入并保持在通孔内。电子元件封装板还包括位于上述板的背面其中有通孔的另一块板。从板中通孔伸出的插头的端部焊到另一块板的通孔中。如定位销的定位结构使插在板中通孔内的插头与另一块板中的通孔定位。

    半导体试验装置的校准方法

    公开(公告)号:CN100573176C

    公开(公告)日:2009-12-23

    申请号:CN200510068999.4

    申请日:2002-06-06

    发明人: 谢羽彻

    IPC分类号: G01R31/319

    摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。

    半导体试验装置的校准方法

    公开(公告)号:CN100523851C

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN200510070125.2

    申请日:2002-06-06

    发明人: 谢羽彻

    IPC分类号: G01R31/319

    摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。

    半导体试验装置的校准方法

    公开(公告)号:CN1677123A

    公开(公告)日:2005-10-05

    申请号:CN200510070114.4

    申请日:2002-06-06

    发明人: 谢羽彻

    IPC分类号: G01R31/319

    摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。

    半导体试验装置的校准方法

    公开(公告)号:CN1677121A

    公开(公告)日:2005-10-05

    申请号:CN200510068998.X

    申请日:2002-06-06

    发明人: 谢羽彻

    IPC分类号: G01R31/319

    摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。

    半导体试验装置的校准方法

    公开(公告)号:CN1464980A

    公开(公告)日:2003-12-31

    申请号:CN02802588.1

    申请日:2002-06-06

    发明人: 谢羽彻

    IPC分类号: G01R31/319

    摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。