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公开(公告)号:CN101258677B
公开(公告)日:2012-06-20
申请号:CN200680019100.2
申请日:2006-05-18
申请人: 株式会社艾德温特斯特
IPC分类号: H03K5/156
CPC分类号: H03K5/156 , G01R31/2841 , G01R31/31709 , H03K3/84 , H03K7/08
摘要: 本发明目的在于提供一种采用简单的结构就能够产生模式效果抖动的抖动发生电路。抖动发生电路(1)具有分析输入信号的信号模式内容的信号分析单元,即驱动器输入电路(20)、多个增益调整电路(30)、多个低通滤波器(40)、多个加法器(50)、加法器(52)、和根据信号分析结果输出如下信号的驱动器输出电路(60),该信号是当使输入信号通过了传送线路时在变化定时偏离的方向上调整了输入信号的相位的信号。通过调整输入信号的相位,从而对输入信号附加抖动。
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公开(公告)号:CN1251080C
公开(公告)日:2006-04-12
申请号:CN02802588.1
申请日:2002-06-06
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 谢羽彻
IPC分类号: G06F11/00 , H01L21/66 , G01R31/319
CPC分类号: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号:CN1226370A
公开(公告)日:1999-08-18
申请号:CN97196655.9
申请日:1997-05-28
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 古田胜信
IPC分类号: H05K13/08
CPC分类号: H05K13/02 , H05K13/0409 , H05K13/08
摘要: 本发明装置包括用于借助于真空抽吸利用一个喷嘴孔吸取吸着物(11)和沿水平和垂直方向传送吸着物的一只吸取传送机械臂(12)。在载物台(13)上放置吸着物(11)的位置后侧设置有一个朝上的光发射传感器(14)。在放置吸着物(11)的位置,形成有一个通孔,以防止遮挡从光发射器件(14)向上发出的光线。与此同时,在吸取传送机械臂(12)的喷嘴孔内部设置有用于接收从光发射器件(14)发出的光线的一个朝下的光接收器件(15)。
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公开(公告)号:CN1185047A
公开(公告)日:1998-06-17
申请号:CN97114155.X
申请日:1997-11-15
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 土田惠司
IPC分类号: H01R13/629 , H01R13/40
CPC分类号: H05K7/1061
摘要: 一组触针放入至少有两个相互平行表面的插座体,使得它与BGA插座的一组球形凸起的排列相对应。一组触针的端头从两个平行的表面的一面伸出。一组孔它们与一组球形凸起的排列和形状相对应,具有这组孔的平面导板弹性的支撑使得它相对于充满一组触针的表面呈浮动状态。并且平面导板在每一个孔容纳一个一组触针的一个端头。每一孔开口的边缘为锥形以便引导球形凸起的中心在由触针的端头外形限定的范围之内。
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公开(公告)号:CN1174425A
公开(公告)日:1998-02-25
申请号:CN97109505.1
申请日:1997-03-01
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 松村茂
IPC分类号: H01R13/40
CPC分类号: H05K7/103 , H01R12/523
摘要: 插头,有从金属细长管套的侧壁的至少一部分向外弯的外接头,和从金属细管套侧壁的至少一部分向内弯的内接头。内外接头对金属细长管套的径向有弹性。电子元件封装板包括其中有与电子元件外引线对准的通孔的板,插头插入并保持在通孔内。电子元件封装板还包括位于上述板的背面其中有通孔的另一块板。从板中通孔伸出的插头的端部焊到另一块板的通孔中。如定位销的定位结构使插在板中通孔内的插头与另一块板中的通孔定位。
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公开(公告)号:CN100573176C
公开(公告)日:2009-12-23
申请号:CN200510068999.4
申请日:2002-06-06
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 谢羽彻
IPC分类号: G01R31/319
CPC分类号: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号:CN100523851C
公开(公告)日:2009-08-05
申请号:CN200510070125.2
申请日:2002-06-06
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 谢羽彻
IPC分类号: G01R31/319
摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号:CN1677123A
公开(公告)日:2005-10-05
申请号:CN200510070114.4
申请日:2002-06-06
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 谢羽彻
IPC分类号: G01R31/319
CPC分类号: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号:CN1677121A
公开(公告)日:2005-10-05
申请号:CN200510068998.X
申请日:2002-06-06
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 谢羽彻
IPC分类号: G01R31/319
CPC分类号: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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公开(公告)号:CN1464980A
公开(公告)日:2003-12-31
申请号:CN02802588.1
申请日:2002-06-06
申请人: 株式会社艾德温特斯特
发明人: 谢羽彻
IPC分类号: G01R31/319
CPC分类号: G01R35/005 , G01R31/3191 , G01R31/31922 , G01R31/31937
摘要: 本发明的目的在于提供一种能降低成本、简化作业内容、缩短作业时间的半导体试验装置的校准方法。在多个驱动器的每一个与多个比较器的每一个以1对1的方式相对应的状态下,在对于彼此以1对1的方式相对应的时钟信号和选通信号来说以某一方为基准调整了另一方的相位后,取得时钟信号相互间的相对的相位差或选通信号相互间的相对的相位差,根据该相对的相位差来调整多个时钟信号和多个选通信号的相位。
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