一种多层陶瓷板用粘合剂及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN118027867A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202311844882.5

    申请日:2023-12-29

    发明人: 刘志华 熊玉 谭锴

    摘要: 本申请涉及多层陶瓷板技术领域,本申请公开了一种多层陶瓷板用粘合剂及其制备方法和应用。一种多层陶瓷板用粘合剂,包括如下重量分数的原料:环氧树脂50~70份,橡胶10~20份,植物微晶纤维素10~16份,玻璃微珠7~10份,凹凸棒土4.5~7.5份,固化剂3~5份,助剂1~5份。粘合剂的制备方法,包括以下步骤:将橡胶加入有机溶剂中,制得橡胶溶液,将环氧树脂加入有机溶剂中,制得环氧树脂溶液;将橡胶溶液、环氧树脂溶液、植物微晶纤维素、凹凸棒土、玻璃微珠和助剂混合,再加入固化剂,搅拌,制得多层陶瓷板用粘合剂。本申请所制得的粘合剂具有较高的粘结强度和优异的耐热性。

    防污染的探针卡焊接设备及焊接方法

    公开(公告)号:CN117921129A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410204617.9

    申请日:2024-02-24

    摘要: 本申请涉及探针卡测试设备制造的技术领域,尤其是涉及一种防污染的探针卡焊接设备及焊接方法,包括支撑架、激光件、焊针,激光件和焊针均安装在支撑架上,激光件照射在焊针的尖端。吹气装置安装在支撑架上,吹气装置的出气口朝向焊针的尖端,并不断的向焊针的尖端输送氩气。吸气装置也安装在支撑架上,吸气装置的吸气口朝向焊针的尖端,并不断的将焊针焊接过程中产生的废气以及吹气装置吹出的氩气进行回收。通过吹气装置和吸气装置的配合,使得激光件和焊针在对探针进行焊接作业时,既能防止助焊剂氧化飞溅,同时也能将助焊剂挥发的部分回收,使得焊接过程不会对夹爪及其他电子元件造成污染。本申请具有提高探针卡可靠性和精度的效果。

    一种探针卡成型设备
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117415213B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311752234.7

    申请日:2023-12-19

    发明人: 刘志广

    摘要: 本发明涉及一种探针卡成型设备,包括具有工作平台的机架,探针卡成型设备还包括供料装置、引料装置和冲料装置,供料装置、引料装置和冲料装置依次设置于工作平台的相邻位置,冲料装置包括用于对探针料进行冲压成型并裁切为成品探针卡的探针卡冲裁模具和向探针卡冲裁模具提供动力的动力组件,引料装置用于使供料装置提供的探针料进行校直并向冲料装置中递送,冲料装置用于对探针料进行冲压成型并裁切为成品探针卡。所述探针卡成型设备采用了自动化技术,因此解决了以往探针卡生产依靠人工操作冲床生产效率低,耗费人工,且质量不稳定的问题,从而体现了该探针卡成型设备在性能上的优越性。

    一种探针料夹针器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117325104A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311631445.5

    申请日:2023-12-01

    发明人: 刘志广

    IPC分类号: B25B11/00

    摘要: 本发明涉及一种探针料夹针器,用于对探针料全自动加工时夹住探针料,探针料夹针器包括夹针外壳、压紧轴、夹针压簧、夹针杠杆、杠杆销轴和复位簧。夹针外壳一端具有夹针头,夹针杠杆通过杠杆销轴与夹针外壳旋转铰链连接,夹针外壳远离夹针槽的另一端设有轴向压紧孔,压紧轴能滑动地安装于轴向压紧孔中,压紧轴一端露于夹针外壳,压紧轴露于夹针外壳的一端具有顶头,夹针压簧套装安装于压紧轴露于夹针外壳的一端,夹针压簧在压紧轴移动时不能通过顶头,复位簧紧密接触套装安装于夹针外壳和夹针杠杆的外侧。所述探针料夹针器解决了探针全自动生产设备设计时,市场上无适合的对探针料夹持装置的技术问题。

    一种探针卡多性能测试通用设备
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117075022A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202311330856.0

    申请日:2023-10-16

    IPC分类号: G01R35/00 G01D21/02

    摘要: 本发明涉及一种探针卡多性能测试通用设备,其包括机架和高度调节机构,高度调节机构包括具有第一斜面的上滑动斜块、具有第二斜面的下滑动斜块和竖直导向件,第一斜面滑接于第二斜面,上滑动斜块沿着竖直方向滑接于竖直导向件;测试仪器,设置于上滑动斜块;高度调节机构还包括第一驱动组件,第一驱动组件的动力输出端沿着水平方向连接于下滑动斜块,以使下滑动斜块沿着水平方向滑动,进而使上滑动斜块沿着竖直导向件竖直方向滑动。本发明将水平方向的直线动力转化为竖直方向的直线动力,使得第一驱动组件可呈水平安装,不会占用太多竖直方向上的安装空间,并提高测试结果准确性的效果。

    一种多枝节同轴体宽带射频探针

    公开(公告)号:CN115598390B

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211507219.1

    申请日:2022-11-29

    摘要: 本发明涉及一种多枝节同轴体宽带射频探针,包括外壳、探针、垫片和多枝节同轴体,外壳内设有定型槽,用于固定多枝节同轴体、探针及垫片,探针为片状,并开设有用于调节阻抗匹配的开槽,探针一端与多枝节同轴体连接,另一端外露用于探测,垫片设于探针上用于固定探针。探针通过共面波导与多枝节同轴体相连,可以实现在0‑70Ghz的阻抗匹配(S11\S22)均低于‑20dB,传输损耗(S12\S21)均大于‑1dB,探针上开设有预定槽用于调节阻抗匹配,垫片不仅用于固定探针,还能够通过调节垫片的预定长度、预定宽度及预定厚度与探针配合降低电磁信号传输损耗,本发明具备良好的传输功能和探测功能,并且有效降低了传输过程中的损耗,结构简单,有效降低投资成本。

    一种垂直探针及探针卡
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115308456A

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202211195564.6

    申请日:2022-09-29

    发明人: 张威 刘志广

    IPC分类号: G01R1/067 G01R1/073

    摘要: 本发明公开了一种垂直探针及探针卡,用于与半导体晶圆测试用凸点的电性接触,所述垂直探针包括固定端、连接部和探测端,所述固定端、所述连接部和所述探测端自上至下依次连接,所述探测端具有至少一个夹爪,每个所述夹爪包括一对接触臂,一对所述接触臂的相对的内侧面为斜面或内凹的弧面,所述接触臂的内侧面用于与半导体晶圆的凸点接触,以完成对半导体晶圆的测试。所述连接部的S型弯曲结构使所述垂直探针在受到屈曲应力作用时,使所述探测端上下垂直移动;所述探测端下压,使多个所述接触臂环绕于凸点周围,使所述探测端与凸点稳定接触,且所述探测端上下垂直移动,避免对凸点造成损伤。

    一种全自动探针成型设备

    公开(公告)号:CN117282855B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311582302.X

    申请日:2023-11-24

    发明人: 蒋文德

    摘要: 本发明涉及一种全自动探针成型设备,用于对探针进行全自动化生产,其包括机架、冲压机构、冲裁机构,全自动探针成型设备还包括上料装置、对位机构、转盘装置、转料机构、多组夹针机构和顶料机构,转料机构安装在顶料机构的顶部,夹针机构包括夹针器,当一组夹针机构位置在冲压机构所在工位时,转料机构的能旋转的拨柱用于使夹针器旋转,上料装置包括递料机构,递料机构用于夹住探针料传递给旋转平台上的对应夹针机构。所述全自动探针成型设备采用了自动化技术,因而解决了以往探针生产依靠人工操作冲床生产效率低,耗费人工,且质量不稳定的问题,从而体现了该全自动探针成型设备在性能上的优越性。

    一种探针卡多性能全流程自动化测试方法、系统及装置

    公开(公告)号:CN117092577B

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311320232.0

    申请日:2023-10-12

    IPC分类号: G01R35/00 G01D21/02

    摘要: 本发明公开了一种探针卡多性能全流程自动化测试方法、系统及装置,所述方法包括以下步骤:开机自检及设备复位;设备校准;对探针卡固定板和测试平台进行水平校准和高度校准,对压力传感器进行压力值校准,对压力探针和电性探针进行位置校准和高度校准;探针性能测试;测试探针的针尖位置、针压、接触电阻、漏电性能,以及探针的水平测试针元配线测试;探针的老化测试;探针的针尖清洁研磨。能够同时对多个探针进行多功能检测和针尖清洁,从而节约了人工成本,并提高了检测效率和检测结果的准确率。

    一种探针卡多性能全流程自动化测试方法、系统及装置

    公开(公告)号:CN117092577A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311320232.0

    申请日:2023-10-12

    IPC分类号: G01R35/00 G01D21/02

    摘要: 本发明公开了一种探针卡多性能全流程自动化测试方法、系统及装置,所述方法包括以下步骤:开机自检及设备复位;设备校准;对探针卡固定板和测试平台进行水平校准和高度校准,对压力传感器进行压力值校准,对压力探针和电性探针进行位置校准和高度校准;探针性能测试;测试探针的针尖位置、针压、接触电阻、漏电性能,以及探针的水平测试针元配线测试;探针的老化测试;探针的针尖清洁研磨。能够同时对多个探针进行多功能检测和针尖清洁,从而节约了人工成本,并提高了检测效率和检测结果的准确率。