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公开(公告)号：CN117075022A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311330856.0
申请日：2023-10-16
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
摘要： 本发明涉及一种探针卡多性能测试通用设备，其包括机架和高度调节机构，高度调节机构包括具有第一斜面的上滑动斜块、具有第二斜面的下滑动斜块和竖直导向件，第一斜面滑接于第二斜面，上滑动斜块沿着竖直方向滑接于竖直导向件；测试仪器，设置于上滑动斜块；高度调节机构还包括第一驱动组件，第一驱动组件的动力输出端沿着水平方向连接于下滑动斜块，以使下滑动斜块沿着水平方向滑动，进而使上滑动斜块沿着竖直导向件竖直方向滑动。本发明将水平方向的直线动力转化为竖直方向的直线动力，使得第一驱动组件可呈水平安装，不会占用太多竖直方向上的安装空间，并提高测试结果准确性的效果。
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公开(公告)号：CN115598390B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211507219.1
申请日：2022-11-29
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
摘要： 本发明涉及一种多枝节同轴体宽带射频探针，包括外壳、探针、垫片和多枝节同轴体，外壳内设有定型槽，用于固定多枝节同轴体、探针及垫片，探针为片状，并开设有用于调节阻抗匹配的开槽，探针一端与多枝节同轴体连接，另一端外露用于探测，垫片设于探针上用于固定探针。探针通过共面波导与多枝节同轴体相连，可以实现在0‑70Ghz的阻抗匹配（S11\S22）均低于‑20dB,传输损耗(S12\S21)均大于‑1dB，探针上开设有预定槽用于调节阻抗匹配，垫片不仅用于固定探针，还能够通过调节垫片的预定长度、预定宽度及预定厚度与探针配合降低电磁信号传输损耗，本发明具备良好的传输功能和探测功能，并且有效降低了传输过程中的损耗，结构简单，有效降低投资成本。
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公开(公告)号：CN117054951B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311323303.2
申请日：2023-10-13
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种探针性能测试系统及其测试方法，所述测试系统包括探针卡模组、固定板定位机构、探针测试模组和测试模组定位机构，所述方法包括以下步骤：开机自检及设备复位；选择测试项目；加载针卡数据；执行“FirstTouch”命令；确定标志针；定位标志针，并确认各个探针位置；按照测试项目列表的顺序，依次完成各个测试项目，并保存测试数据；各项测试完成后，设备复位。将待测探针卡固定安装于所述探针卡模组上，由所述探针测试模组对探针卡进行位置针尖、针压测试、接触电阻测试、漏电测试、水平测试和针元配线测试等多项测试，同时对多个探针进行功能检测，从而节约了人工成本，并提高了检测效率和检测结果的准确率。
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公开(公告)号：CN115598390A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211507219.1
申请日：2022-11-29
申请人： 深圳市道格特科技有限公司(CN)
摘要： 本发明涉及一种多枝节同轴体宽带射频探针，包括外壳、探针、垫片和多枝节同轴体，外壳内设有定型槽，用于固定多枝节同轴体、探针及垫片，探针为片状，并开设有用于调节阻抗匹配的开槽，探针一端与多枝节同轴体连接，另一端外露用于探测，垫片设于探针上用于固定探针。探针通过共面波导与多枝节同轴体相连，可以实现在0‑70Ghz的阻抗匹配（S11\S22）均低于‑20dB,传输损耗(S12\S21)均大于‑1dB，探针上开设有预定槽用于调节阻抗匹配，垫片不仅用于固定探针，还能够通过调节垫片的预定长度、预定宽度及预定厚度与探针配合降低电磁信号传输损耗，本发明具备良好的传输功能和探测功能，并且有效降低了传输过程中的损耗，结构简单，有效降低投资成本。
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公开(公告)号：CN113376409A
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN202110655230.1
申请日：2021-06-11
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
摘要： 本发明涉及探针卡技术领域，公开了一种微同轴射频探针卡，通过射频探针嵌设于隔离塑料套管内设置，隔离塑料套管嵌设于接地铜套管内设置，探针屏蔽接地头的前端部凹设有一与射频探针相适配的第二通孔，射频探针的前端部设有一呈圆锥体形结构设置的针尖，针尖伸出第二通孔外设置，探针屏蔽接地头的前端壁的两侧分别凸设一向内倾斜的屏蔽接地针，针尖位于屏蔽接地针的内侧设置，同轴射频连接器的下端部设有一插芯，插销的下端部设有一与射频探针相适配的第二插接孔，射频探针的上端部可拆卸的嵌设于第二插接孔内，从而有效提高射频探针的屏蔽效果和性能稳定性，且具有结构简单，制作成本低廉，插损小，驻波低，性能稳定等优点。
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公开(公告)号：CN117282855B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311582302.X
申请日：2023-11-24
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
发明人： 蒋文德
IPC分类号： B21D35/00 , B21D28/02 , B21D22/02 , B21D43/02 , B21D43/14 , B21D43/10 , B21D43/20 , B21D43/00 , B21D45/02
摘要： 本发明涉及一种全自动探针成型设备，用于对探针进行全自动化生产，其包括机架、冲压机构、冲裁机构，全自动探针成型设备还包括上料装置、对位机构、转盘装置、转料机构、多组夹针机构和顶料机构，转料机构安装在顶料机构的顶部，夹针机构包括夹针器，当一组夹针机构位置在冲压机构所在工位时，转料机构的能旋转的拨柱用于使夹针器旋转，上料装置包括递料机构，递料机构用于夹住探针料传递给旋转平台上的对应夹针机构。所述全自动探针成型设备采用了自动化技术，因而解决了以往探针生产依靠人工操作冲床生产效率低，耗费人工，且质量不稳定的问题，从而体现了该全自动探针成型设备在性能上的优越性。
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公开(公告)号：CN117092577B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311320232.0
申请日：2023-10-12
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种探针卡多性能全流程自动化测试方法、系统及装置，所述方法包括以下步骤：开机自检及设备复位；设备校准；对探针卡固定板和测试平台进行水平校准和高度校准，对压力传感器进行压力值校准，对压力探针和电性探针进行位置校准和高度校准；探针性能测试；测试探针的针尖位置、针压、接触电阻、漏电性能，以及探针的水平测试针元配线测试；探针的老化测试；探针的针尖清洁研磨。能够同时对多个探针进行多功能检测和针尖清洁，从而节约了人工成本，并提高了检测效率和检测结果的准确率。
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公开(公告)号：CN117092577A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202311320232.0
申请日：2023-10-12
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种探针卡多性能全流程自动化测试方法、系统及装置，所述方法包括以下步骤：开机自检及设备复位；设备校准；对探针卡固定板和测试平台进行水平校准和高度校准，对压力传感器进行压力值校准，对压力探针和电性探针进行位置校准和高度校准；探针性能测试；测试探针的针尖位置、针压、接触电阻、漏电性能，以及探针的水平测试针元配线测试；探针的老化测试；探针的针尖清洁研磨。能够同时对多个探针进行多功能检测和针尖清洁，从而节约了人工成本，并提高了检测效率和检测结果的准确率。
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公开(公告)号：CN113319699A
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202110667287.3
申请日：2021-06-16
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
IPC分类号： B24B19/16 , B24B55/06 , B24B41/06 , B24B47/12 , B24B47/20 , B24B47/04 , B24B41/00 , B24B41/02
摘要： 本发明公开一种高精度探针水平研磨装置，包括机架，以及设置于机架上的研磨模块、夹针模块和压针模块。本发明通过设置易于更换的磨砂面对探针进行研磨，且磨砂面与机架的Y轴平行地直线移动，便于利用磨砂面上的其他未损耗区域对探针进行研磨，提高研磨的精度；设置夹手夹持着探针与X轴平行地旋转，使得探针可以在研磨面上均匀地研磨针尖部分，提高研磨精度；压板可以压紧探针针尖进行磨削，防止针尖摆动，并根据按磨削量同步进给压紧力。
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公开(公告)号：CN111790959A
公开(公告)日：2020-10-20
申请号：CN202010479496.0
申请日：2020-05-30
申请人： 深圳市道格特科技有限公司
IPC分类号： B23H3/00
摘要： 本发明在加工箱中设置储液槽，储液槽上设置带通孔的电蚀水槽盖。在加工箱中还垂直设置有导轨，挂件座和立板可滑动地设置于该导轨上。在加工箱顶部设置电器箱。当原料设置在挂件座上后，挂件座沿导轨向储液槽的方向移动，原料穿过电蚀水槽盖的通孔进入电解液中，当电气箱为原料和储液槽供电后，原料被电解液电化学腐蚀，形成针尖。挂件座上一次可以挂多个原料，通过控制导电量就可以精确且大批量地制备出所需的探针。
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