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公开(公告)号：CN118365697A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410791565.X
申请日：2024-06-19
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种线径检测方法、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测图像，并提取出所述待检测图像中的二值图，所述二值图中的线条与电路中待检测的引线对应；根据所述二值图计算待测的所述线条的面积与轮廓周长；基于所述面积和所述轮廓周长，计算该条所述线条的线径，以获得对应所述引线的线径。通过上述方式，该方法能够提高引线线径的测量准确性和测量效率，并且不需要接触电路中的引线，减少引线的损坏和磨损，适用于复杂集成的电路结构。
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公开(公告)号：CN114321313B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202111597534.3
申请日：2021-12-24
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
发明人： 陈剑平
摘要： 本申请公开了一种直线运动机构，包括丝杆、导轨、滑座和连接件。丝杆上设有螺母座，螺母座与丝杆传动连接，导轨设置于丝杆的一侧并与丝杆平行，滑座滑动连接于导轨；连接件包括多个薄片，多个薄片沿垂直于导轨的方向堆叠，每个薄片均包括第一部分和第二部分，每个薄片的第一部分均固定于螺母座，第二部分均固定于滑座；通过采用多层薄片堆叠形式的连接件，取代了原来的刚性连接件，在同样的总厚度时，沿薄片的堆叠方向，多层薄片堆叠结构比一体式的厚板结构的刚性更小，且具有较高的柔性，能够包容直线运动机构在垂直方向的平行度误差和位置度误差，以简化丝杆的安装难度，提高安装效率。
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公开(公告)号：CN118521516B
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202410968911.7
申请日：2024-07-19
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种深度图校正方法、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取输入的展开相位图，并对展开相位图进行预处理；遍历预处理后的展开相位图，检测相位值异常的位置生成异常相位掩膜，且检测相位图截面中的异常平台生成异常平台掩膜；融合异常相位掩膜与异常平台掩膜获得总掩膜；输入对应的深度图并将总掩膜应用于深度图，以进行校正并输出校正后深度图。该方法基于展开相位图进行滤波，通过利用展开相位图的物理特性，可以无视拉尖点的大小、高低及拍摄场景的复杂度，快速准确地检测并校正深度图中的拉尖点，从而能快速准确地还原得到产品结构的三维结果，提升产品结构三维还原的准确性。
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公开(公告)号：CN118561009A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410837292.8
申请日：2024-06-26
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本发明实施例涉及自动化设备技术领域，特别涉及一种搬运装置，包括支撑座、水平驱动机构、竖直驱动机构和夹取机构，支撑座用于支撑与安装水平驱动机构、竖直驱动机构和夹取机构；水平驱动机构设置于支撑座，用于驱动竖直驱动机构与夹取机构进行水平运动；竖直驱动机构设置于水平驱动机构，用于驱动夹取机构在水平驱动机构竖直运动；竖直驱动机构靠近夹取机构装置的一侧设有旋转气缸，旋转气缸的输出轴处连接有凸轮随动器，以通过旋转气缸与凸轮随动器控制夹取机构竖直活动；夹取机构设置于竖直驱动机构，用于夹取托盘。本发明实施例通过设置旋转气缸和凸轮随动器，使得夹取机构可以在竖直方向运动，以提升设备的效率和稳定性，以及降低设备成本。
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公开(公告)号：CN115900829B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202211629193.8
申请日：2022-12-19
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
IPC分类号： G01D21/02 , G06T7/00 , G06T7/13 , G06T7/73 , G06V10/141
摘要： 本发明实施方式公开了一种LED检测方法、装置及其电子设备，该LED检测方法包括：在LED芯片具有极性的情况下，通过比较所述LED芯片的正向相似度和反向相似度，判断所述LED芯片的极性缺陷；获取LED芯片在PCB板上的芯片中心和芯片角度，以此判断所述LED芯片的位置缺陷。通过上述方式，本发明实施方式能够采用形状匹配的方式同时实现了本体位置检测与极性检测，计算量更小检测速度更快。通过自适应分割的方式实现了胶体直径与圆心的检测，简化了用户的操作，且应对胶体颜色变化的鲁棒性更强。塌陷、剥离、胶不成形、无胶、气泡等传统算法不好建模的缺陷类型，采用模型训练的方式实现，降低了用户的使用难度。
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公开(公告)号：CN117953247A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410346099.4
申请日：2024-03-26
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种单目标模板匹配方法、电子设备及存储介质，方法应用于电子设备，方法包括：训练步骤：对模板图像进行灰度化得到匹配模板；将匹配模板根据复杂度要求分块划分到对应层级，并分别记录划分后每个分块的灰度和对应的网格坐标；匹配步骤：设置整体允许误差；通过划分后的匹配模板在待搜索图像中进行滑窗；使用积分图对每个滑窗逐层级计算匹配误差；分别将各个层级中的匹配误差与整体允许误差进行比对以进行模板匹配。该方法通过对匹配模板进行分块，使用积分图对各个滑窗逐层级计算匹配模板的匹配误差，将匹配模板各个层级的匹配误差与整体允许误差进行比对，进行滑窗的提前剪枝，降低模板匹配的计算量，提高匹配速度。
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公开(公告)号：CN117765282A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311766398.5
申请日：2023-12-20
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及一种模板匹配方法、芯片偏移检测方法、电子设备及存储介质，所述方法包括：对原始输入图进行预处理排除干扰，在预设角度范围内对预处理排除干扰后的原始输入图进行旋转，得到多张旋转输入图，每一旋转输入图对应一个旋转角度；对每一旋转角度的旋转输入图均提取边缘二值图；针对每个边缘二值图，检测水平直线和竖直直线，并基于水平直线和竖直直线构造矩形框；对边缘二值图中的单像素边缘进行膨胀处理，得到膨胀二值图；基于膨胀二值图与矩形框，计算矩形框的得分，获取得分最高的第一矩形；基于第一矩形的旋转角度将第一矩形还原到原始输入图的坐标系中，以完成模板匹配。该方法无需建立模板，能够提升匹配速度，减少匹配时间。
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公开(公告)号：CN117745698A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311819493.7
申请日：2023-12-26
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本申请实施例涉及AOI设备技术领域，公开了一种AOI设备的元件窗体编程方法、AOI设备及存储介质。其中，方法包括：对PCB板进行拍摄及处理，获得模拟图像；在PCB板对应的绘图源文件中，确定目标料号；在模拟图像中与目标元件对应的位置，裁取获得指定尺寸的图像块；将指定尺寸的图像块输入第一卷积神经网络模型中，获得模拟图像中的所有待检测元件的本体包围矩；确定模拟图像中接近图像中心区域的目标待测元件；将目标待测元件的目标本体包围矩和所属的焊盘区域组合，在模拟图像中获得目标待测元件的检测窗体。本申请无需技术人员为每一类元件绘制窗体，可以减少大量编程时间，在获得元件检测窗体后，可以对元件检测窗体分析，从而确定不良品。
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公开(公告)号：CN118521516A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410968911.7
申请日：2024-07-19
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种深度图校正方法、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取输入的展开相位图，并对展开相位图进行预处理；遍历预处理后的展开相位图，检测相位值异常的位置生成异常相位掩膜，且检测相位图截面中的异常平台生成异常平台掩膜；融合异常相位掩膜与异常平台掩膜获得总掩膜；输入对应的深度图并将总掩膜应用于深度图，以进行校正并输出校正后深度图。该方法基于展开相位图进行滤波，通过利用展开相位图的物理特性，可以无视拉尖点的大小、高低及拍摄场景的复杂度，快速准确地检测并校正深度图中的拉尖点，从而能快速准确地还原得到产品结构的三维结果，提升产品结构三维还原的准确性。
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公开(公告)号：CN118521515A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410968908.5
申请日：2024-07-19
申请人： 深圳明锐理想科技股份有限公司
摘要： 本发明实施例涉及半导体技术领域，尤其涉及一种深度图校正方法、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取光线投射于待检测物品表面所产生的目标图像；基于目标图像获取展开相位图和深度图；统计展开相位图中像素点的相位值以获得相位值信息，基于相位值信息，确定展开相位图中的异常像素点；剔除深度图中与异常像素点对应的像素点，以校正深度图。该方法基于展开相位图进行滤波，通过利用展开相位图的物理特性，快速准确地检测出展开相位图中相位值异常的异常像素点（对应于深度图的阴影区域及高亮区域），以校正深度图，从而能够在减少复数光机使用的同时，改善产品结构三维还原的准确性。
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