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公开(公告)号：CN103026620B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201080067110.X
申请日：2010-05-28
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
发明人： 佳瓦尼·比安驰
CPC分类号： H03H7/0138 , H01P1/20345 , H03H7/0123 , H03H7/1758 , H03H2001/0085 , H03H2250/00
摘要： 一种电滤波器结构包括第一滤波器核心结构(230)和第二滤波器核心结构(240)。该第一滤波器核心结构包括多个并联阻抗元件(234a，234b)。类似地，第二滤波器核心结构包括多个并联阻抗元件(244a，244b)。第一滤波器核心结构的并联阻抗元件被布置在多层结构的不同导电层中，而第二滤波器核心结构的并联阻抗元件被布置在多层栈的不同导电层中。用于实现并联阻抗元件的传输线被交织。
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公开(公告)号：CN102037445B
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN200880129332.2
申请日：2008-05-21
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
IPC分类号： G06F9/45
CPC分类号： G06F8/443
摘要： 本发明公开了用于确定重复比特值样式的方法和装置。从程序循环信息中能够确定与数据字(2)序列的预定比特位置相关联的重复比特值样式，所述数据字按照比特次序包括两个或更多比特，比特位置描述在所述比特次序内的位置并指示由该比特位置处的比特所代表的值，所述程序循环信息包括用于确定数据字(2)序列的更新后的数据字的程序表达式。使用预定的比特位置来确定与预定比特位置相关联的序列长度值(8)。对程序表达式评估(6)由序列长度值(8)所指示的循环迭代次数，以获得与预定比特位置相关联的更新后的比特值。使用更新后的比特值循环迭代次数来确定重复比特值样式。
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公开(公告)号：CN101932947B
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN200880125841.8
申请日：2008-09-18
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/26 , G01R31/2637 , G01R31/31907 , G01R31/31908 , G11C29/56 , Y10T29/53183 , Y10T29/53191
摘要： 在多个测试位置(102-108)处共享测试资源(112)的方法在多个测试位置(102-108)处以时间上的偏移量来执行各个测试流程，各个测试流程(116-122)在测试流程中的预定位置(116b-122b)处获取测试资源112。
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公开(公告)号：CN101657894B
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN200880012355.5
申请日：2008-04-15
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
CPC分类号： H01L22/20 , H01L21/78 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 根据本发明的一个实施例，可以实现一种单切管芯测试方法。这可以通过获取晶片并将管芯单切为单独的管芯模片来实现。单切管芯可以被排列在分离的测试排列中，甚至可以将来自多个晶片的管芯作为组合排列的部分相组合。然后，可以对组合测试排列实现测试。
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公开(公告)号：CN101911491B
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN200880123543.5
申请日：2008-10-31
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
发明人： 斯蒂芬·A·坎农 , 理查德·C·道肯 , 阿尔佛雷德·L·克洛彻 , 加里·A·韦伯兰德
IPC分类号： H03K19/00
CPC分类号： G01R31/318536
摘要： 将扫描链的环境变量设定为被认为将导致保持时间故障的值，并且使一式样移经扫描链。该式样具有至少n个连续的第一逻辑状态的比特的背景式样及其后的至少一个第二逻辑状态的比特，其中n是扫描链的长度。按照以下两项之间的差异来确定扫描链中可能的保持时间故障的数目：i)预期所述至少一个比特引起扫描链的输出处的转变的时钟周期，和ii)所述至少一个比特实际引起扫描链的输出处的转变的时钟周期。如果存在环境变量的某一值，在该值上扫描链正确操作，则可以确定保持时间故障的(一个或多个)位置。
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公开(公告)号：CN103168412A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201080069667.7
申请日：2010-11-12
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
发明人： 佐藤俊之
摘要： 提供不需要增大电路元件尺寸且不在电源电压中引起电压降的电源噪声减小电路和电源噪声减小方法。用于减小被包括在从电源（2）向负载输出的恒定电压输出中的噪声的电源噪声减小电路（10）包括：被插入从所述电源（2）延伸到所述负载的电源线路的第一电阻器（20），被连接到所述第一电阻器（20）的负载端并且输出通过从恒定电压输出减小所述噪声得到的第一电压的滤波器（31），以及驱动从所述滤波器输出的所述第一电压并且向所述第一电阻器（20）的所述负载端输出被驱动的所述第一电压的单位增益放大器（32）。
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公开(公告)号：CN101627370B8
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN200880006537.1
申请日：2008-02-28
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
IPC分类号： G06F11/00
摘要： 在扫描图像被从扫描链移出时，针对逻辑条件的存在性来实时地评估该扫描图样。维持到扫描图样的当前正被评估的一部分的参考。当在该参考与存储值具有预定关系时识别出存在所述逻辑条件之后，使用参考来覆写存储值。然后，使用存储值来估计扫描链中的固定型缺陷的位置。
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公开(公告)号：CN103052993A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201180036990.9
申请日：2011-05-27
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
发明人： W·斯科特·维拉瑞尔·费勒尔 , 艾哈迈德·S·坦塔维 , 埃里克·H·沃克里克
CPC分类号： G01R31/31908 , G01R31/2834 , G06F11/263 , G06F11/2733 , G06F17/00 , G11C29/56
摘要： 一种用于自动测试设备的系统。在一种实施例中，该系统包括被编程为提供测试图形以及通往至少一个被测器件(DUT)的接口的可配置集成电路(IC)。该系统还包括通往所述至少一个DUT的连接，其中所述连接被直接耦合在所述可配置IC与所述至少一个DUT之间。
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公开(公告)号：CN101501517B
公开(公告)日：2013-02-06
申请号：CN200680055532.9
申请日：2006-08-04
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31907
摘要： 一种用于对被测器件(201)进行测试的测试设备(200)的测试模块(206)，该测试模块(206)适用于执行专门测试功能并且包括通用部分(213)，该通用部分(213)适合于提供对于测试模块(206)的测试功能来说非专门的测试资源，该通用部分(213)包括适合于连接到所述测试设备(200)的中央控制器件(202)的控制接(204)，该测试模块(206)并且包括专门部分(214)，该专门部分(214)将被耦合到通用部分(213)并且适合于提供对于测试模块(206)的测试功能来说专门的测试资源，该专门部分(214)包括适合于连接到被测器件(201)的被测器件接口(205)。
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公开(公告)号：CN1790047B
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN200510127704.6
申请日：2005-12-01
申请人： 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
发明人： 罗米·梅德
IPC分类号： G01R35/00
CPC分类号： G01R35/005 , G01R31/2886
摘要： 公开了一种模拟晶片、利用其校正的系统和校正自动测试设备的方法。在一个实施例中，一种用于校正自动测试设备的模拟晶片包括具有多个互连区域的印刷电路板，每一个互连区域包含一对通过连接迹线耦合的模拟管芯焊盘。在另一个实施例中，一种用于校正自动测试设备(ATE)的方法可以包括将模拟晶片耦合到自动测试设备，然后使得ATE 1)相对于测试头连接器换位模拟晶片，2)将测试头连接器的多个探针耦合到模拟晶片的多个管芯焊盘，3)在通过模拟晶片的一对模拟管芯焊盘和连接迹线耦合的一对探针之间发射测试信号，以及4)通过记录所发射的测试信号的特性，校正ATE的选定信号通路或者多个信号通路。
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