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    比特序列生成器
    1.
    发明公开
    比特序列生成器 有权 转让

    公开(公告)号：CN103098018A

    公开(公告)日：2013-05-08

    申请号：CN201080068440.0

    申请日：2010-08-03

    Applicant: 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

    Inventor： 约亨·里瓦尔

    IPC: G06F7/58 ,  H03K3/84

    CPC classification number: G06F7/58 ,  G06F7/584 ,  G06F2207/582 ,  H03K3/64 ,  H03K3/84

    Abstract: 一种用于生成由生成函数和该生成函数的初始状态定义的比特序列的比特序列生成器，其包括多个状态机和复用器。多个状态机中的每个状态机生成时间交织比特序列，其中，状态机基于由状态机针对先前的时步所生成的至少一个比特、将要生成的比特序列的生成函数、生成函数的初始状态来生成时间交织比特序列的比特，并且，该比特的生成独立于由多个状态机中的另一状态机所生成的时间交织比特序列。另外，复用器重复地从每个所生成的时间交织比特序列连续选择一个比特，以获得由生成函数和生成函数的初始状态所定义的比特序列。

    异步∑-△数模转换器
    3.
    发明授权
    异步∑-△数模转换器 有权 转让

    公开(公告)号：CN101512908B

    公开(公告)日：2012-10-31

    申请号：CN200680055999.3

    申请日：2006-08-01

    Applicant: 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

    Inventor： 约亨·里瓦尔

    IPC: H03M3/02 ,  H03M1/66 ,  H03M1/84

    CPC classification number: H03M7/3024

    Abstract: 提供了一种用于将数字输入信号u[k]转换为模拟输出信号f(t)的异步∑-Δ数模转换器(100)，该数模转换器(100)包括异步∑-Δ调制器(120)和时钟采样单元(108)，异步∑-Δ调制器(120)包括低通滤波器(104)和比较器(106)并且被提供以数字输入信号u[k]，时钟采样单元(108)适合于基于时钟信号fb对经比较器(106)处理的信号x(t)采样，从而生成模拟输出信号f(t)。

    用于估计与时间差有关的数据的装置和方法和用于校准延迟线的装置和方法
    4.
    发明授权
    用于估计与时间差有关的数据的装置和方法和用于校准延迟线的装置和方法 有权 转让

    公开(公告)号：CN102067456B

    公开(公告)日：2015-03-11

    申请号：CN200880129946.0

    申请日：2008-06-20

    Applicant: 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

    Inventor： 约亨·里瓦尔

    IPC: H03M1/50 ,  H03M1/10

    CPC classification number: G04F10/005

    Abstract: 一种用于估计与两个事件之间的时间差有关的数据的装置包括具有多个阶段(101、102、103、104)的延迟线100。每个阶段在第一部分中的第一延迟和第二部分中的第二延迟之间具有延迟差。此延迟差被每个阶段中的相位仲裁器(105)测量，该相位仲裁器输出指示信号，该指示信号指示出在两个事件之中在第一部分中的第一事件是领先还是落后于两个事件之中在第二部分中的第二事件。提供了求和设备(200)，用于对所述多个阶段的指示信号求和以获得总和值。总和值指示出时间差估计。

    用于确定用于检测芯片上的故障的相关值以及确定芯片上的位置的故障概率的方法和装置
    5.
    发明授权
    用于确定用于检测芯片上的故障的相关值以及确定芯片上的位置的故障概率的方法和装置 有权 转让

    公开(公告)号：CN101821640B

    公开(公告)日：2015-03-11

    申请号：CN200880101430.5

    申请日：2008-12-17

    Applicant: 爱德万测试(新加坡)私人有限公司

    Inventor： 约亨·里瓦尔

    IPC: G01R31/28

    CPC classification number: G01R31/2846 ,  G01R31/2834 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/316

    Abstract: 本发明描述了一种用于确定相关值(R(i，m))的方法，每个相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目(I)的输入节点中的输入节点(i)与第二数目(M)的测量节点中的测量节点(m)的组合((i，m))的相关性，所述方法包括：在第一数目(I)的输入节点处应用第三数目(K)的测试，其中第三数目(K)的测试中的每个测试(k)为每个输入节点(i)定义一测试输入选项(U(k，i))；针对第三数目(K)的测试中的每个测试(k)测量在第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点处的信号，以针对第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点(m)获得第三数目(K)的测量值，其中每个测量值(Y(k，m))与测量所针对的测试(k)和被测量的测量节点(m)相关联；以及确定相关值(R(i，m))，其中每个相关值是基于针对相应组合的输入节点(i)所定义的第三数目(K)的测试输入选项(U(k，i))和与相应组合(i，m)的测量节点(m)相关联的第三数目(K)的测量值(Y(k，m))之间的互相关性来计算的。

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