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公开(公告)号：CN101151524B
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN200580049351.0
申请日：2005-12-08
申请人： 株式会社理学
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/305
摘要： 一种荧光X射线分析装置等，其通过FP法对试样的组分、面积密度进行分析，针对各种试样，可按照简便、并且将几何效果充分符合现实而添加的方式计算理论强度，足够正确地进行定量分析。包括计算机构(10)，该计算机构(10)根据假定的组分，计算从试样(13)的各元素产生的二次X射线(6)的理论强度，按照该理论强度与通过上述检测机构(9)测定的测定强度换算为理论强度值的换算测定强度一致的方式，逐次近似地修正计算假定的组分，计算试样(13)的组分，上述计算机构(10)每当计算理论强度时，将试样(13)的大小与照射到试样表面(13a)的各位置的一次X射线(2)的强度和入射角φ作为参数，针对各光路模拟计算二次X射线(6)的理论强度。
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公开(公告)号：CN101151524A
公开(公告)日：2008-03-26
申请号：CN200580049351.0
申请日：2005-12-08
申请人： 理学电机工业株式会社
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/305
摘要： 一种荧光X射线分析装置等，其通过FP法对试样的组分、面积密度进行分析，针对各种试样，可按照简便、并且将几何效果充分符合现实而添加的方式计算理论强度，足够正确地进行定量分析。包括计算机构(10)，该计算机构(10)根据假定的组分，计算从试样(13)的各元素产生的二次X射线(6)的理论强度，按照该理论强度与通过上述检测机构(9)测定的测定强度换算为理论强度值的换算测定强度一致的方式，逐次近似地修正计算假定的组分，计算试样(13)的组分，上述计算机构(10)每当计算理论强度时，将试样(13)的大小与照射到试样表面(13a)的各位置的一次X射线(2)的强度和入射角φ作为参数，针对各光路模拟计算二次X射线(6)的理论强度。
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公开(公告)号：CN107086868A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710079561.9
申请日：2017-02-15
申请人： 亚德诺半导体集团
CPC分类号： H02J7/007 , G04F10/005 , H02J7/345 , H03M1/201 , H03M1/50 , H03M1/52 , H03M1/60 , H03M1/1245 , G01N23/046 , G01N2223/304 , G01N2223/305 , H03M1/54
摘要： 本公开涉及具有电荷重新平衡集成器的模拟/数字转换。电荷再平衡积分电路可以帮助保持前端积分电路的输出节点在指定的范围内，例如而无需积分电容器的复位。监视和重新平衡积分电路的处理可以比积分时间长度短得多的时间操作，其可允许在积分时间段的多个电荷平衡的电荷转移事件，和每个积分时间周期一次采样积分电容器，诸如在积分时间段的结束。关于电荷再平衡的信息可用于调整随后的离散时间信号处理，诸如样本的数字化值。改进的动态范围和噪声性能是可能的。描述了计算机断层扫描(CT)成像和其他使用案例，包括具有可变积分周期的那些。
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公开(公告)号：CN104870986A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201380068337.X
申请日：2013-12-26
申请人： FEI公司
IPC分类号： G01N23/225 , G01N23/203
CPC分类号： G01N23/2252 , G01N23/203 , G01N23/2251 , G01N2223/072 , G01N2223/076 , G01N2223/079 , G01N2223/305 , G01N2223/32 , G01N2223/418 , G01N2223/616 , H01J37/20 , H01J37/21
摘要： 一种用于使用电子显微镜确定样本的矿物含量的方法和系统。该方法包括将电子束导向样本的感兴趣区域，所述感兴趣区域包括矿物的未知构成。显微镜的后向散射电子检测器和样本的感兴趣区域之间的工作距离被确定。对于工作距离和预定工作距离之间的差作出补偿，其中预定工作距离是为所检测的后向散射电子提供期望灰度值的工作距离。补偿工作距离变化的一种方式是使用显微镜的自动对焦特征来调整工作距离。随后，来自样本的感兴趣区域的后向散射电子被检测。
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公开(公告)号：CN104870986B
公开(公告)日：2017-12-05
申请号：CN201380068337.X
申请日：2013-12-26
IPC分类号： G01N23/225 , G01N23/203
CPC分类号： G01N23/2252 , G01N23/203 , G01N23/2251 , G01N2223/072 , G01N2223/076 , G01N2223/079 , G01N2223/305 , G01N2223/32 , G01N2223/418 , G01N2223/616 , H01J37/20 , H01J37/21
摘要： 一种用于使用电子显微镜确定样本的矿物含量的方法和系统。该方法包括将电子束导向样本的感兴趣区域，所述感兴趣区域包括矿物的未知构成。显微镜的后向散射电子检测器和样本的感兴趣区域之间的工作距离被确定。对于工作距离和预定工作距离之间的差作出补偿，其中预定工作距离是为所检测的后向散射电子提供期望灰度值的工作距离。补偿工作距离变化的一种方式是使用显微镜的自动对焦特征来调整工作距离。随后，来自样本的感兴趣区域的后向散射电子被检测。
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公开(公告)号：CN106770390A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611249418.1
申请日：2016-12-29
申请人： 中核北方核燃料元件有限公司
发明人： 张小刚
CPC分类号： G01N23/05 , G01N23/025 , G01N2223/03 , G01N2223/1066 , G01N2223/305 , G01N2223/401 , G01N2223/415 , G01N2223/625 , G01N2223/645
摘要： 本发明涉及无损检测技术领域，具体公开了三层夹芯结构燃料元件中子射线检测方法，包括以下步骤：步骤一：贫铀材料射线衰减系数比较；步骤二：计算与分析间接中子照相实验条件；步骤三：计算与分析中子照相实验曝光时间参数；步骤四：三层夹芯结构燃料元件中子成像；步骤五：数据处理与成像分析。通过本发明三层夹芯结构燃料元件及燃料芯坯的中子射线检测方法的建立，表明高穿透性的中子完全胜任燃料元件的无损检测分析；本发明方法检测精度高，通过金相解剖验证，金相解剖结果与中子射线检测结果误差仅为±0.02mm。
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公开(公告)号：CN108475617A
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201680077602.4
申请日：2016-11-02
申请人： 诺威量测设备公司
IPC分类号： H01L21/00
CPC分类号： G01N23/2208 , G01B11/06 , G01B15/02 , G01N23/223 , G01N23/2273 , G01N2223/305 , G01N2223/633 , H01L22/12
摘要： 通过执行下列步骤实现确定集成电路(IC)的层的性质，层形成在底层之上：照射IC，由此从IC发射电子；采集从IC发射的电子并且确定发射电子的动能，由此计算从层发射的电子和从底层发射的电子的发射强度，从而计算从层发射的电子与从底层发射的电子的发射强度的比率；并且使用比率确定层的材料组分或厚度。使用x射线光电子能谱法(XPS)或x射线荧光光谱法(XPF)可以执行照射IC并且采集电子的步骤。
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公开(公告)号：CN106442581A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610637846.5
申请日：2016-08-05
申请人： 株式会社理学
发明人： 佐佐木明登
IPC分类号： G01N23/20
CPC分类号： G01N23/20 , G01N2223/052 , G01N2223/305 , G01N2223/1016
摘要： 本发明提供能够使用户容易地决定作为分析对象的试料的测定条件的X射线分析操作引导系统和操作引导方法。X射线分析操作引导系统包括：试料信息取得单元，其取得在X射线测定部进行规定分析目的测定的试料的试料信息；测定条件取得单元，其取得相互不同的多个测定条件；虚拟结果取得单元，其通过对所述试料信息进行分别基于所述多个测定条件的模拟，取得所述规定分析目的测定所产生的多个虚拟测定结果；以及比较结果输出单元，其将所述多个虚拟测定结果中的两个以上的虚拟测定结果和分别与该两个以上的虚拟测定结果对应的两个以上的所述测定条件作为比较结果输出。
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