气相沉积炉、其使用方法及气相沉积系统

    公开(公告)号:CN110629205B

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN201911034660.0

    申请日:2019-10-29

    摘要: 本发明揭示了气相沉积炉、其使用方法及气相沉积系统,其中气相沉积炉,包括罩体及盖板,它们均连接一轴,罩体的侧壁上设置有第一气道、第二气道及第一电极及第二电极,第一电极电连接架设于罩体内的导电工件放置架,第二电极电连接位于罩体内且与导电工件放置架位置对应的导电板;盖板连接驱动其绕轴转动且在第一状态和第二状态之间切换的翻转驱动机构,第一状态下,盖板密封所述罩体的开口并与罩体形成一密封腔,第二状态下,盖板使罩体的开口保持敞开状态。本方案通过罩体与盖板形成腔体,且盖体可相对罩体翻转,极大的方便进行上下料作业,不需要采用微波发生器作为能量来源,有利于降低成本,盖板可以自动打开和关闭,效率高,易于操作。

    带加热功能的手动直针测试插座

    公开(公告)号:CN106483343A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201610950513.8

    申请日:2016-11-03

    IPC分类号: G01R1/04

    CPC分类号: G01R1/0458

    摘要: 本发明公开了一种带加热功能的手动直针测试插座,包括上盖组件以及与上盖组件配合的底座,所述上盖组件包括上盖主体、连接组件以及复数根平行内嵌于上盖主体内部的加热管,所述底座包括底座主体和复数根探针,所述底座主体的上、下端分别设有第一容置槽和第二容置槽,所述第一容置槽和第二容置槽内分别安装有第一压板和保持板,所述保持板上设有凸起的圆柱,所述圆柱上套设有加热环,所述加热环上盖设有浮板,所述探针一端与第一压板固定连接,另一端依次从第一、第二容置槽以及保持板和浮板中穿出。本发明能够大大提高加热稳定性和测试效率,有效控制加热温度范围,同时具有体积小、操作简单方便的特点。

    异形FPC光学芯片模组测试插座

    公开(公告)号:CN104062474A

    公开(公告)日:2014-09-24

    申请号:CN201410314254.0

    申请日:2014-07-03

    发明人: 朱小刚

    IPC分类号: G01R1/04

    摘要: 本发明提供一种异形FPC光学芯片模组测试插座,该异形FPC光学芯片模组测试插座至少包括:一支撑架,支撑架上设有一支撑板,支撑板上设有位置相对的上盖和底座,上盖与所述支撑板的上表面铰接,底座与支撑板的下表面铰接,上盖上设有镜头模块容纳腔,底座上设有连接器容纳腔,连接器容纳腔上方设有可上下移动的浮动板,上盖与底座之间还设有转接PCB板,转接PCB板的下表面上设有探针,探针可活动的穿过浮动板,上盖上还设有一调焦环安装孔,调焦环安装孔上安装有一调焦环,调焦安装孔的位置与镜头模块容纳腔位置相对应。采用该异形FPC光学芯片模组测试插座可有效提高检测的精度和速度。

    FPC光学芯片模组自动测试插座

    公开(公告)号:CN104062472A

    公开(公告)日:2014-09-24

    申请号:CN201410314119.6

    申请日:2014-07-03

    发明人: 朱小刚

    IPC分类号: G01R1/04

    摘要: 本发明提供一种FPC光学芯片模组自动测试插座,其至少包括:一上盖主体和一底座,所述上盖主体压在所述底座上,上盖主体上还设有数个探针,探针与连接器容纳腔位置相对应,探针与插座主体电连接,插座主体嵌在底座上,插座主体与外接PCB板连接,连接器容纳腔内还设有一可上下移动的浮动板,上盖主体上还设有一调焦环安装孔,调焦环安装孔上安装有一调焦环,调焦安装孔的位置与镜头模块容纳腔位置相对应。该测试插座在测试时,连接器固定在浮动板上,在弹簧的弹力作用下,探针会与连接器上的针脚接触并保持一定的接触力,但不会将针脚压坏,这样就可有效提高检测的精度和效率。

    多工位MEMS陀螺仪测试插座

    公开(公告)号:CN104061946A

    公开(公告)日:2014-09-24

    申请号:CN201410314306.4

    申请日:2014-07-03

    发明人: 朱小刚

    IPC分类号: G01C25/00

    CPC分类号: G01C25/005

    摘要: 本发明提供一种多工位MEMS陀螺仪测试插座,其包括一上压板和一底座,所述上压板压在所述底座上,其特征在于:所述底座上设有一浮动板放置槽,所述浮动板放置槽内设有一浮动板,所述浮动板的底部设有弹性件,所述浮动板内设有数个元件放置槽,所述上压板上设有数个与所述元件放置槽位置相对应的凸起,所述底座上设有数组探针,所述数组探针的上端可活动的穿过所述浮动板并分别位于所述元件放置槽内,所述数组探针的下端与转接PCB板连接。采用该测试插座可有效提高MEMS陀螺仪的测试精度和速度,提高工作效率。

    CMOS摄像芯片浮动载板自动定位测试插座

    公开(公告)号:CN103439541A

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201310393483.1

    申请日:2013-09-03

    发明人: 朱小刚 柳慧敏

    IPC分类号: G01R1/04 G01R31/26

    摘要: 本发明公开了一种CMOS摄像芯片浮动载板自动定位测试插座,包括相互配合的上盖和底座,所述底座包括从下向上依次分布的PCB转接板、测试单元和浮动载板,所述上盖包括测试镜头和镜头压板,所述测试镜头前方的暗室内设置有光源,并且,所述测试镜头与光源之间还设有对比图像,所述测试单元包括复数根测试探针以及用以安装测试探针的探针保持主体、探针保持板和探针保持框。进一步的,当上盖和底座盖合时,所述浮动载板与镜头压板相触,并可在镜头压板的抵推下下行,同时所述浮动载板还与至少一用以提供使浮动载板上行的力的作用的弹性元件连接。本发明能与不同测试机台兼容,实现对CMOS芯片的自动、高效、准确的测试,且不致损伤芯片。

    一种设有上滑块结构的手动测试基座

    公开(公告)号:CN110441671B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN201910652176.8

    申请日:2019-07-18

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/04

    摘要: 本发明公开了一种设有上滑块结构的手动测试基座,包括测试底座和上盖,上盖铰接在测试底座一侧端且能与测试底座翻转压合,测试底座上设有浮板结构,浮板结构内设有芯片槽,上盖上通过其侧端的滑槽在中部设有滑块,滑块中部通过压板槽转动设有压板,压板在上盖压合时与芯片槽正对,压板槽内设有挡舌使压板倾斜设置,滑块上下侧对称的设有复位弹簧和调整螺钉。本发明结构简单,在上盖上采用滑动结构,使得压板旋转压合芯片的过程中,压板与芯片无相对滑动,同时压板的倾斜设置,保证压板与芯片的接触平面近乎平行,避免局部挤压芯片,保证测试可靠性。

    一种镗珩组合机床
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116237770A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310093660.8

    申请日:2023-02-10

    IPC分类号: B23P23/04

    摘要: 本发明公开了一种镗珩组合机床,包括底座,所述底座的顶面固定安装有安装架,所述安装架内表面的底面分别设有镗孔机构、珩磨机构、喷液机构和抓取机构。本发明通过配合夹紧片外侧面上分布的三组推板,在分配机构中油压升高的作用下,实现对应三组推板的充分液压推动,从而使得端面的弹性夹紧片在推力作用充分与工件的外表面接触,在完成压紧固定的同时,大大提高了实际接触面积,在工件受到转动力加工处理时,大大提高了实际夹紧的稳定性,避免出现打滑的情况,且在大面积接触效果下,降低了相同夹紧压力下的压强,减小对工件表面的压力损害,实际工件镗珩处理过程稳定可靠,工件表面保护效果好,使用便捷。

    电子元件在线高低温检测装置、高低温测试插座及芯片高低温测试方法

    公开(公告)号:CN113406474A

    公开(公告)日:2021-09-17

    申请号:CN202110565106.6

    申请日:2021-05-24

    发明人: 朱小刚

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明揭示了电子元件在线高低温检测装置、高低温测试插座及芯片高低温测试方法,其中电子元件在线高低温检测装置包括测试插座,测试插座的底座主体上具有安装孔或槽,底座主体为第一导热材料制成,底座主体上设置有位于安装孔或槽外侧的加热装置及围设在安装孔或槽四周的介质管道,介质管道为第二导热材料,第二导热材料及第一导热材料的导热系数均不低于300W/m.K,介质管道的入口端连接冷却介质供应管路。本方案将加热及冷却结构集成在底座主体上,结合对材质导热率的设计,加速热传导,有效保证了温度的快速转换实现,且可以完全加载到在线检测系统中,实现电子元件在高低温环境下的功能完整性测试,保证测试结构的可靠性和准确性。

    一种设有上滑块结构的手动测试基座

    公开(公告)号:CN110441671A

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201910652176.8

    申请日:2019-07-18

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/04

    摘要: 本发明公开了一种设有上滑块结构的手动测试基座,包括测试底座和上盖,上盖铰接在测试底座一侧端且能与测试底座翻转压合,测试底座上设有浮板结构,浮板结构内设有芯片槽,上盖上通过其侧端的滑槽在中部设有滑块,滑块中部通过压板槽转动设有压板,压板在上盖压合时与芯片槽正对,压板槽内设有挡舌使压板倾斜设置,滑块上下侧对称的设有复位弹簧和调整螺钉。本发明结构简单,在上盖上采用滑动结构,使得压板旋转压合芯片的过程中,压板与芯片无相对滑动,同时压板的倾斜设置,保证压板与芯片的接触平面近乎平行,避免局部挤压芯片,保证测试可靠性。