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公开(公告)号:CN102569398B
公开(公告)日:2016-06-29
申请号:CN201110230441.7
申请日:2011-08-12
申请人: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
CPC分类号: H01L29/1606 , H01L29/41733 , H01L29/66045 , H01L29/778 , H01L29/78684 , H01L29/78696
摘要: 本发明提供了一种具有多个石墨烯沟道层的石墨烯电子器件。该石墨烯电子器件包括:基板;形成在基板上的栅电极;第一栅绝缘膜,覆盖基板上的栅电极;多个石墨烯沟道层,形成在基板上,并且在多个石墨烯沟道层之间具有第二栅绝缘膜;源电极和漏电极,连接到每个石墨烯沟道层的两边缘。
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公开(公告)号:CN102569398A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201110230441.7
申请日:2011-08-12
申请人: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
CPC分类号: H01L29/1606 , H01L29/41733 , H01L29/66045 , H01L29/778 , H01L29/78684 , H01L29/78696
摘要: 本发明提供了一种具有多个石墨烯沟道层的石墨烯电子器件。该石墨烯电子器件包括:基板;形成在基板上的栅电极;第一栅绝缘膜,覆盖基板上的栅电极;多个石墨烯沟道层,形成在基板上,并且在多个石墨烯沟道层之间具有第二栅绝缘膜;源电极和漏电极,连接到每个石墨烯沟道层的两边缘。
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公开(公告)号:CN101165816B
公开(公告)日:2011-02-23
申请号:CN200710096631.8
申请日:2007-04-19
申请人: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力财团
CPC分类号: G01Q60/30
摘要: 本发明提供了一种具有浮凸电阻性尖端的半导体探针及该半导体探针的制造方法。该半导体探针包括沿交叉悬臂长度方向的第一方向在悬臂上突出到预定高度的突出部分、形成在该突出部分上的浮凸电阻性尖端、和在该突出部分的浮凸电阻性尖端的任一侧形成的第一和第二半导体电极区,其中该悬臂掺杂第一掺杂剂,第一和第二半导体电极区和浮凸电阻性尖端掺杂极性不同于第一掺杂剂的第二掺杂剂,且浮凸电阻性尖端以低于第一和第二半导体电极区的浓度掺杂。
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公开(公告)号:CN1811944A
公开(公告)日:2006-08-02
申请号:CN200510134516.6
申请日:2005-12-08
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: G01Q70/16 , G01Q70/14 , G01Q80/00 , G11B9/1409
摘要: 本发明提供了一种具有电阻性尖端的半导体探针和制造该半导体探针的方法。掺杂有第一杂质的电阻性尖端包括:电阻性区域,形成在电阻性尖端的顶部,轻掺杂有第二杂质,第二杂质与第一杂质的极性相反;第一半导体电极区域和第二半导体电极区域,形成在电阻性尖端的斜侧面上,重掺杂有第二杂质。半导体探针包括:电阻性尖端;悬臂,电阻性尖端位于悬臂的端部上;介电层,位于悬臂上并覆盖电阻性区域;金属屏蔽,位于介电层上并具有形成在与电阻性区域对应的位置处的开口。因此,提高了半导体探针的空间分辨率。
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公开(公告)号:CN1811944B
公开(公告)日:2012-04-04
申请号:CN200510134516.6
申请日:2005-12-08
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: G01Q70/16 , G01Q70/14 , G01Q80/00 , G11B9/1409
摘要: 本发明提供了一种具有电阻性尖端的半导体探针和制造该半导体探针的方法。掺杂有第一杂质的电阻性尖端包括:电阻性区域,形成在电阻性尖端的顶部,轻掺杂有第二杂质,第二杂质与第一杂质的极性相反;第一半导体电极区域和第二半导体电极区域,形成在电阻性尖端的斜侧面上,重掺杂有第二杂质。半导体探针包括:电阻性尖端;悬臂,电阻性尖端位于悬臂的端部上;介电层,位于悬臂上并覆盖电阻性区域;金属屏蔽,位于介电层上并具有形成在与电阻性区域对应的位置处的开口。因此,提高了半导体探针的空间分辨率。
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公开(公告)号:CN101165816A
公开(公告)日:2008-04-23
申请号:CN200710096631.8
申请日:2007-04-19
申请人: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力财团
CPC分类号: G01Q60/30
摘要: 本发明提供了一种具有浮凸电阻性尖端的半导体探针及该半导体探针的制造方法。该半导体探针包括沿交叉悬臂长度方向的第一方向在悬臂上突出到预定高度的突出部分、形成在该突出部分上的浮凸电阻性尖端、和在该突出部分的浮凸电阻性尖端的任一侧形成的第一和第二半导体电极区,其中该悬臂掺杂第一掺杂剂,第一和第二半导体电极区和浮凸电阻性尖端掺杂极性不同于第一掺杂剂的第二掺杂剂,且浮凸电阻性尖端以低于第一和第二半导体电极区的浓度掺杂。
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