半导体装置的制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111903020A

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201880091538.4

    申请日:2018-03-26

    Inventor: 河原弘幸

    Abstract: 具有:在基材之上形成第1半导体层的工序;在第1半导体层之上形成掩模的工序;使用掩模对第1半导体层进行蚀刻,形成半导体构造的工序;在与半导体构造的侧面接触的区域形成第2半导体层的工序,该第2半导体层具有与掩模接触的凸部;凸部去除工序,供给蚀刻气体而去除凸部;以及再生长层形成工序,在半导体构造及第2半导体层之上供给原料气体而形成再生长层,在同一制造装置内实施凸部去除工序及再生长层形成工序。

    光半导体装置以及光半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN112913095A

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN201880098782.3

    申请日:2018-11-01

    Abstract: 本发明的光半导体装置具备:台面(200),在第一导电型基板(10)的表面依次层叠有第一导电型包覆层(11)、活性层(20)、以及具有第二导电型的第二导电型第一包覆层(30);埋入层(50),以使台面(200)的顶部露出的方式将台面(200)的两侧埋入;以及第二导电型第二包覆层(31),将埋入层(50)以及从埋入层(50)露出的台面(200)的顶部埋入,埋入层(50)包含掺杂有半绝缘性材料的层,以使第二导电型第一包覆层(30)的宽度随着朝向台面(200)的顶部而变窄的方式,第二导电型第一包覆层(30)与埋入层(50)的边界(33)倾斜。

    半导体装置、半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN110537302A

    公开(公告)日:2019-12-03

    申请号:CN201780089190.0

    申请日:2017-04-04

    Inventor: 河原弘幸

    Abstract: 本发明涉及的半导体装置的特征在于,具备:衬底;半导体激光器部,其形成于该衬底之上,具有相同组成的有源层和第1脊构造;以及相邻部,其是光调制器或者光波导,形成于该衬底之上,具有相同组成的芯层和第2脊构造,该相邻部与该半导体激光器部接触。并且,该第1脊构造在与该第2脊构造接触的第1接触部处宽度最大,该第2脊构造在与该第1脊构造接触的第2接触部处宽度最大。

    半导体激光器以及半导体激光器制造方法

    公开(公告)号:CN118266139A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202180104326.7

    申请日:2021-11-30

    Abstract: 半导体激光器(100)具备形成于n型半导体基板(1)的脊构造(16)、和以覆盖脊构造(16)的在与延伸方向垂直的方向上相互对置的两侧的方式埋入的埋入层(13)。脊构造(16)具有从n型半导体基板(1)侧依次形成的n型包层(4)、活性层(5)和p型包层(6)。埋入层(13)具有与脊构造(16)的p型包层(6)及活性层(5)的两侧面相接的p型半导体层(7b)和半绝缘层(8),p型半导体层(7b)不与脊构造(16)的n型包层(4)相接。

    半导体装置、半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN110622374B

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN201780090807.0

    申请日:2017-05-19

    Inventor: 河原弘幸

    Abstract: 具备:基板;半导体激光器部,其通过在该基板之上层叠包含有源层在内的多个层而形成;邻接部,其是光调制器或者光波导,通过在该基板之上层叠包含芯层在内的多个层而形成,通过与该半导体激光器部对接接合而与该半导体激光器部相接。特征在于,就该半导体激光器部与该邻接部对接接合的半导体装置而言,至少该半导体激光器部的与该邻接部相接的部分被无序化。

    半导体装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114503382A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN201980101142.8

    申请日:2019-10-15

    Inventor: 河原弘幸

    Abstract: 本申请发明所涉及的半导体装置具备:半导体基板;n型的第1包覆层,设置于半导体基板之上;n型的第2包覆层,设置于第1包覆层之上;活性层,设置于第2包覆层之上;p型的第3包覆层,设置于活性层之上;表面电极,设置于第3包覆层之上;背面电极,设置于半导体基板之下;以及p型的扩散抑制层,设置于第1包覆层与第2包覆层之间。

    半导体装置、半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN110537302B

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN201780089190.0

    申请日:2017-04-04

    Inventor: 河原弘幸

    Abstract: 本发明涉及的半导体装置的特征在于,具备:衬底;半导体激光器部,其形成于该衬底之上,具有相同组成的有源层和第1脊构造;以及相邻部,其是光调制器或者光波导,形成于该衬底之上,具有相同组成的芯层和第2脊构造,该相邻部与该半导体激光器部接触。并且,该第1脊构造在与该第2脊构造接触的第1接触部处宽度最大,该第2脊构造在与该第1脊构造接触的第2接触部处宽度最大。

    半导体元件以及半导体元件的制造方法

    公开(公告)号:CN118786589A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202280092956.1

    申请日:2022-03-17

    Inventor: 河原弘幸

    Abstract: 本发明提供半导体元件以及半导体元件的制造方法。本公开的半导体元件(550)具备第1导电型的InP半导体基板(101)、由在第1导电型的半导体基板(101)之上依次形成的第1导电型的第1半导体层(102)、未掺杂活性层(103)、和第2导电型的半导体层(104)构成的层叠半导体层、形成在层叠半导体层之上的第1导电型的第2半导体层(109)、和形成为与第1导电型的第2半导体层(109)接触的绝缘膜(110),在绝缘膜(110)设置有第1导电型的第2半导体层(109)在底部露出的开口部(110a)。

    半导体装置
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114503382B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN201980101142.8

    申请日:2019-10-15

    Inventor: 河原弘幸

    Abstract: 本申请发明所涉及的半导体装置具备:半导体基板;n型的第1包覆层,设置于半导体基板之上;n型的第2包覆层,设置于第1包覆层之上;活性层,设置于第2包覆层之上;p型的第3包覆层,设置于活性层之上;表面电极,设置于第3包覆层之上;背面电极,设置于半导体基板之下;以及p型的扩散抑制层,设置于第1包覆层与第2包覆层之间。

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