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公开(公告)号:CN118112899A
公开(公告)日:2024-05-31
申请号:CN202410453105.6
申请日:2024-04-15
申请人: 上海泽丰半导体科技有限公司
IPC分类号: G03F9/00
摘要: 本发明涉及半导体测试技术领域,更具体地说,涉及一种探针卡的陶瓷基板定位调节装置及方法。本装置包括探针陶瓷基板、若干定位调节机构、若干掩膜版以及固定基准部件:所述探针陶瓷基板,放置在固定基准部件上方,表面分布探针以及对位标记点;所述掩膜版,设置在固定基准部件上,表面分布用于对位的掩膜版图案;所述定位调节机构,设置在固定基准部件上,并围绕探针陶瓷基板的四周分布;其中,所述定位调节机构,推动探针陶瓷基板在一定范围内进行位移调节,使得对位标记点与掩膜版图案对齐。本发明通过定位调节结构实现探针陶瓷板基板的定位调节和固定,不仅提升了对位精度与作业效率,而且还降低了生产成本和复杂度。