一种用于真空辐射环境下的电子元器件散热方法及系统

    公开(公告)号:CN118946081A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202410831506.0

    申请日:2024-06-25

    IPC分类号: H05K7/20 G21K5/00

    摘要: 本发明涉及一种用于真空辐射环境下的电子元器件散热方法及系统,所述系统基于重离子辐照真空靶室,包括一用于容纳电子元器件的热交换平台;一与热交换平台相连接的输送管道;一冷却剂储存箱;一温度传感器;一PID温控仪;通过控制冷却剂流速,进而控制电子元器件的温度,通过输送管道将冷却剂储存箱中的低温冷却剂输送到热交换平台,通过热交换平台将电子元器件产生的热量传递至低温冷却剂,通过输送管道将吸收热量后的冷却剂输送到真空室外,冷却剂吸收到的热量被释放到大气环境。采用本发明中公开的方法,能够将电子元器件降至预设温度,获得不同温度下电子元器件的单粒子效应截面,为研究电子元器件单粒子效应的物理机制奠定基础。

    一种高压功率器件单粒子效应批量化测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118914789A

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202410826287.7

    申请日:2024-06-25

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明涉及一种高压功率器件单粒子效应批量化测试方法及系统,包括测试板、计算机、样品架、粒子注量测量模块以及束流开关模块;测试板上设置单粒子效应测试电路,单粒子效应测试电路用于对待测器件施加偏置电压并对栅极电流和漏极电流进行实时监测记录,计算机内置控制软件,用于记录单粒子效应数据、控制样品板移动、记录辐照粒子数以及控制束流开关模块;样品架用于将待测器件移动到束流线中心;粒子注量测量模块用于检测辐照到器件表面上的粒子数,束流开关模块用于控制粒子束流的通断。采用本发明中公开的方法,能够快速准确地实现器件单粒子效应截面数据的自动化测量,为器件在轨故障率预估和航天器电子元器件选型奠定基础。

    一种用于辐照效应实验研究的束流均匀性测量装置及方法

    公开(公告)号:CN116699673A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310618254.9

    申请日:2023-05-29

    IPC分类号: G01T1/29 G01T7/00

    摘要: 本发明涉及一种用于辐照效应实验研究的束流均匀性测量装置及方法。本发明通过将样品架设置为包括矩形框体、水平梁、竖直梁的田字格型架体,水平梁的两端与矩形框体的两竖直边固定连接,竖直梁贯穿水平梁的中部从上往下开设的贯通槽、与矩形框体的两水平边滑动连接;并通过将沿着束流方向依次包括前面板、探测器、后面板、压片板的探测器组固定安装在样品架上,前面板上设置多个第一通孔,后面板上对应设置与第一通孔的中心线重合的第二通孔;结合压片板能够将探测器固定安装于第一通孔和第二通孔之间,构成n×n的探测器阵列,结合步进电机控制样品架移动,可以移动探测器阵列次测得多个数据点,以满足辐射效应实验均匀性测量的需求。