一种适用于大范围重离子束流的测量监督装置

    公开(公告)号:CN116643305A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310345690.3

    申请日:2023-04-03

    IPC分类号: G01T1/29 G01R31/00

    摘要: 本发明属于离子束流测量技术领域,具体涉及一种适用于大范围重离子束流的测量监督装置,包括一端设有入射口(6)的辐照靶室(1),所述辐照靶室(1)内设有样品移动平台(2),所述样品移动平台(2)上设有测量探测器,所述测量探测器用于测量从所述入射口(6)中进入的重离子束流的注量率,所述入射口(6)上设有准直器。本发明能够在器件辐照前准确测量不同高度位置处注量率,保障辐照数据的准确性;还能够在器件辐照过程中准确监督辐照到器件表面的总注量且不影响器件辐照实验研究,为星载电子学元器件的抗辐射研究提供基础数据。

    一种回旋加速器单粒子效应地面试验用束流挡束装置

    公开(公告)号:CN115915568A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211535381.4

    申请日:2022-12-02

    IPC分类号: H05H13/00 G01T1/29

    摘要: 本发明属于粒子束流控制技术领域,具体涉及一种回旋加速器单粒子效应地面试验用束流挡束装置,设置在回旋加速器上,包括与控制箱(2)相连的快门装置(1),所述控制箱(2)能够通过无线控制方式、有线控制方式和计算机远程控制方式控制所述快门装置(1)的开关,从而实现对所述回旋加速器产生的离子束的束流的通断操作。本发明成功应用在重离子单粒子效应实验研究中提升了单粒子效应的试验能力,提升束流的利用率,简化了实验流程。

    核反应导致的SEE截面的获取方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN112668232B

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202110010348.9

    申请日:2021-01-05

    IPC分类号: G06F30/25

    摘要: 本公开提供了一种核反应导致的SEE截面的获取方法、装置、设备及介质。其中,该核反应导致的SEE截面的获取方法,应用于微电子器件的核反应导致的单粒子效应的检测,其中,包括:获取次级粒子LET谱;获取重离子SEE截面;以及根据次级粒子LET谱和重离子SEE截面获取核反应导致的SEE截面。因此,本公开实施例的核反应导致的SEE截面的获取方法可以实现通过重离子SEE截面预估核反应导致的SEE截面的理论预测,不仅适用于质子、中子等与硅核反应起主导作用的较低LET阈值器件,同时也适用于与高Z材料核反应起主导作用的高LET阈值器件等一般情形,解决了传统BGR方法无法针对高LET阈值器件,获取精确的核反应导致的SEE截面的技术问题。

    一种基于重离子回旋加速器的单粒子效应模拟辐照装置

    公开(公告)号:CN116400396A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202310201064.7

    申请日:2023-03-02

    摘要: 本发明涉及一种基于重离子回旋加速器的单粒子效应模拟辐照装置,属于抗辐射加固技术领域,该装置包括混合束切换模块、束流线扩束模块、诊断靶室和辐照靶室,诊断靶室内设有束流在线监督模块,辐照靶室内设有束流测量模块,它们之间均通过管道连接;混合束切换模块用于快速提供单离子束流,经束流线扩束模块扩束后得到大面积均匀化的单离子束流,扩束后的单离子束流辐照到辐照靶室内的待测器件上;辐照过程中,通过束流在线监督模块对单离子束流的注量/注量率及束斑均匀性进行监督,通过束流测量模块对束流能量和注量率进行测量。使用本发明提供的装置能够解决大面积均匀束斑的生成、引出到辐照靶室进行辐照、快速换样等问题。

    一种紧凑型多功能靶室装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115762845A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211444319.4

    申请日:2022-11-18

    IPC分类号: G21K5/04

    摘要: 本发明涉及一种紧凑型多功能靶室装置,包括靶室主体,所述靶室主体上设有用于抽真空的泵口,在靶室主体内沿束流入射方向的最前方设有束斑观测系统,所述束斑观测系统后方设置束流监测系统,所述束流监测系统的后方设置小样品快速换样系统,所述小样品快速换样系统的后方设置束流诊断系统,所述束流诊断系统的后方设置高低温控制系统。本发明可以用一个靶室准确方便的对离子束流进行诊断,进行样品辐照,对样品进行温度控制等操作,操作简便,节约了大量制作成本,实现了功能多样化。

    多叶法拉第筒、多叶法拉第筒测量系统及其应用

    公开(公告)号:CN112782747B

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202110010455.1

    申请日:2021-01-05

    IPC分类号: G01T1/29

    摘要: 本公开提供一种多叶法拉第筒、多叶法拉第筒测量系统及其应用。该多叶法拉第筒适用于大气环境测量,其包括多个交替排列的导体和绝缘体,导体和绝缘体通过绝缘的紧固件紧密连接;其中,导体用于沉积被测束流中被测粒子所带的电荷,绝缘体用于阻挡导体上产生的二次电子在相邻导体间扩散。上述多叶法拉第筒结构简单、占用空间小,其紧凑型结构可以将装置中的空气排出,较大幅度地降低多叶法拉第筒在大气环境下测量的本底噪声,提高了测试精确度和准确度。基于上述多叶法拉第筒,本公开的多叶法拉第筒测量系统能够在大气环境下实现对不同能量范围质子束流自动化测量,保证了测量过程的安全性,且操作方便快捷。

    重离子微束辐照装置、系统及控制方法

    公开(公告)号:CN112562882A

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN202011419739.8

    申请日:2020-12-07

    IPC分类号: G21K5/10 G21K5/04

    摘要: 本公开提供了一种重离子微束辐照装置、系统及控制方法。其中,重离子微束辐照装置包括调节平台,调节平台沿重离子束流的入射路径设置;调节平台包括针孔架,针孔架沿入射路径设置于调节平台上,针孔架的针孔轴线与入射路径共轴平行,以形成高质量微束;调节平台用于控制针孔架的位置,以实现针孔轴线与入射路径共轴平行。通过调节平台的控制,实现针孔轴线与重离子束流的入射路径共轴平行,使得针孔架的针孔实现了对束径的限制,对重离子质量和能量的影响较小,得到了亚微米级高质量微束,成本低、周期短,同时还实现了高质量微束的精准控制,控制操作更加智能,自动化程度更高。

    一种用于真空辐射环境下的电子元器件散热方法及系统

    公开(公告)号:CN118946081A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202410831506.0

    申请日:2024-06-25

    IPC分类号: H05K7/20 G21K5/00

    摘要: 本发明涉及一种用于真空辐射环境下的电子元器件散热方法及系统,所述系统基于重离子辐照真空靶室,包括一用于容纳电子元器件的热交换平台;一与热交换平台相连接的输送管道;一冷却剂储存箱;一温度传感器;一PID温控仪;通过控制冷却剂流速,进而控制电子元器件的温度,通过输送管道将冷却剂储存箱中的低温冷却剂输送到热交换平台,通过热交换平台将电子元器件产生的热量传递至低温冷却剂,通过输送管道将吸收热量后的冷却剂输送到真空室外,冷却剂吸收到的热量被释放到大气环境。采用本发明中公开的方法,能够将电子元器件降至预设温度,获得不同温度下电子元器件的单粒子效应截面,为研究电子元器件单粒子效应的物理机制奠定基础。

    一种高压功率器件单粒子效应批量化测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118914789A

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202410826287.7

    申请日:2024-06-25

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明涉及一种高压功率器件单粒子效应批量化测试方法及系统,包括测试板、计算机、样品架、粒子注量测量模块以及束流开关模块;测试板上设置单粒子效应测试电路,单粒子效应测试电路用于对待测器件施加偏置电压并对栅极电流和漏极电流进行实时监测记录,计算机内置控制软件,用于记录单粒子效应数据、控制样品板移动、记录辐照粒子数以及控制束流开关模块;样品架用于将待测器件移动到束流线中心;粒子注量测量模块用于检测辐照到器件表面上的粒子数,束流开关模块用于控制粒子束流的通断。采用本发明中公开的方法,能够快速准确地实现器件单粒子效应截面数据的自动化测量,为器件在轨故障率预估和航天器电子元器件选型奠定基础。