短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法

    公开(公告)号:CN116295843A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202211618397.1

    申请日:2022-12-15

    IPC分类号: G01J4/00

    摘要: 本发明涉及等离子物理核探测技术领域,尤其是提供一种短脉冲X射线源偏振测量仪及偏振测量方法,其中测量方法包括:入射的X射线通过准直组件落入散射体上以产生散射光子,并通过半导体像素探测器探测出散射光子信号;利用半导体像素探测器获取散射光子能量的测量值E1,基于测量值E1计算出X射线光子的能量E0;利用半导体像素探测器获取散射光子像素位置;基于散射光子像素位置,然后通过数据拟合获取X射线的偏振方向和偏振度。其目的在于,用以解决现有偏振测量仪无法在未知X射线偏振方向的情况下,快速测量偏振度并实现对入射X射线能量测量的问题,实现对短脉冲X射线源偏振度和能谱的单发测量功能。

    一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统

    公开(公告)号:CN111487668B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202010466419.1

    申请日:2020-05-28

    IPC分类号: G01T1/36 G01T1/29

    摘要: 本发明公开了一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,通过瞄准激光组件依次调节所述伽马滤片堆栈谱仪模块、所述电子‑质子谱仪模块以及所述多辐射源角分布测量模块,使得所述多辐射源角分布测量模块、所述电子‑质子谱仪模块、所述伽玛滤片堆栈谱仪模块和所述瞄准激光组件发射的激光同轴;采用本发明所提供的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,可实现对多辐射源的透射激光角分布、质子、电子角分布和能谱以及伽玛射线能谱等物理量的同时同轴测量,并且排除了激光发次的抖动以及不同测量角度的影响,获得了更加关联和精准的物理量数据,对于理解激光靶物理过程具有重要意义。

    一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统

    公开(公告)号:CN111487668A

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN202010466419.1

    申请日:2020-05-28

    IPC分类号: G01T1/36 G01T1/29

    摘要: 本发明公开了一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,通过瞄准激光组件依次调节所述伽马滤片堆栈谱仪模块、所述电子-质子谱仪模块以及所述多辐射源角分布测量模块,使得所述多辐射源角分布测量模块、所述电子-质子谱仪模块、所述伽玛滤片堆栈谱仪模块和所述瞄准激光组件发射的激光同轴;采用本发明所提供的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,可实现对多辐射源的透射激光角分布、质子、电子角分布和能谱以及伽玛射线能谱等物理量的同时同轴测量,并且排除了激光发次的抖动以及不同测量角度的影响,获得了更加关联和精准的物理量数据,对于理解激光靶物理过程具有重要意义。

    一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统

    公开(公告)号:CN212275989U

    公开(公告)日:2021-01-01

    申请号:CN202020929999.9

    申请日:2020-05-28

    IPC分类号: G01T1/36 G01T1/29

    摘要: 本实用新型公开了一种超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,通过瞄准激光组件依次调节所述伽马滤片堆栈谱仪模块、所述电子‑质子谱仪模块以及所述多辐射源角分布测量模块,使得所述多辐射源角分布测量模块、所述电子‑质子谱仪模块、所述伽玛滤片堆栈谱仪模块和所述瞄准激光组件发射的激光同轴;采用本实用新型所提供的超强激光驱动多辐射源的同轴测量系统,可实现对多辐射源的透射激光角分布、质子、电子角分布和能谱以及伽玛射线能谱等物理量的同时同轴测量,并且排除了激光发次的抖动以及不同测量角度的影响,获得了更加关联和精准的物理量数据,对于理解激光靶物理过程具有重要意义。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利