纳米晶二氧化钛功能薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN113235048A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110484165.0

    申请日:2021-04-30

    摘要: 本发明是关于一种纳米晶二氧化钛功能薄膜及其制备方法。该纳米晶二氧化钛功能薄膜,包括交替层叠设置的二氧化钛膜层和晶粒生长抑制膜层,所述的晶粒生长抑制膜层为无定形结构的金属氧化物层,所述晶粒生长抑制膜层的厚度为0.5~1.5nm。本发明通过在二氧化钛薄膜中引入晶粒生长抑制膜层,起到晶粒生长抑制剂的作用,可有效控制二氧化钛晶粒的生长,使二氧化钛的晶粒尺寸控制在设定的范围内,同时晶粒生长抑制膜层在整个薄膜结构中占比较低,对二氧化钛薄膜的性能影响不大,可最大程度上发挥出二氧化钛薄膜的性能优势。

    微纳光栅表面粗糙度的无损检测方法

    公开(公告)号:CN114264275A

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202111621883.4

    申请日:2021-12-28

    IPC分类号: G01B21/30

    摘要: 本发明公开了一种微纳光栅表面粗糙度的无损检测方法,包括如下步骤:用去离子水、无水乙醇和异丙醇对微纳光栅进行超声清洗,氮气吹干将三甲基氯硅烷滴到表面皿中,与微纳光栅一同置于真空干燥环境下,使三甲基氯硅烷充分钝化微纳光栅的表面;将固化剂加入聚二甲基硅氧烷中,混合均匀,消泡,得到PDMS混合物;将PDMS混合物倒在表面皿中,再将微纳光栅置于PDMS混合物表面,将附着PDMS混合物的微纳光栅置于真空干燥环境中脱气、固化,得到凝固仍带有微纳光栅的硅胶膜;将该硅胶膜与微纳光栅进行脱模,用硅胶模进行粗糙度测试。本发明可实现对微纳光栅表面难以测量的侧壁、槽底、深孔等复杂结构进行采集和复制,为复杂的微纳结构表面粗糙度测试提供了新思路。