一种磁阻元件测试工装和测试系统

    公开(公告)号:CN112345806B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202011164810.2

    申请日:2020-10-27

    IPC分类号: G01R1/04

    摘要: 本申请公开了一种磁阻元件的测试工装和测试系统,测试工装包括工装本体和压紧机构。工装本体包括工作面和探针,工作面配置成承载磁阻元件,探针配置成与置于工作面的磁阻元件的引脚相对设置,并在测试时与外部测试装置连接。压紧机构包括压紧面,压紧面配置成压紧置于工作面的磁阻元件,且使得探针与引脚接触。通过本申请的测试工装,在对磁阻元件进行测试时,无需将测试线路与磁阻元件进行电线连接,从而省去了接线、拆线操作,使得磁阻元件的测试操作更简单,同时,降低了人工操作过多带来的不稳定性,使得磁阻元件的测试结果更准确。

    一种磁阻元件测试工装和测试系统

    公开(公告)号:CN112345806A

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202011164810.2

    申请日:2020-10-27

    IPC分类号: G01R1/04

    摘要: 本申请公开了一种磁阻元件的测试工装和测试系统,测试工装包括工装本体和压紧机构。工装本体包括工作面和探针,工作面配置成承载磁阻元件,探针配置成与置于工作面的磁阻元件的引脚相对设置,并在测试时与外部测试装置连接。压紧机构包括压紧面,压紧面配置成压紧置于工作面的磁阻元件,且使得探针与引脚接触。通过本申请的测试工装,在对磁阻元件进行测试时,无需将测试线路与磁阻元件进行电线连接,从而省去了接线、拆线操作,使得磁阻元件的测试操作更简单,同时,降低了人工操作过多带来的不稳定性,使得磁阻元件的测试结果更准确。

    一种电源芯片的测试系统及方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112630625A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202011609302.0

    申请日:2020-12-30

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明公开了一种电源芯片的测试系统及方法,所述系统包括:被测芯片负载板,分别与被测电源芯片和被测芯片接口相连接,用于承载所述被测电源芯片,实现所述被测电源芯片和被测芯片接口之间的连接;控制板,分别与被测芯片接口和至少一个资源接口相连接,用于实现被测芯片和测试资源的电连接;测试资源,分别与所述资源接口和上位机相连接,用于根据上位机发送的控制指令输出相应的资源信号至被测电源芯片;上位机,用于通过调用测试资源的驱动程序发送控制指令至测试资源;用于获取被测芯片输出的响应信息,并基于所述响应信息确定被测电源芯片的测试结果。本发明能够实现不同的测试场景下任意切换,提高了设备的可复用性,提高了生产效率。