一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置及方法

    公开(公告)号:CN116148740A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211062145.5

    申请日:2022-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置及方法,所述装置包括:采集设备、控制单元、信号源和辐射板天线,所述瞬态干扰测量系统包括:电场探头和示波器;其中,采集设备,用于发送控制指令至控制单元,用于获取电场探头测量到的电场强度数据;控制单元,用于对信号源输出的电压信号进行控制;信号源,用于输出所述电压信号至辐射板天线;辐射板天线,用于基于所述电压信号产生电磁场;电场探头,置于所述辐射板天线中间,用于对所述电磁场的电场强度数据进行测量;示波器,用于对电场探头测量到的电场强度数据进行显示。本发明装置能够准确地确定瞬态干扰测系统的量程,能够为提高瞬态干扰测量系统的测量准确度提供支撑。

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