公开(公告)号：CN116623182A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202310616261.5

申请日：2023-05-29

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 周阳磊 ,  陈泽坚 ,  刘凯 ,  洪瑛旭 ,  柯自攀 ,  吕海强 ,  关良伟 ,  方贵练 ,  肖慧

IPC分类号： C23F1/34 ,  C23F1/32 ,  C23F1/40 ,  C09K13/00 ,  H05K3/06 ,  G01N1/32

摘要： 本发明涉及一种界面合金共化物刻蚀液、刻蚀方法和制样方法。界面合金共化物刻蚀液包括以下体积分数的原料：氨水45％～55％和双氧水45％～55％；其中，所述氨水的质量分数为25％～28％，所述双氧水的质量分数为30％～50％。该刻蚀溶液仅通过一次刻蚀就能同时刻蚀界面合金共化物中的锡、铜、银、铅、金、镍等多种金属，并使各金属界面暴露出清晰分明的内部纹理，有利于后续进行电路板的可靠性分析。该界面合金共化物刻蚀液的原料简单、成本低廉、配制方便、刻蚀时间短，适用于界面合金共化物的大批量快速实验。

公开(公告)号：CN117147256A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202311119924.9

申请日：2023-08-31

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 周波 ,  洪瑛旭 ,  何骁 ,  刘凯 ,  陈泽坚 ,  张岩松 ,  黄俊淳 ,  朱海泉

IPC分类号： G01N1/28 ,  G01N1/36 ,  G01N1/44

摘要： 本发明涉及一种对电路板进行局部保护的金相切片制样方法，其中，该方法包括：对原始样品中无需进行切片分析的对象涂覆水玻璃，待无需进行切片分析的对象的水玻璃固化后，得到第一中间态样品；将第三中间态样品浸入水溶液，使水溶液溶解水玻璃形成的保护层而解封出无需进行切片分析的对象等步骤。本申请能够便于无损的在切片分析完成后从固封的环氧树脂中取出被保护的目标区域，极大地降低了目标区域被损伤的风险，提高了检测分析效率，确保样品在下一步分析中的完整性，从而提升整个检测分析过程中金相切片制样的品质和安全性。

公开(公告)号：CN111272034A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN202010087923.0

申请日：2020-02-12

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 周波 ,  何骁 ,  贺光辉 ,  邹雅冰 ,  刘凯 ,  沈江华 ,  李星星

IPC分类号： G01B3/18 ,  G01B3/20 ,  G01B5/14

摘要： 本发明涉及一种切片调整装置及其调整方法，切片调整装置支架、安装组件及低压组件，安装组件及抵压组价均设置于支架上并相对设置，可变形膏体设置于安装平台上。将待观测切片放置于可变形膏体上，调节抵压组件向朝向安装平台的方向移动，由于可变形膏体在受力后能够变形，进而能够将待观测切片的部分压入可变形膏体中。利用可变形膏体能够有效固定待观测切片，同时利用可变形膏体可变形的特点，能够根据抵压面调节待观测面的位置及水平度，实现待观测面的位置及水平度的调节，便于后续的检测观察和分析。通过上述切片调整装置能够方便提升切片待观测面的水平度及待观测面的位置，进而能够提升检测分析结果和检测数据的准确性。

公开(公告)号：CN117452176B

公开(公告)日：2024-04-02

申请号：CN202311786835.X

申请日：2023-12-25

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 陈泽坚 ,  吕海强 ,  柯自攀 ,  刘凯 ,  方树森 ,  洪瑛旭 ,  肖美珍 ,  何骁 ,  陈文泱 ,  朱海泉

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R1/04

摘要： 本申请涉及一种器件耐功率测试系统、方法和夹具。所述系统包括：测试夹具，用于安装待测器件；网络分析仪，用于采集待测器件的性能参数；信号源，连接于待测器件，用于提供待测器件所需的测试信号；第一功率计，用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值；第二功率计，用于检测待测器件输出端的输出功率值；计算单元，用于根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件是否达到耐功率状态，并根据待测器件在耐功率状态下对应的性能参数，判断待测器件是否失效。采用本方法能够准确掌握器件的最大耐功率值。

公开(公告)号：CN117452176A

公开(公告)日：2024-01-26

申请号：CN202311786835.X

申请日：2023-12-25

申请人： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

发明人： 陈泽坚 ,  吕海强 ,  柯自攀 ,  刘凯 ,  方树森 ,  洪瑛旭 ,  肖美珍 ,  何骁 ,  陈文泱 ,  朱海泉

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R1/04

摘要： 本申请涉及一种器件耐功率测试系统、方法和夹具。所述系统包括：测试夹具，用于安装待测器件；网络分析仪，用于采集待测器件的性能参数；信号源，连接于待测器件，用于提供待测器件所需的测试信号；第一功率计，用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值；第二功率计，用于检测待测器件输出端的输出功率值；计算单元，用于根据输入功率值和输出功率值，确定待测器件是否达到耐功率状态，并根据待测器件在耐功率状态下对应的性能参数，判断待测器件是否失效。采用本方法能够准确掌握器件的最大耐功率值。