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公开(公告)号：CN117392242A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311689964.7
申请日：2023-12-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06T7/80
Abstract: 本申请涉及一种成像系统标定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：通过根据扫描电子显微镜SEM的样品台运动前，SEM的成像系统采集的第一SEM图像，确定施加至样品台在世界坐标系下的第一运动量，然后根据第一SEM图像和基于第一运动量控制样品台运动后成像系统采集的第二SEM图像，确定在图像坐标系下的第二运动量，最后根据第一运动量、第二运动量和成像模型，对成像系统进行标定。由于本申请实施例中无需针对成像系统不同的放大倍数更换不同的定制化高精度标定模板，而是根据第一运动量、第二运动量和成像模型确定参数，从而对成像系统进行标定，因此简化了标定操作，提高了操作的灵活性，省时省力，节约了成本。
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公开(公告)号：CN118385994B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410815838.X
申请日：2024-06-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种开帽装置，包括安装本体、驱动机构、第一摆臂、第二摆臂、第一刀具及第二刀具。驱动机构用于装夹封装器件，并带动封装器件绕中心轴线转动。第一摆臂与第二摆臂可转动地连接于安装本体，第一刀具及第二刀具分别设于第一摆臂及第二摆臂。底座设有挤压部。当安装本体沿中心轴线相对挤压部移动时，第一摆臂及第二摆臂相对安装本体转动，使得第一刀具及第二刀具抵持于封装器件的周侧壁，以在封装器件绕中心轴线转动时，切割封装器件。上述方案操作简单，能够兼顾低成本的同时提高切割控制的精确度，进而降低封装器件内部形貌损伤几率。另外，由于第一刀具和第二刀具均是在挤压部内运动，从而不会裸露而割伤操作人员。
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公开(公告)号：CN117392242B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311689964.7
申请日：2023-12-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06T7/80
Abstract: 本申请涉及一种成像系统标定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：通过根据扫描电子显微镜SEM的样品台运动前，SEM的成像系统采集的第一SEM图像，确定施加至样品台在世界坐标系下的第一运动量，然后根据第一SEM图像和基于第一运动量控制样品台运动后成像系统采集的第二SEM图像，确定在图像坐标系下的第二运动量，最后根据第一运动量、第二运动量和成像模型，对成像系统进行标定。由于本申请实施例中无需针对成像系统不同的放大倍数更换不同的定制化高精度标定模板，而是根据第一运动量、第二运动量和成像模型确定参数，从而对成像系统进行标定，因此简化了标定操作，提高了操作的灵活性，省时省力，节约了成本。
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公开(公告)号：CN117591691A
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202311591582.0
申请日：2023-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种数据库构建方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：根据预设缺陷特征信息获取多种电路外壳的原始图像数据；对多种电路外壳的原始图像数据进行滤波处理和均衡处理，得到多种电路外壳的目标图像数据。对多种电路外壳的目标图像数据进行缺陷标注处理，得到多种电路外壳的目标图像数据的缺陷标注信息。根据多种电路外壳的目标图像数据以及对应的缺陷标注信息，得到缺陷图像数据库。本申请实施例，通过获取不同类型的电路外壳的原始图像数据，构建缺陷图像数据库，从而有利于提高基于该缺陷图像数据库训练得到的缺陷检测模型的电路外壳缺陷检测和分析的准确性。
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公开(公告)号：CN117832041A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410013607.7
申请日：2024-01-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种过模慢波结构和行波管。所述过模慢波结构包括：相对设置的第一周期性波导和第二周期性波导；在第一方向，所述第一周期性波导和所述第二周期性波导相对设置的端面分别为具有周期性变化波动起伏的端面；所述第一周期性波导的波谷部设有第一开口和第二开口，所述第二周期性波导的波峰部设有第三开口和第四开口，所述第一开口与所述第三开口相对设置，各所述第一开口与各所述第三开口在所述第一方向上连通形成第一带状电子注通道；所述第二开口与所述第四开口相对设置，各所述第二开口与各所述第四开口在所述第一方向上连通形成第二带状电子注通道。采用上述过模慢波结构可以提升行波管的器件性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117538180A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311468328.1
申请日：2023-11-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种扭矩试验装置，用于对封装器件进行扭矩试验，封装器件具有盖体与基板。其中，扭矩试验装置包括第一夹具、第二夹具、扭矩传感器及电机组件，第一夹具及第二夹具相对设置，且分别用于夹紧盖体与基板，电机组件与第一夹具相连接，电机组件用于对第一夹具施加扭矩，以使得第一夹具将扭矩传递至盖体，扭矩传感器设于电机组件及第一夹具之间，用于感应施加的扭矩大小。上述扭矩试验装置，通过电机组件配合第一夹具以施加扭矩的方式，如此能够利用电机输出扭矩可调的特性，实现扭矩逐步平稳地施加，从而提高试验效率及确保试验的准确性。
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公开(公告)号：CN117086650A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202311010842.0
申请日：2023-08-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种开封装置及开封方法。该开封装置包括第一刀具、第二刀具、驱动机构、样品台与升降机构，第一刀具用于分离待开封器件中的盖板与基体。第二刀具与第一刀具间隔相对设置，第二刀具用于分离待开封器件中的盖板与基体。驱动机构与第一刀具以及第二刀具均连接，驱动机构能够驱动第一刀具与第二刀具相向或相背移动。样品台位于第一刀具与第二刀具之间，样品台用于承载待开封器件。升降机构连接样品台，升降机构能够驱动样品台靠近或远离第一刀具与第二刀具。本申请中，第一刀具与第二刀具能够同时对待开封器件进行开封，这不仅能够有效地提高开封效率，而且不会破坏内部器件形貌以及内部芯片结构，有利于对开封后的器件进行后续检查。
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公开(公告)号：CN118385994A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410815838.X
申请日：2024-06-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种开帽装置，包括安装本体、驱动机构、第一摆臂、第二摆臂、第一刀具及第二刀具。驱动机构用于装夹封装器件，并带动封装器件绕中心轴线转动。第一摆臂与第二摆臂可转动地连接于安装本体，第一刀具及第二刀具分别设于第一摆臂及第二摆臂。底座设有挤压部。当安装本体沿中心轴线相对挤压部移动时，第一摆臂及第二摆臂相对安装本体转动，使得第一刀具及第二刀具抵持于封装器件的周侧壁，以在封装器件绕中心轴线转动时，切割封装器件。上述方案操作简单，能够兼顾低成本的同时提高切割控制的精确度，进而降低封装器件内部形貌损伤几率。另外，由于第一刀具和第二刀具均是在挤压部内运动，从而不会裸露而割伤操作人员。
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公开(公告)号：CN118150468A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410385746.2
申请日：2024-04-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N19/04
Abstract: 本申请涉及一种耐溶剂性试验装置及试验方法，该耐溶剂性试验装置包括第一夹具、第一驱动组件、第二夹具与擦拭驱动组件，第一夹具用于连接待试验件。第一驱动组件与第一夹具连接，第一驱动组件用于驱动第一夹具，以使待试验件浸没于试剂或离开试剂。第二夹具用于连接擦拭件，第二夹具位于第一夹具的一侧。擦拭驱动组件与第二夹具连接，擦拭驱动组件用于带动第二夹具，以使擦拭件浸没于试剂或离开试剂，并使擦拭件能够沿第一方向以预定作用力擦拭待试验件表面。该耐溶剂性试验装置不仅能够准确地控制擦拭件在擦拭过程中施加至待试验件的作用力，且能够保证擦拭件在擦拭过程中沿同一方向移动以擦拭待试验件的表面，进而能够确保试验结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN116051615A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202310077044.3
申请日：2023-01-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种图像信号处理方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：从多种探测器各自对目标样品采集的图像信号中，确定待配准图像信号与未配准图像信号；基于未配准图像信号，对待配准图像信号进行图像配准，得到已配准图像信号；获取已配准图像信号与未配准图像信号各自的近似层，针对每一图像信号，基于图像信号的近似层，获得图像信号的细节层；基于已配准图像信号与未配准图像信号各自的近似层，获得目标近似层，基于已配准图像信号与未配准图像信号各自的细节层，获得目标细节层，融合目标近似层与目标细节层，得到目标图像信号。采用本方法能够高效、低成本地提高弱导电性样品或非导电性样品在扫描电子显微镜中的成像质量。
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