公开(公告)号：CN113901675A

公开(公告)日：2022-01-07

申请号：CN202111495488.6

申请日：2021-12-09

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 刘树强 ,  何亮 ,  余思达 ,  蔡金宝

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本申请涉及一种电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质。包括：确定标准电子元器件的特性参数和第一工况条件；获取预设温度下的标准电子元器件的第一试验寿命；确定标准电子元器件的加速倍数；获取待预测电子元器件的第二工况条件，根据标准电子元器件的加速倍数、第二工况条件、待预测电子元器件的特性参数，确定使待预测电子元器件的加速倍数与标准电子元器件的加速倍数相等时的试验温度；根据第一工况条件和第二工况条件，确定工况差异倍数；根据第一试验寿命和工况差异倍数，确定待预测电子元器件在试验温度下的第二试验寿命。从而能够预测其他工况的电子元器件的寿命，缩短了试验时间，节省了试验成本。

公开(公告)号：CN115932539A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211481349.2

申请日：2022-11-24

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 詹婉妮 ,  蔡金宝 ,  郑曾雄

IPC: G01R31/28 ,  G01R27/02

Abstract: 本申请涉及一种FPC高速接口电路的阻抗测试接口模块、阻抗测试装置和阻抗测试系统。该测试接口模块包括多个不同类型的插头、多条延长排线和对应的焊盘测试点；多个不同类型的插头用于安装对应类型的连接器；其中，连接器用于连接待测试PFC高速接口电路；每条延长排线的一侧对应连接一插头，另一侧扇出对应的焊盘测试点，焊盘测试点用于连接阻抗测试设备的测试探头。由此，该测试接口模块能够适配不同的连接器，使得阻抗测试设备可以检测PFC高速接口电路的阻抗值，显著提高检测工作的便利性，利于高速接口电路设计工作的正常推进，提高工作效率。

公开(公告)号：CN118980910A

公开(公告)日：2024-11-19

申请号：CN202411097533.6

申请日：2024-08-12

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 翟芳 ,  胡湘洪 ,  詹婉妮 ,  蔡金宝 ,  郑曾雄

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请涉及一种器件故障位置确定方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取待检测器件的第一阻抗值组，第一阻抗值组中包括待检测器件在转接模块的至少两个第一检测点上的第一阻抗值，且各第一检测点与对应的球栅阵列点电连接，检测点类别与对应的球栅阵列点的传输信号类别相关；获取标准器件的第二阻抗值组，第二阻抗值组中包括标准器件在至少两个第二检测点上的第二阻抗值，至少两个第二检测点与至少两个第一检测点一一对应；对比第一阻抗值组和第二阻抗值组，确定待检测器件的故障位置信息，故障位置信息包括故障阵列点。采用本方法能够实现对集成电路的故障定位。

公开(公告)号：CN116298618A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202310227460.7

申请日：2023-03-09

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 田万春 ,  侯旎璐 ,  蔡金宝 ,  肖慧 ,  李伟明

IPC: G01R31/00

Abstract: 本申请提供一种汽车电子组件的DVPV检测方法、装置、电子设备和存储介质，其中，汽车电子组件的DVPV检测方法包括：对目标汽车电子组件进行低温步进应力试验，以确定所述目标汽车电子组件的低温工作极限温度范围；对目标汽车电子组件进行高温步进应力试验，以确定所述目标汽车电子组件的高温工作极限温度范围；对目标汽车电子组件进行振动步进应力试验，以确定所述目标汽车电子组件的振动工作极限；基于所述低温工作极限温度范围、所述高温工作极限温度范围进行温度循环试验，和基于所述振动工作极限进行温循和振动相结合的复合试验，以得到所述目标汽车电子组件的HALT试验结果。本申请至少能够克服现有技术无法有效激发出产品的设计缺陷这一缺陷。

公开(公告)号：CN113901675B

公开(公告)日：2022-04-19

申请号：CN202111495488.6

申请日：2021-12-09

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 刘树强 ,  何亮 ,  余思达 ,  蔡金宝

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04

Abstract: 本申请涉及一种电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质。包括：确定标准电子元器件的特性参数和第一工况条件；获取预设温度下的标准电子元器件的第一试验寿命；确定标准电子元器件的加速倍数；获取待预测电子元器件的第二工况条件，根据标准电子元器件的加速倍数、第二工况条件、待预测电子元器件的特性参数，确定使待预测电子元器件的加速倍数与标准电子元器件的加速倍数相等时的试验温度；根据第一工况条件和第二工况条件，确定工况差异倍数；根据第一试验寿命和工况差异倍数，确定待预测电子元器件在试验温度下的第二试验寿命。从而能够预测其他工况的电子元器件的寿命，缩短了试验时间，节省了试验成本。