一种低本底的α、β射线探测装置

    公开(公告)号:CN113433581B

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202110712022.0

    申请日:2021-06-25

    IPC分类号: G01T1/28 G01T1/167 G01T1/24

    摘要: 本发明公开了一种低本底的α、β射线探测装置,涉及探测装置技术领域,包括第一射线探测器和第二射线探测器,第一射线探测器的入射窗口上用于放置样品,且第一射线探测器能够探测到样品中的α射线和β射线的径迹,第一射线探测器与第二射线探测器在竖直方向上堆叠设置,且第一射线探测器与样品在竖直方向上堆叠设置。该低本底的α、β射线探测装置能够将样品的α、β射线与环境放射性以及宇宙线本底进行区分,同时实现设备轻量化。

    一种低本底的α、β射线探测装置

    公开(公告)号:CN113433581A

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN202110712022.0

    申请日:2021-06-25

    IPC分类号: G01T1/28 G01T1/167 G01T1/24

    摘要: 本发明公开了一种低本底的α、β射线探测装置,涉及探测装置技术领域,包括第一射线探测器和第二射线探测器,第一射线探测器的入射窗口上用于放置样品,且第一射线探测器能够探测到样品中的α射线和β射线的径迹,第一射线探测器与第二射线探测器在竖直方向上堆叠设置,且第一射线探测器与样品在竖直方向上堆叠设置。该低本底的α、β射线探测装置能够将样品的α、β射线与环境放射性以及宇宙线本底进行区分,同时实现设备轻量化。