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公开(公告)号：CN106569327B
公开(公告)日：2020-02-28
申请号：CN201610962759.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: G02B23/24
Abstract: 本发明属于自动化检测技术领域，具体提供一种包含内窥镜套件的工业内窥镜检测系统。本发明旨在解决内窥镜如何直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线以及如何长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像的问题。本发明的内窥镜套件主要包括内窥镜、设置于内窥镜一端的相机、用于固定相机的U型支架和与U型支架可滑动连接的调整支架，U型支架能够沿设置在其底部的滑轨在内窥镜的长度方向上滑动，调整支架设置有与内窥镜可滑动连接的安装位，使得调整支架能够沿内窥镜的长度方向滑动，并因此调节内窥镜伸出调整支架的长度。本发明的工业内窥镜检测系统能够直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线并能长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像。
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公开(公告)号：CN105798692A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610269269.9
申请日：2016-04-27
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: B23Q7/04
CPC classification number: B23Q7/046
Abstract: 本发明公开了一种插针式自动上料定位装置，所述装置至少包括：零件运送组件包括机械手爪(10)、输送气缸(2)、调整气缸(3)及直线输送导轨(4)，其中，所述机械手爪(10)末端设有第一V型槽，所述直线输送导轨(4)设有第一滑块；插针轴向定位上料组件包括定位插针(8)、旋转部件(9)、直线上料部件(5)，其中，所述直线上料部件(5)包括上料气缸和直线上料导轨；V型槽定位夹紧组件(6)包括固定座、弹性组件、压块连杆组件、压紧块及阻压气缸，其中，所述固定座上设有第二V型槽。所述零件运送组件、插针轴向定位上料组件、V型槽定位夹紧组件都固定在底板(11)上。通过本发明实施例，解决了如何快速地对带有深孔的微小轴类零件进行自动上料和定位的技术问题。
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公开(公告)号：CN105798692B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201610269269.9
申请日：2016-04-27
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: B23Q7/04
Abstract: 本发明公开了一种插针式自动上料定位装置，所述装置至少包括：零件运送组件包括机械手爪(10)、输送气缸(2)、调整气缸(3)及直线输送导轨(4)，其中，所述机械手爪(10)末端设有第一V型槽，所述直线输送导轨(4)设有第一滑块；插针轴向定位上料组件包括定位插针(8)、旋转部件(9)、直线上料部件(5)，其中，所述直线上料部件(5)包括上料气缸和直线上料导轨；V型槽定位夹紧组件(6)包括固定座、弹性组件、压块连杆组件、压紧块及阻压气缸，其中，所述固定座上设有第二V型槽。所述零件运送组件、插针轴向定位上料组件、V型槽定位夹紧组件都固定在底板(11)上。通过本发明实施例，解决了如何快速地对带有深孔的微小轴类零件进行自动上料和定位的技术问题。
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公开(公告)号：CN106569327A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610962759.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: G02B23/24
Abstract: 本发明属于自动化检测技术领域，具体提供一种包含内窥镜套件的工业内窥镜检测系统。本发明旨在解决内窥镜如何直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线以及如何长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像的问题。本发明的内窥镜套件主要包括内窥镜、设置于内窥镜一端的相机、用于固定相机的U型支架和与U型支架可滑动连接的调整支架，U型支架能够沿设置在其底部的滑轨在内窥镜的长度方向上滑动，调整支架设置有与内窥镜可滑动连接的安装位，使得调整支架能够沿内窥镜的长度方向滑动，并因此调节内窥镜伸出调整支架的长度。本发明的工业内窥镜检测系统能够直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线并能长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像。
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公开(公告)号：CN206235776U
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201621185771.3
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: G02B23/24
Abstract: 本实用新型属于自动化检测技术领域，具体提供一种包含内窥镜套件的工业内窥镜检测系统。本实用新型旨在解决内窥镜如何直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线以及如何长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像的问题。本实用新型的内窥镜套件主要包括内窥镜、设置于内窥镜一端的相机、用于固定相机的U型支架和与U型支架可滑动连接的调整支架，U型支架能够沿设置在其底部的滑轨在内窥镜的长度方向上滑动，调整支架设置有与内窥镜可滑动连接的安装位，使得调整支架能够沿内窥镜的长度方向滑动，并因此调节内窥镜伸出调整支架的长度。本实用新型的工业内窥镜检测系统能够直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线并能长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104410775B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201410777930.8
申请日：2014-12-16
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明提出了一种自动变焦的高分辨率显微视觉成像装置与控制方法，装置包括镜头、CCD传感器、上位机、支架、变倍控制机构、聚焦控制机构，所述变倍控制机构包括变倍驱动舵机、齿轮、接近开关，所述镜头的调焦环上固设有与变倍控制机构中齿轮配合使用的齿条，齿条上设置有与接近开关配合使用的挡片组，所述聚焦控制机构包括聚焦驱动电机、摩擦轮，摩擦轮与所述镜头的对焦环紧密贴合，在工作状态下，由上位机分别控制变倍控制机构和聚焦控制机构实现调焦和对焦，方便容易的实现大范围搜索及小范围定位，帮助显微系统精确瞄准，充分提高显微系统的检测速度。
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公开(公告)号：CN106239086A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610709590.4
申请日：2016-08-23
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种微管零件夹持装置及方法。该装置包括：硅零件(10)、玻璃微管(11)、气路连接件(2)、真空发生装置(3)、测量显微镜过真空吸附方式对零件进行夹持，并通过夹持器上的微槽对被夹持零件进行限位。利用硅微加工技术加工出微米结构的硅零件，利用微点胶和微装配技术将硅零件与玻璃微管进行装配胶接得到真空夹持头，将真空夹持头与真空发生装置连接后得到真空夹持器。在测量显微镜、360度转台和三维微操作手的配合下，按照设计的夹持方法对微管零件进行夹持。实验证明，本发明能够实现微管零件的快速稳定夹持和高精度定位。另外，本发明结构简单，成本低，操作方便，可应用于微管零件的夹持和装配等领域。(4)、360度转台(7)和三维操作手(8)。本发明通
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公开(公告)号：CN103707280B
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201310722534.0
申请日：2013-12-24
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种微小透光零件的照明夹持器，该照明夹持器包括：固定组件，包括联接件、LED贴片和紧定螺钉；移动组件包括定位件、玻璃板、静电薄膜和压圈；光源控制器包括变压器和电位计；联接件对照明夹持器进行固定和支撑；LED贴片胶接于联接件内底面上，实现照明；定位件放置在联接件的顶部；玻璃板放置在定位件的圆柱槽上；压圈用于固定玻璃板；静电薄膜放置在玻璃板上，夹持微小透光零件；紧定螺钉对移动组件进行固定和拆卸；电位计用于调节输出给LED贴片的电压；变压器为电位计输出电压。本发明利用背光照明和静电吸附方式实现了微小透光零件的照明和夹持，结构简单，操作方便、重复定位精度高，可应用于微小透光零件的装配检测等领域。
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公开(公告)号：CN103544701B
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201310481882.3
申请日：2013-10-15
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种多路显微视觉标定系统，该系统包括：三路视觉系统、运动平台、计算机，其中：三路视觉系统安装在能够看清零件的特征信息的位置；零件安装在运动平台上，运动平台包括多个电机，可使得运动平台和零件完成多个自由度的运动；三路视觉系统和运动平台均连接至计算机；计算机对运动平台进行运动控制，通过多路视觉系统获得零件的显微视觉图像，处理后得到零件的坐标信息，并基于所述坐标信息和视觉测量模型，对于各路视觉系统中的摄像机与运动平台中的电机之间的相对映射关系进行标定。本发明还公开一种相应的标定方法和运动规划方法本发明方便简单，可实现多路显微视觉系统的在线标定，具有普适性、可用性。
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公开(公告)号：CN104200215A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201410427310.1
申请日：2014-08-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种大口径光学元件表面灰尘与麻点识别方法，该方法包括如下步骤：利用图像采集装置在明场条件下采集大口径光学元件表面损伤图像作为样本图像，同时标记出每个样本图像对应的损伤类别；对于采集得到的样本图像提取特征向量；对得到的特征向量进行预处理；将预处理后的特征向量作为模式识别分类器的输入变量，相应的损伤类别标签作为所述模式识别分类器的输出变量，得到输入变量与输出变量之间的映射关系；基于映射关系，对于测试样本的损伤类别进行识别，并将识别结果输出。本发明采用模式识别方法从明场图像纹理特征入手，解决了大口径光学元件表面灰尘与麻点的自动判别问题。
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