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公开(公告)号：CN106569327B
公开(公告)日：2020-02-28
申请号：CN201610962759.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: G02B23/24
Abstract: 本发明属于自动化检测技术领域，具体提供一种包含内窥镜套件的工业内窥镜检测系统。本发明旨在解决内窥镜如何直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线以及如何长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像的问题。本发明的内窥镜套件主要包括内窥镜、设置于内窥镜一端的相机、用于固定相机的U型支架和与U型支架可滑动连接的调整支架，U型支架能够沿设置在其底部的滑轨在内窥镜的长度方向上滑动，调整支架设置有与内窥镜可滑动连接的安装位，使得调整支架能够沿内窥镜的长度方向滑动，并因此调节内窥镜伸出调整支架的长度。本发明的工业内窥镜检测系统能够直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线并能长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像。
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公开(公告)号：CN106815830B
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201611143938.4
申请日：2016-12-13
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
Abstract: 本发明涉及一种图像的缺陷检测方法，包括以下步骤：扫描待检测图像，获取所述待检测图像中的待测图案的边缘轮廓；在所述边缘轮廓中选取搜索点，并将所述搜索点投影到与所述待测图案相同的模板图像中得到瑕疵点，构成瑕疵点聚类；计算所述瑕疵点聚类中每一瑕疵点对应的瑕疵尺寸信息。本发明中，实现了在降低成本情况下，对图像的缺陷精确检测。
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公开(公告)号：CN106651837B
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201611001403.3
申请日：2016-11-14
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
Abstract: 本发明涉及图像分析领域，公开了一种白玻璃板表面崩边缺陷检测方法，针对于传统的肉眼识别的检测方式效率低下、精度有限、自动化水平低的问题。该检测方法通过扫描白玻璃板图像，并进行二值化处理；然后提取白玻璃板的外轮廓；根据外轮廓各部分的形状特征，分别沿不同方向检测各部分边缘的宽度；对检测到的边缘宽度值进行聚类，以元素数目最多的类的均值为依据，检测白玻璃板的崩边缺陷。该方法能够应用于检测特征不太明显的崩边缺陷，具有较高的精度、效率和鲁棒性，有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN106815830A
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201611143938.4
申请日：2016-12-13
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
Abstract: 本发明涉及一种图像的缺陷检测方法，包括以下步骤：扫描待检测图像，获取所述待检测图像中的待测图案的边缘轮廓；在所述边缘轮廓中选取搜索点，并将所述搜索点投影到与所述待测图案相同的模板图像中得到瑕疵点，构成瑕疵点聚类；计算所述瑕疵点聚类中每一瑕疵点对应的瑕疵尺寸信息。本发明中，实现了在降低成本情况下，对图像的缺陷精确检测。
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公开(公告)号：CN106651837A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611001403.3
申请日：2016-11-14
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
Abstract: 本发明涉及图像分析领域，公开了一种白玻璃板表面崩边缺陷检测方法，针对于传统的肉眼识别的检测方式效率低下、精度有限、自动化水平低的问题。该检测方法通过扫描白玻璃板图像，并进行二值化处理；然后提取白玻璃板的外轮廓；根据外轮廓各部分的形状特征，分别沿不同方向检测各部分边缘的宽度；对检测到的边缘宽度值进行聚类，以元素数目最多的类的均值为依据，检测白玻璃板的崩边缺陷。该方法能够应用于检测特征不太明显的崩边缺陷，具有较高的精度、效率和鲁棒性，有广泛的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106569327A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610962759.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: G02B23/24
Abstract: 本发明属于自动化检测技术领域，具体提供一种包含内窥镜套件的工业内窥镜检测系统。本发明旨在解决内窥镜如何直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线以及如何长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像的问题。本发明的内窥镜套件主要包括内窥镜、设置于内窥镜一端的相机、用于固定相机的U型支架和与U型支架可滑动连接的调整支架，U型支架能够沿设置在其底部的滑轨在内窥镜的长度方向上滑动，调整支架设置有与内窥镜可滑动连接的安装位，使得调整支架能够沿内窥镜的长度方向滑动，并因此调节内窥镜伸出调整支架的长度。本发明的工业内窥镜检测系统能够直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线并能长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像。
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公开(公告)号：CN206235776U
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201621185771.3
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国科学院自动化研究所(洛阳)机器人与智能装备创新研究院
IPC: G02B23/24
Abstract: 本实用新型属于自动化检测技术领域，具体提供一种包含内窥镜套件的工业内窥镜检测系统。本实用新型旨在解决内窥镜如何直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线以及如何长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像的问题。本实用新型的内窥镜套件主要包括内窥镜、设置于内窥镜一端的相机、用于固定相机的U型支架和与U型支架可滑动连接的调整支架，U型支架能够沿设置在其底部的滑轨在内窥镜的长度方向上滑动，调整支架设置有与内窥镜可滑动连接的安装位，使得调整支架能够沿内窥镜的长度方向滑动，并因此调节内窥镜伸出调整支架的长度。本实用新型的工业内窥镜检测系统能够直接应用于工业自动化检测装备或自动化生产线并能长期稳定地在工业设备内持续获取清晰图像。
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公开(公告)号：CN116123995B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202211394021.7
申请日：2022-11-08
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及测量技术领域，提供一种目标点测量方法、装置、电子设备及存储介质，该方法利用激光跟踪仪测量得到的测量点在测量坐标系下的第一位置向量，确定测量激光在目标传输介质的入射平面上的入射角；利用测量激光在传输路径中经过的各传输介质的厚度、折射率、测量点在光传输平面坐标系的第二位置向量、入射角以及预设关系，确定目标点在光传输平面坐标系下的第三位置向量，进而确定目标点在测量坐标系下的第四位置向量。该方法考虑了测量激光从激光跟踪仪至目标点的传输路径中经过的各传输介质的折射率，而且借助于不同的坐标系下的位置向量，弥补了由各传输介质的折射率不同而引起的测量误差，使最终得到的目标点的位置信息更精确。
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公开(公告)号：CN112750119B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202110068116.9
申请日：2021-01-19
Applicant: 上海海事大学 , 中国科学院自动化研究所
IPC: G06T7/00 , G06V10/762 , G06V10/764 , G06V10/774
Abstract: 本发明提出面向白玻璃盖板表面微弱缺陷的检测与测量方法，包括：采集玻璃盖板图像，计算盖板图像的显著性图；对显著性图进行快速二值化；利用密度聚类方法对属于同一缺陷的非连续前景像素进行聚类；提取前景目标的高维形态及密度特征；构建缺陷的正负样本库，正样本库里包含了所有划痕可能的形态，负样本库里包含了实际生产环境下可能出现的绝大多数脏污、灰尘形态；利用样本库中的样本，提取特征向量，采用支持向量机算法作为分类器，进行训练，并在验证集上进行测试。本发明提供面向白玻璃盖板表面微弱缺陷的检测与测量方法，可有效检测白玻璃盖板表面微弱缺陷，降低或避免现有方法在检测微弱缺陷时产生的漏检。
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公开(公告)号：CN109634316A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811457249.X
申请日：2018-11-30
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G05D17/02
Abstract: 本发明属于微装配领域，具体涉及了一种基于主动约束状态多维微力及力矩控制方法、系统、装置，旨在为了解决微器件的高精度装配过程中容易损坏的问题。本发明的方法包括：将微型轴零件和微型孔零件调整至主动约束状态；利用渐进式插入控制方法控制微型孔零件运动使微型轴零件插入微型孔零件；获取微型孔零件和微型轴零件间的力、力矩信息；通过主动约束状态控制方法调整微型孔零件的位置，主动柔顺控制方法调整微型轴零件的姿态，使得微型孔零件和微型轴零件间力和力矩一直处于阈值范围内，直至完成整微型孔零件和微型轴零件的装配。本发明有效避免微器件装配中的卡阻现象，可实现微器件的高精度无损装配，具有重要的应用意义。
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