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公开(公告)号：CN112233856B
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202011195622.6
申请日：2020-10-30
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： H01B13/012 , H01R43/28
摘要： 一种线束获取装置，包括基座、平置在基座上的封闭式分线器、通过分线器侧壁插拔分线器内腔的的第一插针和第二插针；第一插针用于拉直分线器中的线束；第二插针用于弹出分线器中的部分线束；在分线器的端面上设有进线口侧壁上设有纵向设置的出线槽，出线槽用于线束的弹出。由于线束中的屏蔽线在加工过程中，只需要取其中一部分的屏蔽线与地线连接到一起，本发明可以通过线束在分线器中的进行部分屏蔽线的获取，只要是将线束推进去后然后被拉出，在此过程中，实现第一插针对线束的捋顺和第二插针对线束的压出，从而获得部分屏蔽线，方便对该部分屏蔽线的加工。
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公开(公告)号：CN115071644B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202210701042.2
申请日：2022-06-21
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明公开了一种车载光电测量设备对中机构，包括载车车架、基座、以及对中调节组件；所述基座的底部安装有滚珠托盘；对中调节组件包括两组推拉机构，分别为布置于所述基座两侧的第一推拉机构和第二推拉机构；第一推拉机构和所述第二推拉机构均与基座连接，且第一推拉机构相对于基座的力作用点和基座中心的连线垂直于第二推拉机构相对于基座的力作用点和基座中心的连线。本发明的对中机构通过滚珠托盘和推拉机构调整基座的移动量，结合对中相机采集图像进行反馈，利用推拉机构的推拉杆的同步运动使得对中操作简单、省时省力、安全可靠、且对中操作时间短。
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公开(公告)号：CN114998688B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202210696206.7
申请日：2022-06-20
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G06V10/774 , G06V10/764 , G06V10/80 , G06V10/82
摘要： 本发明涉及一种基于YOLOv4改进算法的大视场目标检测方法，包括步骤：构建大视场图像数据集；对数据集中的源图像S进行图像预处理以及标注，将全部标注后的图像划分为训练集和测试集；构建改进的YOLOv4网络模型，模型包括高精度特征提取子网络、加强型特征多尺度融合子网络和轻量型目标分类子网络；利用训练集对改进的YOLOv4网络模型进行训练，训练后得到最优网络模型；将待识别的大视场图像输入到最优网络模型中，最优网络模型输出对应的大视场目标检测结果。本发明在提高检测精度和速度的同时，降低了对计算机硬件和算力的依赖，可以在无GPU的嵌入式设备上运行，节省了设备的存储空间，满足现实生活中目标检测速度的需求。
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公开(公告)号：CN114092522B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202111440553.5
申请日：2021-11-30
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 一种机场飞机起降智能捕获跟踪方法，涉及智能跟踪技术领域，解决现有智能跟踪方式受天气环境复杂、飞鸟干扰等问题，导致智能准确性和跟踪稳定性差的问题，包括对飞机的自动识别；进行目标的稳定跟踪和输出和显示跟踪信息三个步骤，本发明用于针对机场飞机降落或者起飞时，不断获取飞机的图像信息，通过对飞机图像的处理，进行目标的识别与跟踪，解决了天气环境复杂、飞鸟干扰等问题，提高智能设备的识别准确性和跟踪稳定性，从而实现光电经纬仪等设备自动识别跟踪。最终保证了光电设备的识别精度和跟踪精度。同时本发明的设计提高了光测系统的适应性及独立性，使设备具有无人自主测量能力。
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公开(公告)号：CN118112788A
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202410207064.2
申请日：2024-02-26
申请人： 中国北方工业有限公司 , 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G02B27/00
摘要： 本发明涉及光学控制技术领域，具体提供一种面向光学阵列的折叠与展开装置及方法，包括至少一个工作单元，每个工作单元可以独立执行展开或者折叠的操作，每个工作单元具有各自对应的光学阵列，可以通过多个工作单元进行组合以实现更大规模的光学阵列的组合，每个工作单元包括负载面子系统、机械臂子系统以及电子学控制子系统，使用了电控的结构与方法，极大的节省了的人力成本与时间成本，通过自动化控制，极大地消除了人为主观因素带来的影响，装置操作简单，极大的节省了人员培训成本，装置的适配性高，可适用于多种负载设备，不仅仅适用于反射镜阵面，保障机制完善，最大程度上避免了设备事故的发生。
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公开(公告)号：CN117723157B
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202410171445.X
申请日：2024-02-07
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及点目标红外辐射测量技术领域，尤其涉及一种点目标红外辐射测量方法。包括：S1：利用中长波红外成像系统对远距离的点目标进行红外成像，分别获得中波红外图像和长波红外图像；S2：对中波红外图像和长波红外图像进行处理，获得中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式；S3：对中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式进行比值处理；S4：根据普朗克公式计算点目标的温度和红外辐射亮度。本发明能够在点目标的面积未知的情况下，对点目标的红外辐射亮度和温度进行有效测量，从而提高了红外辐射测量技术在靶场的适用性。
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公开(公告)号：CN117737676B
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202410184897.1
申请日：2024-02-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及半导体模拟器件制备技术领域，具体公开一种MIM电容器中绝缘体薄膜及其制备方法，包括以下步骤：（1）提供沉积有底层金属电极的衬底；（2）在步骤（1）所述衬底上溅射绝缘体薄膜，所述绝缘体薄膜包括复合陶瓷薄膜，所述复合陶瓷薄膜采用射频磁控溅射的方法在衬底上溅射得到，所述复合陶瓷为基于铋、钡的钙钛矿钛酸盐氧化物；本发明以钙钛矿钛酸盐氧化物替代常规的二氧化硅、氮化硅等绝缘体薄膜，该绝缘体薄膜显著提高了MIM电容器的电容密度。
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公开(公告)号：CN117747444A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202410172052.0
申请日：2024-02-07
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： H01L21/48 , H01L23/367 , H01L23/373 , H01L23/58 , H01L21/50
摘要： 本发明涉及半导体功率器件封装技术领域，具体提供一种半导体功率器件的封装方法及封装结构，解决了现有封装散热效果差且在大电流在导通中的损耗大的问题，该方法包括：采用光刻刻蚀法在芯片硅衬底的下表面上刻蚀凹槽；在凹槽中淀积金属散热层；对芯片下表面做平坦化处理，使所述金属散热层的下表面和金属散热层的下表面共面；将芯片焊接在封装基板上，封装基板电极连接金属散热层。本发明提供一种能够承受封装加工的工装应力、封装后电流损耗小且散热效果好的半导体器件封装方法和封装结构。
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公开(公告)号：CN117711918A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202410160893.X
申请日：2024-02-05
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及半导体领域，涉及一种低温多晶硅薄膜的制备方法，包括以下步骤：步骤1，准备玻璃基板作为衬底，表面清洗后，在烘箱内干燥；步骤2，制备硅化铜多孔微球，并与硅溶胶混合形成复合液；步骤3，在衬底上涂覆复合液，经过一定温度的处理后，形成复合层；步骤4，在复合层上通过化学气相沉积法沉积非晶硅层；步骤5，对衬底预热处理后，再对非晶硅层进行低温激光处理，得到多晶硅薄膜。本发明通过对现有技术的方法进行改进，在低温的条件下制备了多晶硅薄膜，制备过程比较简便，形成多晶硅的时间也比较短，适合大规模的推广使用。本发明制备的多晶硅薄膜的晶粒尺寸较大、缺陷比较少并且排列比较规整，此外，多晶硅薄膜的电子迁移率也比较大。
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公开(公告)号：CN114136341B
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202111448582.6
申请日：2021-11-30
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01C25/00
摘要： 本发明提供一种经纬仪标校误差的检测方法，方法包括以下步骤：采集待标校前平行光管十字丝与经纬仪十字丝的图像；对图像中的两个十字丝为中心，进行提取；对提取后的十字丝进行检测；对检测后的十字丝进行灰度特征提取；对灰度特征提取后的边缘数据进行曲线拟合后，计算确定两个十字丝的中心点位置；通过计算两个十字丝的中心的偏差，进而得到待标校前的误差。本发明提供的经纬仪标校误差的检测方法可以更快速完成经纬仪坞内标校工作，更精确得到经纬仪坞内标校结果，实时处理并在自动输出十字丝中心与视场中心的误差量即脱靶量值，通过提高图像处理的精度，使脱靶量输出精度达到亚像素级。
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