一种基于交叉模态增强与多注意力融合策略的红外与可见光图像融合方法

    公开(公告)号:CN118096554A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410270851.1

    申请日:2024-03-11

    IPC分类号: G06T5/50 G06T5/60

    摘要: 本发明涉及一种基于交叉模态增强与多注意力融合策略的红外与可见光图像融合方法,包括步骤:获取原始红外图像与原始可见图像;基于交叉模态增强模块与细节注入模块对卷积层提取的特征进行增强处理;基于多注意力机制指导可见光和红外特征进行融合;对融合后的特征进行解码,重构融合图像。本发明在编码阶段加入交叉模态增强网络,将红外特征与可见光特征进行互补增强,捕捉二者之间的内在关联性,同时添加细节注入模块,增强对细节信息的表示能力;采用基于多注意力机制的融合策略代替普通融合方式,引入纹理注意力和亮度注意力模块分别处理可见光特征和红外特征,并以空间‑通道注意力模块计算融合权重,指导各个分量融合,获得最终融合结果。

    探测器串行图像数据动态调理的仿真检测方法

    公开(公告)号:CN117939315A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410107341.2

    申请日:2024-01-25

    IPC分类号: H04N25/10 H04N25/76 H04N25/69

    摘要: 本发明涉及CMOS探测器领域,尤其涉及一种探测器串行图像数据动态调理的仿真检测方法,对于时序复位导致串行数据组合方式的改变,采用改变串行数据发送器的计数值与数据位的对应关系来模拟;在探测器训练阶段进行全状态调理过程的检测,按照步骤发送恒定的训练字和单个训练字串行数据;在非训练的成像阶段,每当检测到行同步(SYNC)信号脉冲,按照顺序输出四个同步字,然后输出非同步字的数据,并将串行数据发送器的计数值与数据位的对应关系改变一次。本发明在训练阶段进行全状态调理过程的检测,按照步骤发送恒定的训练字和单个训练字串行数据,避免仿真的时序复位引起的串行数据顺序改变导致正常的训练状态出错。

    一种基于内联遮挡处理的抗噪光场深度测量方法及系统

    公开(公告)号:CN117474922B

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202311821225.9

    申请日:2023-12-27

    摘要: 本发明涉及光场成像的技术领域,具体提供基于内联遮挡处理的抗噪光场深度测量方法及系统,方法包括:获取光场原始图像;采用#imgabs0#光场参数化,#imgabs1#为角坐标,#imgabs2#为空间坐标,输入光场#imgabs3#中的每个像素并基于候选深度标签#imgabs4#重新映射到剪切光场#imgabs5#;根据剪切光场,判断遮挡类型;若遮挡为线型遮挡,则构造部分角度域成本量;若遮挡为块遮挡,则构造自适应角度域成本量;根据成本最小准则,求解成本量的初始深度图;采用多种滤波策略,对初始深度图进行噪声感知优化,获取最终深度图。因此,本发明基于场景立体模型得到的遮挡图用于遮挡检测,以提高遮挡检测的精确度;提升算法对噪声和遮挡的适应能力,提高了光场深度估计的精度。

    一种基于单幅图像的像素级透过率估计方法

    公开(公告)号:CN111598886B

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202010446058.4

    申请日:2020-05-25

    IPC分类号: G06T7/00 G06T5/50 G06T5/00

    摘要: 一种基于单幅图像的像素级透过率估计方法,涉及数字图像处理技术领域,解决现有暗通道复原方法中对局部透过率估计不准确的问题,本发明利用有雾图像的最小值通道和无雾图像的最小值通道建立像素级的透过率估计模型,通过对像素级的雾浓度估计,得到了无雾图像的最小值通道,从而得到了像素级的透过率估计。此外,对像素级的透过率图像进行高斯滤波处理,即可准确地估计透过率图像。实验证明本发明算法处理效果较好且运算量小,可应用于实时工程系统中。

    一种基于单幅图像的像素级透过率估计方法

    公开(公告)号:CN111598886A

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN202010446058.4

    申请日:2020-05-25

    IPC分类号: G06T7/00 G06T5/50 G06T5/00

    摘要: 一种基于单幅图像的像素级透过率估计方法,涉及数字图像处理技术领域,解决现有暗通道复原方法中对局部透过率估计不准确的问题,本发明利用有雾图像的最小值通道和无雾图像的最小值通道建立像素级的透过率估计模型,通过对像素级的雾浓度估计,得到了无雾图像的最小值通道,从而得到了像素级的透过率估计。此外,对像素级的透过率图像进行高斯滤波处理,即可准确地估计透过率图像。实验证明本发明算法处理效果较好且运算量小,可应用于实时工程系统中。

    一种基于内联遮挡处理的抗噪光场深度测量方法及系统

    公开(公告)号:CN117474922A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202311821225.9

    申请日:2023-12-27

    摘要: 本发明涉及光场成像的技术领域,具体提供基于内联遮挡处理的抗噪光场深度测量方法及系统,方法包括:获取光场原始图像;采用 光场参数化, 为角坐标,为空间坐标,输入光场中的每个像素并基于候选深度标签重新映射到剪切光场 ;根据剪切光场,判断遮挡类型;若遮挡为线型遮挡,则构造部分角度域成本量;若遮挡为块遮挡,则构造自适应角度域成本量;根据成本最小准则,求解成本量的初始深度图;采用多种滤波策略,对初始深度图进行噪声感知优化,获取最终深度图。因此,本发明基于场景立体模型得到的遮挡图用于遮挡检测,以提高遮挡检测的精确度;提升算法对噪声和遮挡的适应能力,提高了光场深度估计的精度。

    一种基于潜在低秩稀疏表示与共现滤波的图像分解方法

    公开(公告)号:CN117036208A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310879410.7

    申请日:2023-07-18

    IPC分类号: G06T5/20 G06T5/00 G06T5/40

    摘要: 一种基于潜在低秩稀疏表示与共现滤波的图像分解方法,涉及图像分解处理领域,包括:获取一幅图像作为输入图像;利用潜在低秩稀疏表示方法对输入图像进行显著层分量提取,将所提取的显著层分量进行逆变换转换为显著层图像;通过获取输入图像和显著层图像之间的差值,获得结构层分量;利用共现滤波方法处理结构层分量,获得基础层分量;通过获取结构层分量和基础层分量间的差值,获得细节层分量。本发明可将不同尺度下的轮廓边缘、纹理细节以及其它基础能量信息等分解至不同的层次,所获得的显著层分量和基础层分量以及细节层分量更加精细,为后期的图像进一步处理奠定基础,改善了图像分解处理的效果。

    基于潜在低秩稀疏表示与滚动引导滤波的图像融合方法

    公开(公告)号:CN116934643A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202310879296.8

    申请日:2023-07-18

    IPC分类号: G06T5/50 G06T5/20 G06T7/30

    摘要: 基于潜在低秩稀疏表示与滚动引导滤波的图像融合方法,涉及图像融合处理领域。包括:获取来自同一场景且已完成图像配准的原始红外图像与原始可见光图像;利用潜在低秩稀疏表示算法和滚动引导滤波算法分解原始图像,获得显著层子图像和基础层子图像;利用基于显著特征的权重图模型指导基础层子图像进行自适应加权融合,获得融合后的基础层子图像分量;利用核范数和修正的空间频率算法融合显著层子图像,获得融合后的显著层子图像分量;将融合后的基础层子图像分量和显著层子图像分量进行逆变换重构,获得最终的融合图像。本发明解决了因红外与可见光图像间光谱差异较大而引起融合结果对比度偏低等问题,提升了融合图像的整体视觉效果。

    基于联合相位调整的多通道数据训练方法

    公开(公告)号:CN115987453A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202211641307.0

    申请日:2022-12-20

    IPC分类号: H04L1/00 H04L5/00

    摘要: 本发明涉及一种基于联合相位调整的多通道数据训练方法,在该方法中,接收器实时采样发送端发送的固定码型训练字,FPAG控制逻辑通过调节IODLEAY数据延迟单元对输入数据进行延迟控制,并完成多通道延迟对齐;FPAG控制逻辑通过控制时钟管理单元DCM单元调节采样时钟相位;FPAG控制逻辑控制接收器锁存位置,直到锁存住与发送端发送的训练字相同的数据位置,至此完成数据训练。本发明利用FPGA内部的时钟管理单元DCM及IODELAY数据延迟单元实现采样时钟与数据输入延迟的联合相位调整,有效提高高速数据通信的训练可靠性,确保高速数据能够可靠的被接收器采集,降低误码率,且适用范围更广。

    CMOS探测器调试系统及检测方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115480143A

    公开(公告)日:2022-12-16

    申请号:CN202211113813.2

    申请日:2022-09-14

    摘要: CMOS探测器的调试系统及检测方法,涉及CMOS探测器筛选测试领域,解决现有CMOS探测器上电过程中,易出现烧毁芯片、SPI写操作错误以及图像模糊等问题,包括VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供电及电流检测电路、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路、源级跟随器供电及电流检测电路、电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路;本发明对探测器的供电电源进行了限流设置,设置了最大输出电流,同时根据CMOS探测器上电过程中可能出现的各种异常现象对探测器的状态进行诊断,并进行相应处理,避免由于错误状态而把所有的供电全加上而出现异常大电流。