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公开(公告)号：CN104320965A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410531654.7
申请日：2014-10-10
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 航天LMCCD测绘相机成像电路的筛选方法，涉及一种航天CCD的成像技术，解决LMCCD的三线阵测绘相机的焦面结构尺寸紧凑，难以放置额外的连接器来连接工业级的CCD器件进行线路板筛选的问题。本发明在线路板的CCD位置焊接插座后采用工业级CCD进行线路板筛选，待筛选通过后拆下CCD插座，最终焊接上航天级CCD器件。针对CCD插座拆卸过程的故障模型，把CCD管脚分为两类，采用对比拆下插座前后的静态电阻值和电平值进行判断，决定是否可进行航天级CCD的焊接。本发明采用多个筛选测试步骤剔除有缺陷线路板，降低生产成本和缩短研制周期。
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公开(公告)号：CN115480143A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202211113813.2
申请日：2022-09-14
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/26 , G01R35/00 , G01R19/165
摘要： CMOS探测器的调试系统及检测方法，涉及CMOS探测器筛选测试领域，解决现有CMOS探测器上电过程中，易出现烧毁芯片、SPI写操作错误以及图像模糊等问题，包括VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供电及电流检测电路、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路、源级跟随器供电及电流检测电路、电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路；本发明对探测器的供电电源进行了限流设置，设置了最大输出电流，同时根据CMOS探测器上电过程中可能出现的各种异常现象对探测器的状态进行诊断，并进行相应处理，避免由于错误状态而把所有的供电全加上而出现异常大电流。
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公开(公告)号：CN109799762B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201910099248.0
申请日：2019-03-20
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 面阵摆扫成像的控制系统，涉及一种面阵摆扫成像的控制系统，解决现有力矩电机的应用中，可能存在继电器控制失败以及伺服电机干扰其它器件正常工作等问题，采用多组DCDC电源模块来产生相关的供电电源，并采用组合的EMI滤波器来滤除开关电源和力矩电机的开关脉冲干扰；针对各部分的特点，采取了不同的接地方式；根据控制过程中所需要的带宽，对压电陶瓷驱动的拓扑结构和应变片的采样电路增益进行了限定。对于信号互联的底台背板，对进行了分区独立走线避免干扰，包含一次电源区、伺服功率区、快反功率区、数字信号区、模拟小信号区、继电器控制区。本发明通过多级放大来降低单级放大倍数，从而获得更宽的控制带宽。
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公开(公告)号：CN117939315A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410107341.2
申请日：2024-01-25
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明涉及CMOS探测器领域，尤其涉及一种探测器串行图像数据动态调理的仿真检测方法，对于时序复位导致串行数据组合方式的改变，采用改变串行数据发送器的计数值与数据位的对应关系来模拟；在探测器训练阶段进行全状态调理过程的检测，按照步骤发送恒定的训练字和单个训练字串行数据；在非训练的成像阶段，每当检测到行同步(SYNC)信号脉冲，按照顺序输出四个同步字，然后输出非同步字的数据，并将串行数据发送器的计数值与数据位的对应关系改变一次。本发明在训练阶段进行全状态调理过程的检测，按照步骤发送恒定的训练字和单个训练字串行数据，避免仿真的时序复位引起的串行数据顺序改变导致正常的训练状态出错。
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公开(公告)号：CN109799762A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201910099248.0
申请日：2019-03-20
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 面阵摆扫成像的控制系统，涉及一种面阵摆扫成像的控制系统，解决现有力矩电机的应用中，可能存在继电器控制失败以及伺服电机干扰其它器件正常工作等问题，采用多组DCDC电源模块来产生相关的供电电源，并采用组合的EMI滤波器来滤除开关电源和力矩电机的开关脉冲干扰；针对各部分的特点，采取了不同的接地方式；根据控制过程中所需要的带宽，对压电陶瓷驱动的拓扑结构和应变片的采样电路增益进行了限定。对于信号互联的底台背板，对进行了分区独立走线避免干扰，包含一次电源区、伺服功率区、快反功率区、数字信号区、模拟小信号区、继电器控制区。本发明通过多级放大来降低单级放大倍数，从而获得更宽的控制带宽。
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公开(公告)号：CN104320965B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201410531654.7
申请日：2014-10-10
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 航天LMCCD测绘相机成像电路的筛选方法，涉及一种航天CCD的成像技术，解决LMCCD的三线阵测绘相机的焦面结构尺寸紧凑，难以放置额外的连接器来连接工业级的CCD器件进行线路板筛选的问题。本发明在线路板的CCD位置焊接插座后采用工业级CCD进行线路板筛选，待筛选通过后拆下CCD插座，最终焊接上航天级CCD器件。针对CCD插座拆卸过程的故障模型，把CCD管脚分为两类，采用对比拆下插座前后的静态电阻值和电平值进行判断，决定是否可进行航天级CCD的焊接。本发明采用多个筛选测试步骤剔除有缺陷线路板，降低生产成本和缩短研制周期。
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