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公开(公告)号：CN111428802B
公开(公告)日：2023-02-07
申请号：CN202010242973.1
申请日：2020-03-31
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
IPC分类号： G06V40/20 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06F40/30 , G06F3/01
摘要： 本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法，其特征在于：包括以下：1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库；3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序，所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法，采用有向无环方案构成的多分类模型；4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。
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公开(公告)号：CN113029033A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110335304.3
申请日：2021-03-29
申请人： 中国计量大学
摘要： 本发明公开了一种显微表面测量装置，包括投影屏、基座、显微物镜、成像透镜及CCD探测器，以所述投影屏、显微物镜、成像透镜和CCD探测器构建离轴光学系统，所述基座用于放置所述测试元件，其中，所述处理器连接所述投影屏和所述CCD探测器，所述处理器根据预存设置使所述投影屏产生一正弦条纹光信号，该正弦条纹光信号以一特定角度投射至测试元件上，经过所述测试元件的表面反射至所述显微物镜形成一汇聚光束，该汇聚光束经过所述成像透镜，在所述CCD探测器中呈现一变形条纹光信号，所述处理器对所述变形条纹光信号进行分析，获取所述测试元件的面形信息。
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公开(公告)号：CN110160443B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN201910394156.5
申请日：2019-05-13
申请人： 中国计量大学
摘要： 本发明公开了一种用于瞬态三坐标测量的光纤点衍射干涉装置，包括：光源，提供初始的入射光至光路调整模块；光路调整模块，将入射光分为若干束偏振光射出；数字偏振相机，接收出射光并采集所需干涉图像；计算机，与数字偏振相机连接，处理图像信息。本发明的实质性效果包括：采用偏振数字相机采集p偏振光和s偏振光经快轴方向与X轴呈45°夹角的四分之一波片得到的旋向相反的圆偏振光，两个旋向相反的偏振光经偏振数字相机前置的偏振片阵列后发生干涉，随着偏振片的透光轴方向旋转，干涉条纹相位也随之改变，无需PZT来实现微位移，降低了检测系统元件的复杂程度，提高了点衍射干涉系统的抗干扰能力。
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公开(公告)号：CN111781607A
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN202010788052.5
申请日：2020-08-07
申请人： 中国计量大学
摘要： 本发明涉及一种基于激光调频连续波正反向调谐色散对消方法及装置；通过外腔可调谐激光器进行正反向调谐，得到正向调谐的测量信号以及反向调谐的测量信号；分别提取正反向测量信号的相位，并进行相位展开；通过将两个信号的相位相加求平均，实现色散相位的抵消,得到降低色散影响后的测量信号；对测量信号进行ChirpZ变换，即可得到降低色散影响的目标距离。本方法可以不需要预先标定装置的色散系数，也不需要循环迭代补偿，单次测量即可完成系统色散补偿，得到降低色散影响的目标距离，提高了FMCW激光测距装置的稳定性及测量精度。
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公开(公告)号：CN109238155B
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201811296986.6
申请日：2018-11-01
申请人： 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
IPC分类号： G01B11/06
摘要： 本发明为一种采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法，其特征在于：所述测量SiO2薄膜厚度的方法是基于椭偏法采用微纳米薄膜厚度标准样片结合等效物理结构模型进行测量SiO2薄膜的厚度，所述的等效物理结构模型是根据SiO2薄膜的实际多层膜物理结构模型建立的简化等效物理结构模型，实际多层膜物理结构模型顺序包括表面粗糙层、SiO2薄膜层、中间混合层及Si基底层，其中所述的中间混合层为Si基底层与SiO2薄膜层之间反应产生的SixOy产物膜层。本发明可保证不同厂家、型号的椭偏仪建立薄膜物理结构模型的统一性与结果的一致性，为建立和完善微纳米薄膜量值溯源体系奠定基础。
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公开(公告)号：CN110375643A
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201910394168.8
申请日：2019-05-13
申请人： 中国计量大学
摘要： 本发明公开了一种基于激光连续扫频的三维坐标测量装置及测量方法，包括：光源，产生偏振初始光至第一分光模块；第一分光模块，将偏振初始光分为参考光及第二初始光；第二分光模块，将第二初始光分为若干束检测光至检测模块；检测模块，通过检测光经被测物反射后生产测量光入射到第一分光模块；处理模块，接收第一分光模块的参考光及测量光，并处理。方法包括：根据测量装置建立坐标系；打开光源进行测量数据获取；根据数据计算被测物三维坐标。本发明的实质性效果是：结构简单，不需要采集整幅的干涉信号，且对外界干涉不敏感，仅依靠微弱的激光就可以实现拍频信号的测量，能够实现远距离的三维坐标测量与定位。
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公开(公告)号：CN109883994A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910163812.0
申请日：2019-03-05
申请人： 中国计量大学
IPC分类号： G01N21/41
摘要： 本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息，采用反积分曲线三维重建算法计算得到测量空间内部存在的空气介质的折射率的变化数据；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN106643507A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201710077177.5
申请日：2017-02-13
申请人： 中国计量大学
IPC分类号： G01B11/00
CPC分类号： G01B11/005
摘要： 本发明公开了基于双通道点衍射干涉的三坐标测量装置，包括偏振激光器发出的激光经过第一偏振分光棱镜被分成透射光和反射光，沿所述透射光传播方向，设置有第三偏振分光棱镜；沿所述反射光传播方向依次设置有四分之一波片、反光镜；沿所述反射光经过反射镜反射后的传播方向，在所述第一偏振分光棱镜之后，还设置有第二偏振分光棱镜；沿光的传播方向，所述第二偏振分光棱镜和第三偏振分光棱镜之后分别设置有一对光纤耦合器以及与所述光线耦合器连接的亚微米孔径光纤。另外，本发明还公开了一种基于双通道点衍射干涉的三坐标测量方法。采用本发明，实现了三个方向上的高精度测量，提高了点衍射三维测量的精度。
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公开(公告)号：CN111679284B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202010547132.1
申请日：2020-06-16
申请人： 中国计量大学
摘要： 本发明提供一种运动目标测量的双激光测距装置，所述第一可调谐激光器和第二可调谐激光器发出的激光信号分别经过第一分束器、第二分束器、第一耦合器耦合后进入主光路，剩余的两路信号分别进入第一辅助光路和第二辅助光路，主光路中的信号通过变焦透镜照射目标后原路返回至光路，信号经过耦合器耦合后被第一探测器采集；两路辅助光路中的信号被第二探测器和第三探测器采集，数据采集卡记录三路探测器采集的信号并输出至计算机，通过MUSIC算法进行信号处理，得到运动目标的相位信息。通过该发明提高了对运动目标激光测量的精度。
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