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公开(公告)号：CN116183667A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310419642.4
申请日：2023-04-19
申请人： 中国计量科学研究院 , 浙江省计量科学研究院
IPC分类号： G01N25/20
摘要： 本发明公开了一种基于石墨烯材料散热膜散热性能的测量方法，在每个气罐顶部的竖直透明管顶部敞开，竖直透明管内具有能上下滑动的浮板，气罐内的储液桶的四周均布有若干散热翅片，且在左侧储液桶上的每块散热翅片上覆盖有散热膜，每个储液桶顶部与大气连通；朝两个气罐内注入压缩气体，浮板上移一定距离，两浮板所处高度一致；通过一个呈山字形的连通管同时朝两个储液桶内注入加热后的热油，热油同时流向左右两侧的两个侧部管段内，并进入到每个储液桶内，中部管段内的液面稳定后，关闭储液桶底端处的控制阀，静置后观察左右两侧的两个竖直透明管内的浮板上升情况。本发明测量精度较高，测量结果直观易懂，更具体地动态体现散热性。
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公开(公告)号：CN103148917A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310068856.8
申请日：2013-03-05
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01G17/04
摘要： 本发明提供了一种高精度称重系统，其包括：待测容器，其用于接收流量标准装置中的待测液体；电子秤，其对所述待测液体进行称重；在所述电子秤上具有砝码框架，所述待测容器位于砝码框架上方，所述砝码框架上连接有至少一个砝码组，所述砝码组用于对电子秤进行校准本发明的高精度称重系统结构紧凑、带有砝码自动加载机构，且该系统与使用环境进行了有效的隔离，保证了标准器的使用条件。所述高精度称重系统具有较高的准确度和稳定性，能够降低液体流量标准装置的不确定度。
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公开(公告)号：CN116183555A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310409810.1
申请日：2023-04-17
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明涉及一种压力接触式薄膜材料样品加载装置及其测试方法，样品腔开口设置在样品腔的前侧壁上，激光入射孔和样品腔下方孔同轴设置在样品腔的顶壁和底壁上；套管的顶部设有套管开孔，热电偶的探头和偶丝从套管开孔中穿出并露出于套管外部，套管的顶部从样品腔下方管垂直进入样品腔内，并与薄膜材料样品的基底背面压力接触，激光从激光入射孔入射到薄膜材料样品的表面。本申请保证热电偶与样品的压力保持固定一致且可调节，从而确保了温度测量的重复性，解决现有光功率分析法相变温度测量装置中热电偶与薄膜样品接触不稳和压力不固定等问题。且热电偶与样品表面非直接接触，避免了样品对探头的污染，进一步确保了温度测量的准确性。
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公开(公告)号：CN103148917B
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201310068856.8
申请日：2013-03-05
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01G17/04
摘要： 本发明提供了一种高精度称重系统，其包括：待测容器，其用于接收流量标准装置中的待测液体；电子秤，其对所述待测液体进行称重；在所述电子秤上具有砝码框架，所述待测容器位于砝码框架上方，所述砝码框架上连接有至少一个砝码组，所述砝码组用于对电子秤进行校准本发明的高精度称重系统结构紧凑、带有砝码自动加载机构，且该系统与使用环境进行了有效的隔离，保证了标准器的使用条件。所述高精度称重系统具有较高的准确度和稳定性，能够降低液体流量标准装置的不确定度。
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公开(公告)号：CN118913470A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410969622.9
申请日：2024-07-18
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明公开了一种负温度系数热敏电阻温度传感器及其制造方法和应用，属于检测领域，热敏电阻温度传感器包括单晶硅基底块和生长在单晶硅基底块的二氧化硅层上的负温度系数热敏薄膜，所述负温度系数热敏薄膜为Mn‑Co‑Ni‑Cu‑O热敏薄膜，其具有尖晶石结构。本发明通过引入Cu元素、在单晶硅基底进行1/3厚度预切割、采用两次磁控溅射工艺，优化了热敏薄膜的脆性和塑性，降低了热敏薄膜的面内残余应力，制备出了厚度超过7μm的Mn‑Co‑Ni‑Cu‑O热敏薄膜，且热敏薄膜表面完好且与二氧化硅层结合良好，未发生开裂和脱落；其电阻小于500Ω，无需进行退火热处理；本发明的技术路线简单高效，生产效率和良品率非常高。
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公开(公告)号：CN219608772U
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202320856420.4
申请日：2023-04-17
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本实用新型涉及一种压力接触式薄膜材料样品加载装置，样品腔开口设置在样品腔的前侧壁上，激光入射孔和样品腔下方孔同轴设置在样品腔的顶壁和底壁上；套管的顶部设有套管开孔，热电偶的探头和偶丝从套管开孔中穿出并露出于套管外部，套管的顶部从样品腔下方孔垂直进入样品腔内，并与薄膜材料样品的基底背面压力接触，激光从激光入射孔入射到薄膜材料样品的表面。本申请保证热电偶与样品的压力保持固定一致且可调节，从而确保了温度测量的重复性，解决现有光功率分析法相变温度测量装置中热电偶与薄膜样品接触不稳和压力不固定等问题。且热电偶与样品表面非直接接触，避免了样品对探头的污染，进一步确保了温度测量的准确性。
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公开(公告)号：CN219891139U
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202321155981.8
申请日：2023-05-15
申请人： 中国计量科学研究院 , 浙江省计量科学研究院
IPC分类号： G01N25/20
摘要： 本实用新型公开了一种散热膜散热性能测试装置，包括基板，所述基板底端固定有支撑螺纹杆，所述安装板外侧面固定有侧螺栓，所述侧螺栓末端安装有锁定螺母，所述侧螺栓贯穿轨道板底端开设的孔洞，所述轨道板顶部开设有轨道窗，所述顶螺栓顶端安装有顶螺母，所述顶螺栓底端与顶板顶面中心连接固定，所述顶板底面安装有电热源。该散热膜散热性能测试装置，采用新型的结构设计，通过可旋转调节与散热膜相对位置的热源，模拟现实中不同产热部件与散热膜的相对位置，配合可垂直和水平调整位置的温度传感器安装机构，令温度传感器与散热膜的相对位置也能便捷的调整，模拟电子设备内其余部件与产热部件的相对位置，进行准确的性能测试。
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