一种基于DSP和FPGA的高速ADC数据采集方法及系统

    公开(公告)号:CN117742565A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311484768.6

    申请日:2023-11-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于DSP和FPGA的高速ADC数据采集方法及系统包括,获取ADC芯片位宽和带宽的基础参数;将ADC芯片位宽和带宽的基础参数作为输入,使用DSP+FPGA架构平台对实时芯片数据采样率设置电压值;计算采样率设置的电压值是否大于预设的数据采集峰值;使用DSP+FPGA架构平台进行实时芯片数据采样率设置的电压值的优化实现了对计算优化难度、可操作性以及DSP+FPGA架构平台进行实时芯片数据采样率设置的横向差异的优化;同时增加了最低有效位/最高有效位模块控制平台的使用性,提高了计算的准确性和对最低有效位/最高有效位模块的电压值采集设定。

    一种高性能ADC/DAC性能测试方法及系统

    公开(公告)号:CN117767945A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202311500190.9

    申请日:2023-11-13

    Abstract: 本发明公开了一种高性能ADC/DAC性能测试方法及系统,涉及ADC/DAC测试领域。本发明将模拟数字信号相互转换速率划分为不同工作周期阶段性模拟数字信号相互转换速率,对每个阶段性模拟数字信号相互转换速率进行不同形式的测试处理,判断阶段性模拟数字信号相互转换速率是否处于模拟数字信号相互转换速率异常状态和是否属于温度过高阶段性模拟数字信号相互转换速率;利用测试软件对温度过高阶段性模拟数字信号相互转换速率中的每个终端进行排查,确定测试漏洞,解除模拟数字信号相互转换速率中其他所有阶段性模拟数字信号相互转换速率的测试环境,提高对模拟数字信号相互转换速率的测试效率和准确性以及保证整体工作的正确性和有效促进分辨率和采样率管。

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