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公开(公告)号：CN107369694B
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201710765829.4
申请日：2017-08-30
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L21/77 , G09G3/3208 , G09G3/36
摘要： 本发明实施例提供一种阵列基板及其制备方法、驱动方法、显示装置，涉及显示技术领域，解决了在晶体管损坏时，像素处于常暗或常亮状态的问题。包括栅线和数据线、以及由栅线和数据线限定的像素单元；还包括与栅线交替排列的辅助电极线；每个像素单元包括：第一晶体管、第二晶体管和像素电极；第一晶体管的栅极与驱动像素单元所在行的栅线电连接，第一极与数据线电连接，第二极与像素电极电连接；第二晶体管的栅极与驱动像素单元所在行的辅助电极线电连接，第一极与数据线电连接，第二极与像素电极电连接；在栅线和与其相邻的一条辅助电极线之间设置有第三晶体管，第三晶体管的栅极与数据线电连接，第一极与栅线电连接，第二极与辅助电极线电连接。
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公开(公告)号：CN109073943A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201880000450.7
申请日：2018-05-22
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/1362 , G02F1/1368 , G02F1/133 , G09G3/36 , H01L27/12 , H01L21/77
摘要： 本申请公开了一种阵列基板。阵列基板在多个子像素区域中的每一个中包括：第一薄膜晶体管，其具有与多条栅线中的一条连接的第一栅极、与多条数据线中的一条连接的第一源极、以及与像素电极连接的第一漏极；第二薄膜晶体管，其具有第二栅极、与所述多条数据线中的所述一条连接的第二源极、以及与所述像素电极连接的第二漏极；以及第三薄膜晶体管，其具有与所述多条数据线中的所述一条连接的第三栅极、与所述多条栅线中的所述一条连接的第三源极、以及与第二栅极和多条辅助信号线中的一条连接的第三漏极。
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公开(公告)号：CN107425017B
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN201710707163.7
申请日：2017-08-17
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种阵列基板、显示面板及显示装置，包括：衬底基板，位于衬底基板的阵列基板行驱动GOA区域的晶体管；晶体管包括第一栅金属层、第一栅绝缘层、第一有源层、第一源漏金属层和第一保护层，其中，第一源漏金属层用于形成源极、漏极和数据信号线；其中，源极与数据信号线通过第一导电部件连接；第一导电部件在第一栅金属层上的正投影对应的第一栅金属层具有镂空图案。一旦源极与第一栅金属层发生短路，通过移除第一导电部件即可解决短路问题，并且由于第一导电部件在第一栅金属层上的正投影对应的第一栅金属层具有镂空图案，因此在移除第一导电部件的同时不会形成第一源漏金属层与第一栅金属层熔接导致的新短路不良。
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公开(公告)号：CN108784694A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810368287.1
申请日：2018-04-23
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： A61B5/0488
CPC分类号： A61B5/0488 , A61B5/6802 , A61B5/7203 , A61B5/7225 , A61B5/725
摘要： 本发明提供了一种信号采集电路、信号采集方法及可穿戴设备，涉及集成电路技术领域。本发明通过信号采集电路中的前置放大单元对第一表面肌电信号进行放大，得到第二表面肌电信号，通过信号采集电路中的基线漂移抑制单元提取第二表面肌电信号中的第一低频信号，并对第二表面肌电信号与第一低频信号进行减法处理，得到第一高频信号，通过信号采集电路中的滤波单元对第一高频信号进行滤波，得到目标信号。通过在信号采集电路中增加基线漂移抑制单元，提取第二表面肌电信号中的第一低频信号，对第二表面肌电信号与第一低频信号进行减法处理，从而消除第一低频信号带来的基线漂移，提高目标信号的稳定性。
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公开(公告)号：CN107369694A
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201710765829.4
申请日：2017-08-30
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L21/77 , G09G3/3208 , G09G3/36
摘要： 本发明实施例提供一种阵列基板及其制备方法、驱动方法、显示装置，涉及显示技术领域，解决了在晶体管损坏时，像素处于常暗或常亮状态的问题。包括栅线和数据线、以及由栅线和数据线限定的像素单元；还包括与栅线交替排列的辅助电极线；每个像素单元包括：第一晶体管、第二晶体管和像素电极；第一晶体管的栅极与驱动像素单元所在行的栅线电连接，第一极与数据线电连接，第二极与像素电极电连接；第二晶体管的栅极与驱动像素单元所在行的辅助电极线电连接，第一极与数据线电连接，第二极与像素电极电连接；在栅线和与其相邻的一条辅助电极线之间设置有第三晶体管，第三晶体管的栅极与数据线电连接，第一极与栅线电连接，第二极与辅助电极线电连接。
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公开(公告)号：CN107425017A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710707163.7
申请日：2017-08-17
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种阵列基板、显示面板及显示装置，包括：衬底基板，位于衬底基板的阵列基板行驱动GOA区域的晶体管；晶体管包括第一栅金属层、第一栅绝缘层、第一有源层、第一源漏金属层和第一保护层，其中，第一源漏金属层用于形成源极、漏极和数据信号线；其中，源极与数据信号线通过第一导电部件连接；第一导电部件在第一栅金属层上的正投影对应的第一栅金属层具有镂空图案。一旦源极与第一栅金属层发生短路，通过移除第一导电部件即可解决短路问题，并且由于第一导电部件在第一栅金属层上的正投影对应的第一栅金属层具有镂空图案，因此在移除第一导电部件的同时不会形成第一源漏金属层与第一栅金属层熔接导致的新短路不良。
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公开(公告)号：CN103033343A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210539745.6
申请日：2012-12-13
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明提供一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置，其中该方法包括：检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；当获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移，由此解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题，从而可加强对彩色滤光片的品质检测。
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公开(公告)号：CN103033343B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201210539745.6
申请日：2012-12-13
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明提供一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置，其中该方法包括：检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化，并生成灰阶变化波形；获取彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量；比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值；当获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时，判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移，由此解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题，从而可加强对彩色滤光片的品质检测。
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公开(公告)号：CN102854195B
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN201210357215.X
申请日：2012-09-21
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明公开了一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，涉及工业检测领域。所述方法包括步骤：捕捉彩色滤光片的图像；对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。所述方法具有以下优势：省略了显微镜读取Mark的步骤，通过图像处理建立坐标系并输出缺陷坐标数据，既减少了设备的工作周期，提高了检测效率，又提高了对缺陷坐标的检测精度。
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公开(公告)号：CN102854195A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210357215.X
申请日：2012-09-21
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明公开了一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，涉及工业检测领域。所述方法包括步骤：捕捉彩色滤光片的图像；对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。所述方法具有以下优势：省略了显微镜读取Mark的步骤，通过图像处理建立坐标系并输出缺陷坐标数据，既减少了设备的工作周期，提高了检测效率，又提高了对缺陷坐标的检测精度。
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