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公开(公告)号:CN108505009B
公开(公告)日:2020-10-23
申请号:CN201810163692.X
申请日:2018-02-27
Applicant: 住友重机械离子科技株式会社
IPC: C23C14/48 , H01L21/265
Abstract: 本发明提供一种离子注入装置。其课题在于提高离子注入装置中的射束能量测定的校正精度。离子注入装置(100)具备:离子源(10),能够输出包含具有与引出电压相应的已知的能量的多价离子的校正用离子束;上游射束线(102),包括质谱分析磁铁(22a)和高能量多级直线加速单元(14);能量分析磁铁(24);射束能量测定装置(200),在能量分析磁铁(24)的下游测定校正用离子束的能量;及校正序列部,制作表示已知的能量与通过射束能量测定装置(200)测定出的校正用离子束的能量之间的对应关系的能量校正表。上游射束线压力在离子注入处理期间被调整为第1压力,在制作能量校正表的期间被调整为高于第1压力的第2压力。
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公开(公告)号:CN108505009A
公开(公告)日:2018-09-07
申请号:CN201810163692.X
申请日:2018-02-27
Applicant: 住友重机械离子科技株式会社
IPC: C23C14/48 , H01L21/265
Abstract: 本发明提供一种离子注入装置。其课题在于提高离子注入装置中的射束能量测定的校正精度。离子注入装置(100)具备:离子源(10),能够输出包含具有与引出电压相应的已知的能量的多价离子的校正用离子束;上游射束线(102),包括质谱分析磁铁(22a)和高能量多级直线加速单元(14);能量分析磁铁(24);射束能量测定装置(200),在能量分析磁铁(24)的下游测定校正用离子束的能量;及校正序列部,制作表示已知的能量与通过射束能量测定装置(200)测定出的校正用离子束的能量之间的对应关系的能量校正表。上游射束线压力在离子注入处理期间被调整为第1压力,在制作能量校正表的期间被调整为高于第1压力的第2压力。
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