光学设备、位置检测设备、显微镜设备以及曝光设备

    公开(公告)号:CN103091840A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201210405108.X

    申请日:2012-10-23

    Inventor: 山口渉 稻秀树

    CPC classification number: G03F9/7069 G02B21/08 H01J37/09 H01J37/22 H01J37/26

    Abstract: 本发明提供了光学设备、位置检测设备、显微镜设备以及曝光设备。该光学设备包括:孔径光阑,包括第一孔和第二孔并且被固定在照明光学系统的光瞳面上,第一孔被配置为将用于照射照明表面的照明条件限定为第一条件,第二孔被配置为将照明条件限定为第二条件;遮光板;以及驱动单元,被配置为在将照明条件设定为第一条件时定位遮光板以使得遮光区域遮蔽从光源通过第二孔延伸到照明表面的第二路径,以及在将照明条件设定为第二条件时定位遮光板以使得遮光区域遮蔽从光源通过第一孔延伸到照明表面的第一路径。

Patent Agency Ranking