隧道结的p-型层的激活
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116195077A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202180064445.4

    申请日:2021-08-11

    Abstract: 制造具有使用金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长的外延隧道结的微尺寸III‑氮化物发光二极管(μLED)的方法,所述外延隧道结包括p+GaN层、InxAlyGazN插入层和n+GaN层,其中μLED具有低的正向电压。所述InxAlyGazN插入层具有比所述GaN层更小的能量带隙,这减小了所述隧道结的耗尽宽度并增加了隧穿概率。所述μLED用从25至10000μm2变化的尺寸制造。发现,所述InxAlyGazN插入层可将在20A/cm2下的正向电压减少至少0.6V。具有n‑型和p‑型InxAlyGazN插入层的隧道结μLED在20A/cm2下具有非常稳定的低的正向电压。在小于1600μm2的尺寸下,所述低的正向电压为小于3.2V。

    含有外延光控制特征的发光二极管

    公开(公告)号:CN118160068A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202280072900.X

    申请日:2022-10-28

    Abstract: 一种当包括有源层时不采用反应离子蚀刻或湿法蚀刻的情况下制造外延光控制特征的方法。外延光控制特征包含在发光器件(如发光二极管)的外延层上集成的光提取或导向结构。该光提取或导向结构使用外延横向过度生长(ELO)技术在外延层上制造。外延光控制特征可以具有许多不同的形状,并且可以用标准加工技术制造,使得它们以类似于标准加工技术的成本高度可制造。

Patent Agency Ranking