微处理器功能验证测试用例的自动生成方法

    公开(公告)号:CN101499105B

    公开(公告)日:2010-08-25

    申请号:CN200910079415.1

    申请日:2009-03-11

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 一种微处理器功能验证测试用例的自动生成方法,本发明采用功能树结构的方法描述测试用例,该功能树结构结构层次比较清晰,各种指令和参数之间的关系也比较清楚,易于采用编程语言进行描述;本发明利用Perl语言自动把功能树结构映射为SystemVerilog语言描述的测试用例,只需根据功能树结构输入相应的指令便可以自动产生测试用例,从而减少了将功能树结构转化为测试用例所花的时间,提高了验证效率,确保产品能够在较短的时间里不带功能缺陷上市;另外,由于本方法可以在现有功能树结构的基础上根据不同产品增加或减少指令或参数,能够适用不同产品的测试用例的自动生成,从而提高了测试用例的可重用性。

    一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法

    公开(公告)号:CN101281481B

    公开(公告)日:2010-06-16

    申请号:CN200810112421.8

    申请日:2008-05-23

    IPC分类号: G06F11/10

    摘要: 一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法,步骤为:(1)从CPU接收K位信息数据;(2)生成与K位信息数据对应的N位校验数据A;(3)将K位信息数据和N位校验数据A存入存储器;(4)从存储器中读出所述K位信息数据,并采用步骤(2)方法重新生成与K位信息数据对应的N位校验数据B;(5)将校验数据A和校验数据B进行异或运算,得到校正子;(6)通过校正子定位信息数据和校验数据A中的错误,若产生一位或两位数据错误,则纠正数据错误并输出正确的数据;若产生三位或可检测的三位以上的数据错误,则提示产生不可纠正错误。该方法纠错能力强、操作简单,可对单粒子效应引起的存储器一位或两位错误进行有效纠检。

    微处理器功能验证测试用例的功能树结构及自动生成方法

    公开(公告)号:CN101499105A

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN200910079415.1

    申请日:2009-03-11

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 一种微处理器功能验证测试用例的功能树结构及自动生成方法,本发明采用功能树结构的方法描述测试用例,该功能树结构结构层次比较清晰,各种指令和参数之间的关系也比较清楚,易于采用编程语言进行描述;本发明利用Perl语言自动把功能树结构映射为SystemVerilog语言描述的测试用例,只需根据功能树结构输入相应的指令便可以自动产生测试用例,从而减少了将功能树结构转化为测试用例所花的时间,提高了验证效率,确保产品能够在较短的时间里不带功能缺陷上市;另外,由于本方法可以在现有功能树结构的基础上根据不同产品增加或减少指令或参数,能够适用不同产品的测试用例的自动生成,从而提高了测试用例的可重用性。

    基于同步冗余线程与编码技术的抗单粒子效应系统及方法

    公开(公告)号:CN101551764A

    公开(公告)日:2009-10-07

    申请号:CN200910078908.3

    申请日:2009-02-27

    IPC分类号: G06F11/00 G06F11/14 G06F9/38

    摘要: 基于同步冗余线程与编码技术的抗单粒子效应系统及方法,通过对纠检错编码的研究和改进,使得该编码技术能够快速检测出寄存器堆中发生的单粒子翻转,同时将处理器同步双线程机制设计为冗余双线程机制,当检测到某线程的寄存器堆发生单粒子翻转时,将通过替换为另一个冗余线程的寄存器堆对应存储单元的数据,纠正发生翻转错误的寄存器数据;通过冗余双线程指令级同步执行结果比较机制,判断出流水线电路是否发生单粒子瞬变错误。当发生该错误时通过设计的冗余线程流水线重启机制,快速消除流水线单粒子瞬变错误。本方法较好的解决了处理器中寄存器堆多位单粒子翻转和流水线单粒子瞬变两种常发生而又难解决的问题。

    基于同步冗余线程与编码技术的抗单粒子效应系统及方法

    公开(公告)号:CN101551764B

    公开(公告)日:2010-11-10

    申请号:CN200910078908.3

    申请日:2009-02-27

    IPC分类号: G06F11/00 G06F11/14 G06F9/38

    摘要: 基于同步冗余线程与编码技术的抗单粒子效应系统及方法,通过对纠检错编码的研究和改进,使得该编码技术能够快速检测出寄存器堆中发生的单粒子翻转,同时将处理器同步双线程机制设计为冗余双线程机制,当检测到某线程的寄存器堆发生单粒子翻转时,将通过替换为另一个冗余线程的寄存器堆对应存储单元的数据,纠正发生翻转错误的寄存器数据;通过冗余双线程指令级同步执行结果比较机制,判断出流水线电路是否发生单粒子瞬变错误。当发生该错误时通过设计的冗余线程流水线重启机制,快速消除流水线单粒子瞬变错误。本方法较好的解决了处理器中寄存器堆多位单粒子翻转和流水线单粒子瞬变两种常发生而又难解决的问题。

    一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法

    公开(公告)号:CN101281481A

    公开(公告)日:2008-10-08

    申请号:CN200810112421.8

    申请日:2008-05-23

    IPC分类号: G06F11/10

    摘要: 一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法,步骤为:(1)从CPU接收K位信息数据;(2)生成与K位信息数据对应的N位校验数据A;(3)将K位信息数据和N位校验数据A存入存储器;(4)从存储器中读出所述K位信息数据,并采用步骤(2)方法重新生成与K位信息数据对应的N位校验数据B;(5)将校验数据A和校验数据B进行异或运算,得到校正子;(6)通过校正子定位信息数据和校验数据A中的错误,若产生一位或两位数据错误,则纠正数据错误并输出正确的数据;若产生三位或可检测的三位以上的数据错误,则提示产生不可纠正错误。该方法纠错能力强、操作简单,可对单粒子效应引起的存储器一位或两位错误进行有效纠检。

    基于断言的存储器控制器接口时序参数化验证系统

    公开(公告)号:CN106847344B

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201611194032.5

    申请日:2016-12-21

    IPC分类号: G11C29/56

    摘要: 基于断言的存储器控制器接口时序参数化验证系统,涉及集成电路验证技术领域;其中,配置单元:将配置参数传输至断言文件库;控制单元:将控制参数传输至断言文件库;断言文件库:根据配置参数和控制参数的数值选择验证所需的断言文件;验证所需的断言文件:对接口信号时序和接口信号时序要求进行匹配,生成匹配信息,传输至检测单元;待验证存储器控制器:将接口信号时序传输至验证所需的断言文件;根据失败匹配信息对接口信号时序进行修改;检测单元:当检测到匹配失败信号时,将失败匹配信息传输至待验证存储器控制器;本发明提供基于断言的存储器控制器接口时序参数化验证系统,能够大量节省验证时间,降低工作难度,并提高验证的准确性。

    SoC芯片激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法及系统

    公开(公告)号:CN109581185A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811368446.4

    申请日:2018-11-16

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明提供了SoC激光模拟单粒子辐照检测及故障定位方法及系统:(1)对待测芯片测试区域镂空处理;(2)若进行动态测试,选择某一模块的功能测试程序,开始功能测试,将测试结果输出;(3)若进行静态测试,则PLL时钟旁路,且停止时钟信号输入,通过电流变化检测电路状态;(4)若进行复位状态测试,则将复位管脚接低,通过复位电路使SoC芯片持续处于复位状态,通过观察电流变化及锁相环频率波形检测电路状态。本发明避免了激光光斑较大对非测试区域产生的影响,提高SoC芯片测试全面性与准确性。

    一种虚拟时钟同步的高效高覆盖率SoC验证平台

    公开(公告)号:CN108038283A

    公开(公告)日:2018-05-15

    申请号:CN201711234558.6

    申请日:2017-11-30

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 本发明涉及一种虚拟时钟同步的高效高覆盖率SoC验证平台,包括双时钟模块:产生系统所需要的两种时钟信号;待验证模块:执行随机指令,并反馈执行结果;参考模型模块:为系统提供待验证模块的对比结果;初始化模块:提供初始化所需的程序;监视模块:监视待验证模块运行状态;结果对比模块:检查待验证模块执行结果;控制模块:控制整个系统的运行流程;本发明一种SoC随机指令同步测试平台,能够为SoC验证平台中待验证模块中指令和参考模型中指令难以同步的问题提供一种解决方案,大量节省验证时间,降低工作难度,并提高验证的覆盖率。