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公开(公告)号：CN114200167B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202111340881.8
申请日：2021-11-12
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种1553B总线收发器模块专用测试插座，包括探针、基座、测试座、针座、弹簧以及测试盖；基座中心开设有凹槽，测试座容纳于所述凹槽内；测试座为框型结构，中心开设有测试凹槽；测试盖设置于基座上方，测试盖与基座相卡接，测试盖下方设有凸台，通过旋拧测试盖上的锁紧装置，将收发器模块固定在测试凹槽中；针座设置在基座下方，测试座与基座均开设有探针插孔，探针通过针座装配在探针插孔内。本发明操作方便、使用寿命长、便于维护更换。应用于1553B总线收发器模块的批量测试，可以显著提高测试效率。
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公开(公告)号：CN117784666A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311707854.9
申请日：2023-12-12
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G05B19/042 , G01R1/02 , G01R31/317
摘要： 本发明公开了一种预防超温过老炼的FPGA动态老炼装置包括：MCU控制器、上位机、通讯模块、可控制温度调节模块、电源模块、数据回采模块、电流精确控制模块。所述MCU控制模块会根据被老炼器件的老炼需求，通过发出不同的控制命令选择不同的温度调节模式。可控制温度调节模块区分为升温调节模块或者降温调节模块，升温调节模块装配在老炼插座夹具顶盖内侧凹槽中，降温调节模块固定在老炼插座夹具顶盖开孔处，信号和电源线均于顶盖后侧引出,该模块会根据老炼器件进行选择，针对老炼时温度未达到要求，需要升温的情况和针对老炼时温度高于要求条件，需要降温的情况，对箱体内每一老炼工位进行超温预防，为老炼筛选提供可靠的试验条件。
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公开(公告)号：CN116540063A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310315557.3
申请日：2023-03-28
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种以太网接口电路单粒子效应检测系统及方法，在真实的以太网通信环境下，试验人员通过远程终端与上位机系统的配置，按照设定的试验流程和测试模式，进行多场景多向量多轮次的单粒子效应测试。本发明可以通过误码率、丢包率、时延等测试向量的测试统计评估检测以太网接口电路单粒子翻转、单粒子闩锁、单粒子功能中断等各种单粒子效应，实现单粒子效应下标准电路与被测电路的数据对比分析，并可完成高低温、真空等不同环境条件下的试验测试。
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公开(公告)号：CN118625888A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410699784.5
申请日：2024-05-31
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 本发明公开了一种1553B总线接口电路反熔丝烧调电压自动调整系统，包括：主控处理器、反熔丝模块、烧调电压自动调整模块、通讯模块和供电模块。所述主控处理器通过通讯模块接收、解析并执行上位机下发的通讯信息，并返回测试结果给上位机，所述反熔丝模块对1553B总线接口电路进行试写、熔烧和回读操作，所述烧调电压自动调整模块产生可调的熔烧电压以及可调的键值位对比电平，所述通讯模块完成上位机与硬件板卡的命令交互，所述供电模块为整板元器件提供各种不同幅值的电源电压。本发明可用于满足1553B系列总线接口电路不同烧调电压的自动化调整的需求。
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公开(公告)号：CN118101453A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410084730.8
申请日：2024-01-19
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种FPGA动态老炼系统SPI自动下载系统及方法，上位机模块构建老炼器件库，对库中的老炼器件老化向量进行编辑，通过定制上下位机通信协议，打包老化向量和SPI下载各流程的命令包括参数发送，开始老化，工位检测，SPI单工位/自动下载，通过TCP网络通信协议发送给ARM处理器；ARM处理器模块接收到上位机指令代码后解析，并发送给FPGA模块；FPGA模块接收ARM处理器的指令代码与老化向量，老化向量用于为器件提供数字信号，FPGA模块根据指令代码进行SPI时钟程序下载及工位频率回检，使SP I下载模块中已经存放至FLASH中的老炼时钟程序进行时钟配置，数字信号与SPI下载的程序使器件开始工作，并将SP I时钟程序下载及频率回检的结果发送至ARM处理器。
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公开(公告)号：CN117631640A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311414484.X
申请日：2023-10-27
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 四象限探测器专用测试系统，包括激光部分、机械运动部分、软件和控制部分等，控制电路接受控制软件系统指令后分别对激光器、衰减器和步进电机驱动器，通过串联连接电缆实现各个单元的控制和数据信息获取，激光器和光功率计进行通信过程中特征数据和电信号的采集与控制，控制软件系统用于控制多场景测试模式，各硬件模块之间采用USB2.0与RS232接口进行通信。该测试系统及装置用于四象限探测器的性能测试，主要包括四象限探测器对脉冲激光的响应和位置测量的准确性。
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公开(公告)号：CN114200167A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111340881.8
申请日：2021-11-12
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种1553B总线收发器模块专用测试插座，包括探针、基座、测试座、针座、弹簧以及测试盖；基座中心开设有凹槽，测试座容纳于所述凹槽内；测试座为框型结构，中心开设有测试凹槽；测试盖设置于基座上方，测试盖与基座相卡接，测试盖下方设有凸台，通过旋拧测试盖上的锁紧装置，将收发器模块固定在测试凹槽中；针座设置在基座下方，测试座与基座均开设有探针插孔，探针通过针座装配在探针插孔内。本发明操作方便、使用寿命长、便于维护更换。应用于1553B总线收发器模块的批量测试，可以显著提高测试效率。
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