公开(公告)号：CN117579062A

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202311383985.6

申请日：2023-10-24

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 王跃昌 ,  吕世荣 ,  段冲 ,  文硕 ,  崔旭彤 ,  文武 ,  杨立 ,  张佃伟 ,  侯训平 ,  马志远 ,  张秋艳 ,  覃媛媛 ,  张思佳 ,  魏慧婷 ,  张娜娜

IPC: H03L7/099 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3181

Abstract: 本发明公开了一种锁相环自动测试系统及方法，其中，该方法包括：主从一体机、测试仪器和辅助设备；其中，所述测试仪器和所述辅助设备均与所述主从一体机相连接；所述测试仪器和锁相环相连接；所述辅助设备和锁相环相连接；所述主从一体机控制所述测试仪器对锁相环进行测试，所述辅助设备用于在测试时对锁相环提供辅助作用。本发明具备高效率、高可靠性的特点，可实现高频率、超低相噪锁相环芯片的功能参数的批量化、自动化测试。

公开(公告)号：CN119210615A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411132614.5

申请日：2024-08-19

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 吕世荣 ,  王勇 ,  王跃昌 ,  段冲 ,  文硕 ,  崔旭彤 ,  文武 ,  侯训平 ,  张超轩 ,  张秋艳 ,  覃媛媛 ,  张思佳

IPC: H04B17/15 ,  H04B17/29 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明属于射频芯片测试领域，具体涉及一种可编程射频收发芯片自动测试系统，旨在解决现有测试系统无法满足实时配置待测芯片并测试的需求及无法保证射频参数测试的准确性和稳定性的问题。本系统包括：控制器、测试仪器均集成于PXI机箱中；软件控制系统运行于控制器中；射频开关的输入输出端口通过射频线缆分别与测试仪器和测试转接板连接；测试转接板分别连接待测芯片、测试仪器、射频开关阵列；数字继电器阵列分布集成在测试转接板上；数字继电器阵列分别与测试仪器中的继电器驱动器、待测芯片连接；芯片控制模块通过LAN接口与控制器进行控制指令收发。本系统可实时配置待测芯片并测试，并提升射频参数测试的准确性和稳定性。