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公开(公告)号：CN110677021B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201910896616.4
申请日：2019-09-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 本发明涉及一种抗地弹噪声的输出驱动电路，属于半导体集成电路领域。该输出驱动电路通过增加逻辑电路在输出驱动PMOS管和NMOS管的开关转换过程中引入一定的延时避免其同时导通，通过控制不同宽长比的驱动管相继开启实现静态和开关过程中电路具有不同的驱动能力。本发明中的输出驱动电路可以有效的减小地弹噪声，并具有较高的驱动能力。
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公开(公告)号：CN112612264A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011543170.6
申请日：2020-12-22
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明提供了一种CAN总线控制器中串口自测试方法，由于CAN总线控制器中自带一个内部输入比较器，通过对RX0、RX1上的差分信号比较，接收串行数据，常规的测试方法需要外加CAN协议支持的数据帧向量，复杂度大且覆盖率低，本发明通过设置测试寄存器，并利用电路内部结构在测试模式下直接通过比较器将RX0、RX1上的差分信号接收进来,并在电路内部经过组合逻辑运算，在下一个系统时钟的上升沿，将运算结果映射到TXn上输出，由此可以进行串口的自测试。该方法输入测试向量端口外部直接可控，可以准确定位串口接收和发送故障，避免采用大容量复杂测试向量、提高了测试效率，同时在不影响电路正常功能的情况下可以开展数据遍历测试。提高了电路的可靠性。
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公开(公告)号：CN109634256B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201811436236.4
申请日：2018-11-28
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明公开了一种通用CAN控制器芯片的板级验证系统，包括至少2个CAN控制器节点和1个CAN总线分析仪，CAN控制器节点之间通过CAN总线相互通信，其中一个CAN控制器节点为待测试节点，其余CAN控制器节点为基准节点，待测试节点包括加载有待验证CAN控制器芯片verilog代码的FPGA，FPGA内部包括CAN控制器模块，用于实现CAN控制器芯片的功能，待测试节点与任意一个基准节点分别作为通信链路的收端和发端，运行收发匹配的CAN控制器测试验证程序，实现节点配置与节点间通信，CAN总线分析仪通过监测CAN总线上的数据帧，验证CAN控制器芯片verilog代码的正确性。本发明灵活可控，通用性强。
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公开(公告)号：CN109634256A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811436236.4
申请日：2018-11-28
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明公开了一种通用CAN控制器芯片的板级验证系统，包括至少2个CAN控制器节点和1个CAN总线分析仪，CAN控制器节点之间通过CAN总线相互通信，其中一个CAN控制器节点为待测试节点，其余CAN控制器节点为基准节点，待测试节点包括加载有待验证CAN控制器芯片verilog代码的FPGA，FPGA内部包括CAN控制器模块，用于实现CAN控制器芯片的功能，待测试节点与任意一个基准节点分别作为通信链路的收端和发端，运行收发匹配的CAN控制器测试验证程序，实现节点配置与节点间通信，CAN总线分析仪通过监测CAN总线上的数据帧，验证CAN控制器芯片verilog代码的正确性。本发明灵活可控，通用性强。
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公开(公告)号：CN108197351A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711329579.6
申请日：2017-12-13
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F17/50
摘要： 本发明提供了一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法，包括如下步骤：(1)、编写相应的单片机仿真模型，用来模拟单片机；(2)、将该单片机仿真模型与待验证集成电路仿真模型相连，形成顶层测试模块；(3)、编写待测集成电路的单片机测试程序，编译生成可烧录至单片机程序存储器的可执行测试程序；(4)、将可执行测试程序转换成*.memh文件形式；(5)、编写仿真验证测试程序，在仿真验证测试程序中，实例化顶层测试模块，通过$readmemh系统函数，把*.memh文件形式的可执行测试程序加载到单片机仿真模型的程序存储器中；(6)、运行仿真验证测试程序，完成受单片机控制的集成电路仿真验证。本发明提高测试程序的复用性，从而提高了芯片的验证效率。
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公开(公告)号：CN108197351B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201711329579.6
申请日：2017-12-13
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G06F30/30 , G06F115/10
摘要： 本发明提供了一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法，包括如下步骤：(1)、编写相应的单片机仿真模型，用来模拟单片机；(2)、将该单片机仿真模型与待验证集成电路仿真模型相连，形成顶层测试模块；(3)、编写待测集成电路的单片机测试程序，编译生成可烧录至单片机程序存储器的可执行测试程序；(4)、将可执行测试程序转换成*.memh文件形式；(5)、编写仿真验证测试程序，在仿真验证测试程序中，实例化顶层测试模块，通过$readmemh系统函数，把*.memh文件形式的可执行测试程序加载到单片机仿真模型的程序存储器中；(6)、运行仿真验证测试程序，完成受单片机控制的集成电路仿真验证。本发明提高测试程序的复用性，从而提高了芯片的验证效率。
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公开(公告)号：CN107732870B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201710771925.X
申请日：2017-08-31
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种应用于开关电源的可配置过温保护电路，包括偏置电路、过温检测模块和修调电路。偏置电路在电源电压作用下，得到一个与电源电压无关的偏置电流输出给过温检测模块。修调电路接收电源电压和外部输入的修调电压，获得修调信号，输出给过温检测模块。过温检测模块接收电源电压和偏置电流，根据修调信号，调整过温检测模块中检测电阻的大小，从而调整过温点；当环境温度超过过温点时，输出给开关电源驱动模块的过温保护信号发生状态翻转，从而关断开关电源电路。电路可根据实际应用环境进行过温点的配置，且过温点配置的精度可设置。本发明能够根据应用环境的需要对过温点进行动态配置，提高了过温保护电路的应用范围和配置精度。
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公开(公告)号：CN106802388B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201611214526.5
申请日：2016-12-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 一种数模混合集成电路的测试模块，属于半导体数模混合集成电路可测性设计领域。在不影响电路基本功能的前提下，在管脚数目有限的情况下，通过增加模式控制单元、输入管脚复用单元、输出管脚复用单元、DAC数据旁路单元，解决现有数模混合集成电路测试设计难度大，测试不够全面的问题，本发明能够以较低的设计复杂度和设计时间代价，提高数模混合集成电路的测试设计的灵活性，实现快递定位故障，保证芯片测试的有效性和完备性。
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公开(公告)号：CN107732870A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201710771925.X
申请日：2017-08-31
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要： 一种应用于开关电源的可配置过温保护电路，包括偏置电路、过温检测模块和修调电路。偏置电路在电源电压作用下，得到一个与电源电压无关的偏置电流输出给过温检测模块。修调电路接收电源电压和外部输入的修调电压，获得修调信号，输出给过温检测模块。过温检测模块接收电源电压和偏置电流，根据修调信号，调整过温检测模块中检测电阻的大小，从而调整过温点；当环境温度超过过温点时，输出给开关电源驱动模块的过温保护信号发生状态翻转，从而关断开关电源电路。电路可根据实际应用环境进行过温点的配置，且过温点配置的精度可设置。本发明能够根据应用环境的需要对过温点进行动态配置，提高了过温保护电路的应用范围和配置精度。
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公开(公告)号：CN106802388A
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201611214526.5
申请日：2016-12-23
申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2856
摘要： 一种数模混合集成电路的测试模块，属于半导体数模混合集成电路可测性设计领域。在不影响电路基本功能的前提下，在管脚数目有限的情况下，通过增加模式控制单元、输入管脚复用单元、输出管脚复用单元、DAC数据旁路单元，解决现有数模混合集成电路测试设计难度大，测试不够全面的问题，本发明能够以较低的设计复杂度和设计时间代价，提高数模混合集成电路的测试设计的灵活性，实现快递定位故障，保证芯片测试的有效性和完备性。
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