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公开(公告)号：CN116521231A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310362519.3
申请日：2023-04-06
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种用于SPARC V8指令集动态仿真验证的参考模型，包括存储单元，指令预处理单元，陷阱处理单元，指令执行单元及寄存器堆。存储单元用于存储指令与数据；指令预处理单元从存储单元中取指令码，将指令码按照SPARC V8指令集的定义进行翻译，提取指令类型、操作数等；陷阱处理单元判断是否进入陷阱，进入陷阱后会改变处理器的工作状态，并进入陷阱处理程序；寄存器堆用于存放指令的执行结果以及处理器的工作状态及控制信息。本发明可实现待测代码与检测器的解耦，极大地降低了验证平台的维护成本，节省了大量的验证时间，提升验证效率。
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公开(公告)号：CN112597087A
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN202011529549.1
申请日：2020-12-22
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F13/40 , G06F1/3234
Abstract: 本发明涉及一种高可靠低功耗数据一致星载处理器互连结构，包含了低功耗管理单元、高可靠管理单元及数据一致性管理单元。其中低功耗管理单元通过低数据翻转算法和多频率域设计等方法实现互连结构的低功耗设计；高可靠管理单元主要利用总线分离传输机制、定时轮询监测机制和错误响应及时处理方法实现数据的可靠传输；数据一致性管理单元通过仲裁、请求重分配、监听过滤和监听缓存等方式实现互连结构多个主设备之间的数据互通，保证数据的一致。
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公开(公告)号：CN108063687B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201711320926.9
申请日：2017-12-12
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种CAN总线网络中故障节点判定方法，当接收错误计数器大于等于错误阈值时，开始计时，如果超过时间阈值，认为该节点的接收能力有问题，极有可能是故障节点；当该节点进入总线关闭状态时，令统计总线关闭状态次数的计数器加1，如果超过次数阈值，认为该节点的发送能力有问题，极有可能是故障节点。如果该节点的接收和发送都存在问题，那么可以判定该节点是故障节点，需要将该控制器关闭。该方法可以准确的找出网络中存在故障的节点，使其不至于一直占据总线、提高通信的效率，同时又监测了该节点处于发送和接收两种状态下的正确度，不至于误判，提高了精确性。
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公开(公告)号：CN108063687A
公开(公告)日：2018-05-22
申请号：CN201711320926.9
申请日：2017-12-12
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
CPC classification number: H04L41/0677 , H04L12/40 , H04L2012/40215
Abstract: 本发明提供了一种CAN总线网络中故障节点判定方法，当接收错误计数器大于等于错误阈值时，开始计时，如果超过时间阈值，认为该节点的接收能力有问题，极有可能是故障节点；当该节点进入总线关闭状态时，令统计总线关闭状态次数的计数器加1，如果超过次数阈值，认为该节点的发送能力有问题，极有可能是故障节点。如果该节点的接收和发送都存在问题，那么可以判定该节点是故障节点，需要将该控制器关闭。该方法可以准确的找出网络中存在故障的节点，使其不至于一直占据总线、提高通信的效率，同时又监测了该节点处于发送和接收两种状态下的正确度，不至于误判，提高了精确性。
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公开(公告)号：CN118377616A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410477287.0
申请日：2024-04-19
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC: G06F9/50 , G06N3/063 , G06N3/0464
Abstract: 本发明属于人工智能应用领域，涉及一种面向卷积神经网络中大尺度运算的编译器内存分配方法，使硬件加速器对大尺度神经网络运算的高效执行。本发明包括一种面向卷积神经网络算子的大尺度输入/输出的特征图切分方法，根据提出的数据存储方案，分析特征图的数据排布和内存空间大小的关系，对特征图进行切图并归约运算。本发明包括一种面向大尺度卷积核的切分及计算方法，将大尺度卷积核计算拆分为硬件支持的经典卷积核大小，同时标记卷积核在特征图的作用域区间，结合卷积核的运算特性进行归约运算。本发明解决了面对不同神经网络的多种算子在大尺度运算下的内存空间分配问题，间接地简化了硬件加速器和算子库的设计，提升了编译器的泛用性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112597087B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202011529549.1
申请日：2020-12-22
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F13/40 , G06F1/3234
Abstract: 本发明涉及一种高可靠低功耗数据一致星载处理器互连结构，包含了低功耗管理单元、高可靠管理单元及数据一致性管理单元。其中低功耗管理单元通过低数据翻转算法和多频率域设计等方法实现互连结构的低功耗设计；高可靠管理单元主要利用总线分离传输机制、定时轮询监测机制和错误响应及时处理方法实现数据的可靠传输；数据一致性管理单元通过仲裁、请求重分配、监听过滤和监听缓存等方式实现互连结构多个主设备之间的数据互通，保证数据的一致。
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公开(公告)号：CN116302097A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211042527.1
申请日：2022-08-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及基于自旋锁的多核处理器共享数据访问设计方法。本发明设计了两个4N位抗辐射加固原子锁寄存器，可以实现两个寄存器原子锁，每个寄存器可以分为高2N位和低2N位两个部分，其中低2N位保存正在申请该寄存器原子锁的处理器核的识别号COREn_ID，高2N位保存当前获取该寄存器原子锁的处理器核的识别号LOCKn_ID。本发明可以减少多核任务调度中访问共享数据的原子操作对软件算法的依赖性，进而减少由于针对原子操作软件算法的恶意攻击而造成的线程执行错误，是一种高安全、高可靠的多核调度原子锁实现方法。
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公开(公告)号：CN115509834A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211144455.1
申请日：2022-09-20
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于JTAG协议的微处理器在线调试系统及调试方法，该系统包括TAP控制器模块、DMA控制器模块、BUS访问模块。TAP控制器模块功能在于提供一个标准的JTAG测试访问接口实现微处理器与外部调试器之间JTAG通信；DMA控制器模块功能在于根据外部调试器发起的调试命令对微处理器发起总线读写命令；BUS访问模块功能在于作为微处理器内部片内总线的Master，根据DMA控制器模块的读写命令对片内总线进行访问并对各总线上的读写信息进行记录。本发明具有传输速率快、时序性好、结构简单等优点，可实现对微处理器的多种调试功能；可实现对AXI总线、AHB总线和APB总线组成的三级片内总线架构微处理器的监听。
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公开(公告)号：CN114416632A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111626869.3
申请日：2021-12-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F15/167
Abstract: 本发明涉及一种基于多总线协议灵活转换的两级缓存互联结构，由复位管理单元、总线协议转换单元、读请求处理单元、写请求处理单元、侦听请求处理单元和可编程仲裁单元组成，每个处理器核都有单独的互联单元来实现与二级缓存的互连通信，可以同时接收各个核发出的请求。复位管理单元可以实现二级缓存在复位后自动刷新功能。总线协议转换单元可以实现处理器核接口与二级缓存接口不同协议之间的转换。读请求处理单元与写请求处理单元分别对读操作和写操作进行分类处理，侦听请求处理单元实现两级缓存之间侦听请求信息的处理。可编程仲裁单元根据不同的仲裁配置实现各个处理器核与二级缓存之间读写及侦听信息的传输。
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公开(公告)号：CN108197351B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201711329579.6
申请日：2017-12-13
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/30 , G06F115/10
Abstract: 本发明提供了一种受单片机控制的集成电路的仿真验证方法，包括如下步骤：(1)、编写相应的单片机仿真模型，用来模拟单片机；(2)、将该单片机仿真模型与待验证集成电路仿真模型相连，形成顶层测试模块；(3)、编写待测集成电路的单片机测试程序，编译生成可烧录至单片机程序存储器的可执行测试程序；(4)、将可执行测试程序转换成*.memh文件形式；(5)、编写仿真验证测试程序，在仿真验证测试程序中，实例化顶层测试模块，通过$readmemh系统函数，把*.memh文件形式的可执行测试程序加载到单片机仿真模型的程序存储器中；(6)、运行仿真验证测试程序，完成受单片机控制的集成电路仿真验证。本发明提高测试程序的复用性，从而提高了芯片的验证效率。
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