基于贝叶斯模型和粒子群优化的软件缺陷预测方法

    公开(公告)号:CN113268434A

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202110772750.0

    申请日:2021-07-08

    Abstract: 本发明提供一种基于贝叶斯模型和粒子群优化的软件缺陷预测方法。软件缺陷预测方法包括:输入源项目数据集;对源项目数据集的每一维特征计算平均值;根据平均值将源项目数据集中的样本划分为大于和小于平均值两部分;使用一阶依赖的贝叶斯模型分别在两部分数据上进行训练;将训练得到的两个子模型共同构建成一个基分类器;将所有基分类器组成初始种群;使用基于Pareto熵的多目标粒子群优化方法对初始种群进行迭代;得到最优组合权重得基分类器组合;输入目标项目数据集;利用基分类器组合在目标项目数据集上进行分类;输出分类的结果。本发明提供的软件缺陷的预测方法,速度快,准确率高。

    一种手机防尘网抗污染能力的评估方法

    公开(公告)号:CN104345094A

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:CN201410612113.7

    申请日:2014-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种对手机防尘网抗污染能力的评估方法,属于工程材料技术领域。所述评估方法首先建立评估方案,通过对待评估手机防尘网进行结构参数和涂层参数分析,建立防尘网参数评估方案,根据待评估样品的具体特性参数,确定实验对比组和实验所需样品数;其次实施污染模拟实验,包括油雾挥发沉积实验和油脂涂覆粘接实验;最后通过声阻检测评定抗污染能力。本评估方法基于污染物沉积原理,针对具体防尘网参数,可以准确有效地建立防尘网抗污染能力的评估体系。

    微区域接触电阻测量系统

    公开(公告)号:CN109738748A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201811554520.1

    申请日:2018-12-19

    Abstract: 本发明提供一种微区域接触电阻测量系统。本发明提供的微区域接触电阻测量系统包括镜头、夹具、转换器、载物台、微动装置、第一电源、电压采集装置、摄像头。该微区域接触电阻测量系统可通过微动装置产生微动条件进行微动实验,还可通过摄像头、镜头、夹具和转换器实现历史接触点的重新定位,使得在进行了其他环境试验后可再次进行微动实验,从而实现了电子连接器各类实验的反复进行,使得实验环境更接近电子连接器的实际使用环境,实验效果更好。

    一种利用亚硫酸溶液测定金镀层孔隙率的方法

    公开(公告)号:CN102914492A

    公开(公告)日:2013-02-06

    申请号:CN201210397811.0

    申请日:2012-10-18

    Abstract: 本发明涉及一种利用亚硫酸溶液测定贵金属镀层孔隙率的方法。镀金触点表面的微孔率是表征镀层质量的重要指标,它表明了镀层对基体防护作用的优劣程度,应作为评判镀层质量的最主要指标。目前国内外贵金属镀层表面出现微孔较多,传统的贵金属镀层孔隙率检测通常采用强酸介质如硫酸或硝酸蒸汽等腐蚀实验来进行检测,这种方法的特点是需要大量腐蚀试剂,腐蚀时间长,而且腐蚀后的贵金属镀层表面覆盖有大量腐蚀生成物,给孔隙率的测试造成困难,容易造成错误判断。为了克服现有的贵金属镀层孔隙率检测方法的不足,本发明提供一种检测方法,本发明采用KMnO4和SO2溶液量比较小,对环境产生的损害小;测试方法简单,迅速,快捷;该方法可以精确的检测出贵金属镀层的微孔率。

    基于贝叶斯模型和粒子群优化的软件缺陷预测方法

    公开(公告)号:CN113268434B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN202110772750.0

    申请日:2021-07-08

    Abstract: 本发明提供一种基于贝叶斯模型和粒子群优化的软件缺陷预测方法。软件缺陷预测方法包括:输入源项目数据集;对源项目数据集的每一维特征计算平均值;根据平均值将源项目数据集中的样本划分为大于和小于平均值两部分;使用一阶依赖的贝叶斯模型分别在两部分数据上进行训练;将训练得到的两个子模型共同构建成一个基分类器;将所有基分类器组成初始种群;使用基于Pareto熵的多目标粒子群优化方法对初始种群进行迭代;得到最优组合权重得基分类器组合;输入目标项目数据集;利用基分类器组合在目标项目数据集上进行分类;输出分类的结果。本发明提供的软件缺陷的预测方法,速度快,准确率高。

    连接器使用寿命的测试方法和测试装置

    公开(公告)号:CN102262046B

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201110101719.0

    申请日:2011-04-22

    Abstract: 本发明公开了连接器使用寿命的测试系统及测试方法,该装置能实现连接器使用寿命及插拔力的测试。其包含机械单元、人机交互单元、运动控制单元、插拔力测试单元。进行插拔测试时,预先通过人机交互单元设定运动参数及控制指令信息,控制单元按照设定信息控制机械单元运转。机械单元在插拔运动中,运动控制单元接受接近开关的反馈检测信号,控制机械单元旋转运动部分;进行插拔力测试时,插拔力测试单元将采样信号输出至人机交互单元进行数据存储、处理和图形显示。应用本发明能够根据测试需要对相关参数自行设定,满足不同连接器的插拔寿命测试需求。

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