公开(公告)号：CN117723578A

公开(公告)日：2024-03-19

申请号：CN202311729922.1

申请日：2023-12-15

申请人： 北京邮电大学

发明人： 张琦 ,  孙梦 ,  秦玉文 ,  饶岚 ,  李元锋 ,  滕云 ,  田清华 ,  田凤 ,  王拥军 ,  岳墨还

IPC分类号： G01N23/223 ,  G06N3/0499 ,  G06N3/084

摘要： 本发明公开一种X射线荧光光谱的元素识别方法、系统、设备及介质，属于X射线荧光光谱识别领域。利用能量色散型X射线荧光光谱仪测试并记录不同参考样品的X射线荧光光谱数据，采用哈尔小波基最大重叠离散小波变换对X射线荧光光谱数据进行预处理，根据预处理后的X射线荧光光谱数据，利用麻雀搜索算法对BP神经网络进行优化和训练，使用训练好的BP神经网络识别X射线荧光光谱的全元素。本发明能够更好地适应全元素的X射线荧光光谱检测，且只经过一步预处理和BP神经网络的识别，即可实现X射线荧光光谱的快速、高精度元素识别。

公开(公告)号：CN117949481A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202211279848.3

申请日：2022-10-19

申请人： 北京安科慧生科技有限公司 ,  北京邮电大学 ,  广东工业大学

发明人： 滕云 ,  张琦 ,  秦玉文 ,  吴福根 ,  刘晓静 ,  韩伟丹 ,  刘小东 ,  刘在原

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/2202

摘要： 本发明提供一种碳化硅中物质含量的测定方法，包括以下步骤：步骤1.去除碳化硅样品中的游离碳并测定游离碳的含量；步骤2.将剩余的碳化硅样品进行压片处理，使用X射线荧光光谱仪测定样品中碳、铁、铝、钙、镁、氧、硅元素的含量；步骤3.依据碳含量计算碳化硅含量；依据铁、铝、钙、镁的含量分别计算三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁的含量；步骤4.依据氧元素的含量与三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁中的氧含量之和的差值计算二氧化硅的含量；步骤5.依据硅元素含量与二氧化硅中的硅含量的差值计算游离硅的含量。本发明碳化硅中物质含量的测定方法，能够简便快速测出碳化硅中的物质含量，且无需使用强酸强碱试剂。

公开(公告)号：CN117949483A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202211279958.X

申请日：2022-10-19

申请人： 北京安科慧生科技有限公司 ,  北京邮电大学 ,  广东工业大学

发明人： 张琦 ,  滕云 ,  秦玉文 ,  吴福根 ,  周剑波 ,  江红 ,  贾少朋 ,  谭志勇 ,  郭利敏

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/2202

摘要： 本发明提供一种三元锂中锂含量的测定方法，其包括以下步骤：步骤1.将三元锂粉末压制成压片样品；步骤2.使用X射线荧光光谱仪测定压片样品中氧、镍、钴、锰的含量；步骤3.依据镍的含量推导出三氧化二镍的含量，依据钴的含量推导出三氧化二钴的含量，依据锰的含量推导出三氧化二锰的含量；步骤4.依据氧元素的含量、三氧化二镍的氧含量、三氧化二钴的氧含量及三氧化二锰的氧含量，推导氧化锂中的氧含量，进而得到氧化锂中的锂含量。本发明能够简便快速测出三元锂中的锂含量。

公开(公告)号：CN114354667A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202210019329.7

申请日：2022-01-10

申请人： 北京邮电大学 ,  广东工业大学

发明人： 张琦 ,  忻向军 ,  史云 ,  秦玉文 ,  田清华 ,  田凤 ,  吴福根 ,  王拥军

IPC分类号： G01N23/223

摘要： 本发明涉及一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法和系统，先对待测试样品进行测试，得到原始谱图，然后根据原始谱图计算待测试样品中各元素的浓度预估值，最后以浓度预估值作为基本参数法的浓度初始值，基于基本参数法进行迭代计算，得到待测试样品中各元素的浓度实际值，进而对基本参数法进行优化，为基本参数法提供更加准确的浓度初始值，在基于基本参数法进行迭代计算时所用计算时间大大减少，提高计算效率，且能解决基体效应中吸收增强效应所带来的负面影响的问题，更加精确可靠的提取待测试样品中各个元素的净强度，从而快速、精确的获得元素定量分析结果。

公开(公告)号：CN114354667B

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202210019329.7

申请日：2022-01-10

申请人： 北京邮电大学 ,  广东工业大学

发明人： 张琦 ,  忻向军 ,  史云 ,  秦玉文 ,  田清华 ,  田凤 ,  吴福根 ,  王拥军

IPC分类号： G01N23/223

摘要： 本发明涉及一种基于X射线荧光光谱的元素定量分析方法和系统，先对待测试样品进行测试，得到原始谱图，然后根据原始谱图计算待测试样品中各元素的浓度预估值，最后以浓度预估值作为基本参数法的浓度初始值，基于基本参数法进行迭代计算，得到待测试样品中各元素的浓度实际值，进而对基本参数法进行优化，为基本参数法提供更加准确的浓度初始值，在基于基本参数法进行迭代计算时所用计算时间大大减少，提高计算效率，且能解决基体效应中吸收增强效应所带来的负面影响的问题，更加精确可靠的提取待测试样品中各个元素的净强度，从而快速、精确的获得元素定量分析结果。

公开(公告)号：CN117761095A

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202311796406.0

申请日：2023-12-25

申请人： 北京邮电大学 ,  广东工业大学

发明人： 张琦 ,  岳墨海 ,  秦玉文 ,  饶岚 ,  吴福根 ,  李元锋 ,  滕云 ,  田清华 ,  田凤 ,  王拥军

IPC分类号： G01N23/223

摘要： 本发明公开一种X射线荧光光谱多能态样本叠加方法及系统，属于光学与光谱学技术领域。该方法首先采用蒙特卡罗方法多次仿真X射线荧光光谱分析过程，得到多级能态光谱图，然后采用极值法确定多级能态光谱图中每一个道址的极大值点，并将所有道址的极大值点拼接成光谱序列，最后利用重要性采样从所述光谱序列中提取重要采样区，在多级能态光谱图中按照重要采样区对应的道址进行采样，获得不同能态的采样光谱，最终拼接成一个完整的光谱图。本发明基于蒙特卡罗方法模拟X射线荧光光谱元素检测法的物理模型，获得能谱的理论数据，通过重要性采样使得多级能态光谱图良好融合，即将局部精确的光谱数据拟合为一个完整的光谱图。

公开(公告)号：CN116337900A

公开(公告)日：2023-06-27

申请号：CN202211659203.2

申请日：2022-12-22

申请人： 北京邮电大学

发明人： 张琦 ,  苌泽远 ,  曹哲伟 ,  赵一 ,  秦玉文 ,  吴福根 ,  滕云 ,  田清华 ,  田凤 ,  王拥军 ,  饶岚

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N23/223

摘要： 本发明一种全聚焦双曲弯晶的X射线单色化方法与装置，该方法首先通过弯晶与光管的位置几何关系，建立匹配模型，根据单色化要求改变采用X射线的入射角度和控制电压，产生最佳的入射X射线强度；利用双曲弯晶衍射X射线管发射的X射线，并把符合布拉格定律的衍射光聚焦到一起，通过双曲弯晶分光方法产生高衍射强度的X射线；采用X射线单色性能评估方法，评估其单色性能。本发明能够大幅提升X射线单色化性能，解决X射线光谱仪轻元素分比率不足、元素检出限不够低的瓶颈问题。