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公开(公告)号：CN118503031A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410588361.6
申请日：2024-05-13
申请人： 北京邮电大学 , 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
IPC分类号： G06F11/263 , G06F11/273 , G06F11/22
摘要： 本发明涉及故障注入技术领域，尤其涉及一种面向功能安全的故障注入方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括：在FPGA中例化待测模块；基于例化模块，利用tcl脚本生成故障注入负载文件，包含lut和reg两部分；对故障注入负载文件进行解析，获得故障注入地址；基于xilinx系统对故障注入地址进行故障注入，完成故障注入操作；收集故障注入结果，计算故障注入覆盖率并生成功能安全报告。对reg和lut进行故障注入，通过将待测设计例化处理，生成负载文件，解析负载文件，获得故障注入地址，通过xilinx提供的sem ip核进行故障注入，完成故障注入，实现高精度故障注入，精确定位故障位置，生成功能安全报告。
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公开(公告)号：CN118061993A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410075987.7
申请日：2024-01-18
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
IPC分类号： B60W30/09 , B60W30/095 , B60W30/18 , B60W60/00
摘要： 本发明涉及自动驾驶技术领域，具体公开一种V2X感知融合的ADAS在逆光场景决策方法和装置，该方法包括：在逆光场景下，获取车载感知目标与路侧感知目标；对所述车载感知目标与路侧感知目标进行运算处理得到本车运行的目标数据；基于所述目标数据，得到本车运行的最优运行策略。本发明中的V2X感知融合的ADAS在逆光场景决策方法，基于V2X技术，实现了车端感知和路侧感知信息融合，获得更加精准可靠的道路信息，确定本车运行的最优运行策略，保证车辆安全行驶。
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公开(公告)号：CN117991016A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410128116.7
申请日：2024-01-30
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
摘要： 本发明涉及电磁抗扰测试技术领域，具体公开一种车规芯片电磁抗扰测试的方法和装置，所述的方法包括以下步骤：生成多路宽带矢量信号；将所述多路宽带矢量信号进行线性放大得到放大信号；利用所述放大信号或经信号补偿标定的放大信号对车规芯片进行电磁抗扰测试。本发明中的车规芯片电磁抗扰测试的方法，通过将多路宽带矢量信号进行线性放大得到放大信号，并利用放大信号或经信号补偿标定的放大信号对车规芯片进行电磁抗扰测试，保证了放大信号或经信号补偿标定的放大信号的线性度，实现了利用宽带信号对车规芯片7进行电磁抗扰测试。
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公开(公告)号：CN117766015A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311611193.X
申请日：2023-11-29
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种双倍速率同步动态随机存储器芯片的测试装置，包括测试板、功能板卡、电源板卡、电流监控板卡、测试座，测试座上具有独立的加热组件，所述加热组件集成监控温度系统，并通过温度监控系统调节被测芯片的实时温度；冷却模组，用于测试板和电源板卡的独立降温控制；本发明通过测试座的加热组件实现对芯片的独立加热，同时在高温条件下，不引入其他元器件进入高温环境，以防止辅助元器件在高温下失效对测试结果产生影响；集成监控温度系统，并通过温度监控系统调节被测芯片的实时温度，保证测试效果，同时避免测试温度过高而破坏测试板的情况发生。
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公开(公告)号：CN116302929A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211661034.6
申请日：2022-12-23
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明涉及故障注入技术领域，具体公开了一种故障动态注入方法及系统，该方法的执行步骤为：S1：用户在PC端上位机选择本次的故障注入的芯片类型；S2：用户在PC端上位机进行故障配置，下达故障注入命令；S3：JTAG协议转换器将故障注入命令转化为标准信号，通过被测芯片的JTAG端口执行故障注入；S4：被测芯片加载内部测试指令，在调试状态下开始故障注入；S5：PC端上位机对故障注入结果进行采集、显示和分析。在该方法中，通过借助JTAG接口来完成不同芯片的故障注入，整个故障注入在被测芯片处于调试状态下进行，故障注入完成后被测芯片会恢复到原来的运行状态，因此避免了对系统源代码的依赖性，不会引起其他故障，不会影响到被测芯片的软硬件。
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公开(公告)号：CN116298787A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310158751.5
申请日：2023-02-14
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明涉及车规芯片技术领域，具体公开了一种车规级芯片的动态功耗的测试系统及方法，该测试系统包括：测试软件、运行软件、被测芯片、高速ADC、高速运放、芯片供电电源和晶振；所述高速运放、高速ADC、测试软件依次连接；所述被测芯片安装在运行软件上，所述被测芯片的运行工作模式有N种，所述运行软件上设置有电源域；所述晶振与运行软件连接；所述芯片供电电源与电源域连接。通过该测试系统，能够对被测芯片的每种工作模式运行产生的功耗进行计算，计算出被测芯片的总功耗，并调整测试系统的运行频率与被测芯片一致，减小测试误差，提高测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN116230065A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310108602.8
申请日：2023-02-14
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
摘要： 本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种安全芯片嵌入式非易失性存储器擦写寿命测试方法、存储介质以及计算机，所述方法包括明文数据，将明文数据发送给芯片端，所述芯片端对明文数据进行算法加密得到密文数据，且密文数据不符合预期的数据组合；通过开发测试程序，在测试程序中加入解密密钥，通过解密算法将密文数据还原成预期的明文数据得到符合预期的数据组合；将测试数据写入非易失性存储器中，使用符合预期的测试数据并进行擦写寿命测试评估；本发明针对目前安全芯片在应用模式下，实现对非易失性存储器擦写寿命评估的方法，可实现使用预期的数据组合对非易失性存储器寿命进行测试评估。
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公开(公告)号：CN118486359A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410590432.6
申请日：2024-05-13
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
摘要： 本申请公开了一种闪存存储颗粒并行老化测试装置及方法。该装置可以包括闪存存储颗粒芯片、上位机、多核控制芯片、多个socket模块、电压电流采集单元、电源，其中：上位机、电压电流采集单元与电源分别连接于多核控制芯片；多个socket模块分别并行连接于多核控制芯片；每一个socket模块包括socket单元、驱动电路、温度采集单元，socket单元包括测试座子、加热组件、温度传感器、风扇。本发明在运行高温时，可以循环使用，降低成本，保证加热温度精度高，在多颗粒测试情况下，测试时间短，支持全速运行，稳定性高。
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公开(公告)号：CN118033374A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410144587.7
申请日：2024-02-01
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
摘要： 本发明涉及电磁干扰测试技术领域，具体公开一种面向汽车应用的芯片EMS动态测试方法和装置，所述的方法包括以下步骤：实时监测在车载应用模式下车规芯片的时钟信号和工作状态；基于所述工作时钟和工作状态确定加载电磁干扰信号的加载时机；在所述加载时机对所述车规芯片加载电磁干扰信号；实时监测加载电磁干扰信号的车规芯片的功能状态。本发明中的面向汽车应用的芯片EMS动态测试方法，通过在合适的加载时机对车规芯片加载电磁干扰信号，并实时监测加载电磁干扰信号的车规芯片，可以有效的控制电磁干扰信号加载时机和车规芯片工作状态的关系，实现了车规芯片的动态监测。
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公开(公告)号：CN116185830A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211661035.0
申请日：2022-12-23
申请人： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司
摘要： 本发明涉及故障注入技术领域，具体公开了一种软件故障注入的自动化测试方法及系统，该种测试方法具体操作为：用户先在PC端进行故障配置并下达故障注入命令；故障注入命令以通讯报文形式发送给被测芯片；被测芯片进入接收中断，解析通讯报文，开始执行故障注入；GPIO端口对故障注入响应时间开始计时，PC端采集故障注入过程和结果数据；故障注入完成后，电源重启系统复位。该种方法能够对故障的类别、注入次数、时间等属性进行配置，能够自动化的实现多个故障注入，使得整个故障注入流程灵活，且能够自动计算出每次故障注入的响应时间，提高了故障注入的测试效率，且整个故障注入的过程数据和结果会被统计采集，使得整个测试可视化、可追溯化。
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