公开(公告)号：CN101758422B

公开(公告)日：2011-01-26

申请号：CN200910273170.6

申请日：2009-12-10

Applicant: 华中科技大学 ,  武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 周会成 ,  任清荣 ,  唐小琦 ,  奚长浩 ,  陈吉红 ,  向华 ,  周向东 ,  王平江 ,  叶伯生 ,  邹捷

IPC: B23Q17/00

Abstract: 一种数控装置技术指标的检测分析装置，属于数控装置的测试装置，解决现有数控装置技术指标检测装置对于各类数控装置不通用，以及检测分析的技术指标不全面的问题。本发明包括数据接口、参数设置模块、数据处理模块、模拟反馈模块、分析评价模块、显示模块和测试代码库；数据处理模块对数据接口接收的指令数据进行运算，检测结果输出到分析评价模块和显示模块；参数设置模块设置模拟反馈模块的参数，测试代码库提供各项待测项目标准测试用G代码。本发明利用模拟反馈模块模拟实际伺服驱动、电机和机床特性，计算出相应的反馈数据，排除了实际机电系统不确定性和机床加工性能不一致的影响，能够准确、客观的分析评价数控装置的各项重要技术指标。

公开(公告)号：CN101984376A

公开(公告)日：2011-03-09

申请号：CN201010550163.9

申请日：2010-11-19

Applicant: 华中科技大学 ,  武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 唐小琦 ,  周会成 ,  任清荣 ,  陈吉红 ,  宋宝 ,  汤明 ,  孙东山 ,  奚长浩

IPC: G05B17/00

Abstract: 本发明涉及一种数控机床故障模拟装置，该装置采用现场总线与数控装置相连，内部采用上下位机结构。下位机为采用Linux实时操作系统的工控机，主要负责运行数控机床的PLC逻辑模型，并通过现场总线与数控装置进行数据交换；上位机则采用运行WINDOWS操作系统的PC机，通过通用以太网与下位机相连，主要解决数控机床参数设置、故障设置、故障报警等人机交互工作。本装置主要解决高档数控装置的故障检测功能和能力的试验条件，可以模拟数控机床故障、可编程控制器故障、伺服驱动器和伺服电机故障、主轴驱动器和主轴电机故障。利用该装置模拟数控机床的故障可以用来检测数控装置对数控机床故障的响应、保护、自动修复等能力。

公开(公告)号：CN101984376B

公开(公告)日：2012-09-05

申请号：CN201010550163.9

申请日：2010-11-19

Applicant: 华中科技大学 ,  武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 唐小琦 ,  周会成 ,  任清荣 ,  陈吉红 ,  宋宝 ,  汤明 ,  孙东山 ,  奚长浩

IPC: G05B17/00

Abstract: 本发明涉及一种数控机床故障模拟装置，该装置采用现场总线与数控装置相连，内部采用上下位机结构。下位机为采用Linux实时操作系统的工控机，主要负责运行数控机床的PLC逻辑模型，并通过现场总线与数控装置进行数据交换；上位机则采用运行WINDOWS操作系统的PC机，通过通用以太网与下位机相连，主要解决数控机床参数设置、故障设置、故障报警等人机交互工作。本装置主要解决高档数控装置的故障检测功能和能力的试验条件，可以模拟数控机床故障、可编程控制器故障、伺服驱动器和伺服电机故障、主轴驱动器和主轴电机故障。利用该装置模拟数控机床的故障可以用来检测数控装置对数控机床故障的响应、保护、自动修复等能力。

公开(公告)号：CN101984375A

公开(公告)日：2011-03-09

申请号：CN201010545489.2

申请日：2010-11-16

Applicant: 华中科技大学 ,  武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 唐小琦 ,  周会成 ,  陈吉红 ,  任清荣 ,  宋宝 ,  孙东山 ,  汤明 ,  奚长浩

IPC: G05B17/00

Abstract: 本发明公开了一种数控机床故障模拟方法，主要通过构建机床设置信息表、构建故障设置信息表、构建机床逻辑模型、构建机床伺服模型、嵌入机床故障点、运行机床仿真模型、触发机床故障产生来实现数控机床故障的模拟。该数控机床故障模拟方法主要解决高档数控装置的故障检测功能和能力的试验条件，可以模拟数控机床故障、可编程控制器故障、伺服驱动器和伺服电机故障、主轴驱动器和主轴电机故障。利用该方法模拟的数控机床的故障可以用来检测数控装置对数控机床故障的响应、保护、自动修复等能力。

公开(公告)号：CN101758422A

公开(公告)日：2010-06-30

申请号：CN200910273170.6

申请日：2009-12-10

Applicant: 华中科技大学 ,  武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 周会成 ,  任清荣 ,  唐小琦 ,  奚长浩 ,  陈吉红 ,  向华 ,  周向东 ,  王平江 ,  叶伯生 ,  邹捷

IPC: B23Q17/00

Abstract: 一种数控装置技术指标的检测分析装置，属于数控装置的测试装置，解决现有数控装置技术指标检测装置对于各类数控装置不通用，以及检测分析的技术指标不全面的问题。本发明包括数据接口、参数设置模块、数据处理模块、模拟反馈模块、分析评价模块、显示模块和测试代码库；数据处理模块对数据接口接收的指令数据进行运算，检测结果输出到分析评价模块和显示模块；参数设置模块设置模拟反馈模块的参数，测试代码库提供各项待测项目标准测试用G代码。本发明利用模拟反馈模块模拟实际伺服驱动、电机和机床特性，计算出相应的反馈数据，排除了实际机电系统不确定性和机床加工性能不一致的影响，能够准确、客观的分析评价数控装置的各项重要技术指标。